[發明專利]一種星敏感器鏡頭的抗輻照指標測試方法

有效

• 申請號: 201310267808.1
• 申請日: 2013-06-28
• 公開（公告）號: CN103335663A
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發明（設計）人: 梁珣;于朝霞
• 申請（專利權）人: 上海新躍儀表廠
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 上海信好專利代理事務所(普通合伙) 31249
• 代理人: 張靜潔;包姝晴

1.一種星敏感器鏡頭的抗輻照指標測試方法，其特征在于，包含以下步驟：

步驟1，在標準劑量場中對顯色薄膜劑量計（2）進行劑量刻度標定，通過分光光度計測量輻照劑量與光密度變化值之間的線性關系，從而將光密度轉換為吸收劑量值；

步驟2，將星敏感器鏡頭材料制成一對楔形光學模體（1），其截面為直角三角形，將該對光學模體斜面相對放置，并在兩光學模體（1）斜面之間設置經劑量刻度標定的顯色薄膜劑量計（2）；

步驟3，光學模體（1）深度為其截面直角三角形的直角邊長，顯色薄膜劑量計（2）長度與光學模體（1）的截面直角三角形斜邊長相等，利用直角三角形三邊關系，建立顯色薄膜劑量計（2）長度與光學模體（1）深度之間的正切關系，將劑量沿顯色薄膜劑量計（2）長度的變化轉換為劑量沿光學模體深度的變化，從而得到電子束在光學模體（1）中的深度劑量分布曲線；??

步驟4，使用電子加速器對光學模體（1）輻照至規定的累積劑量，用分光光度計測量顯色薄膜劑量計（2）的光密度變化值，獲得星敏感器鏡頭的劑量分布曲線；

步驟5，測量星敏感器鏡頭厚度，在劑量分布曲線上查詢得到星敏感鏡頭厚度對應的抗輻照指標。

2.如權利要求1所述的星敏感器鏡頭的抗輻照指標測試方法，其特征在于，所述步驟4中電子加速器優選標稱電子能量范圍1～2MeV以垂直入射方式對光學模體（1）進行輻照。