[發明專利]一種用于多層X射線CT系統的數據測量和采集系統

有效

• 申請號: 201310266115.0
• 申請日: 2013-06-28
• 公開（公告）號: CN103622715A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 應崢嶸
• 申請（專利權）人: 蘇州波影醫療技術有限公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 陶海鋒

1.一種用于多層X射線CT系統的數據測量和采集系統，所述X射線CT系統包括至少一個X射線源，其特征在于，所述數據測量和采集系統包括：

(1)用于接收X射線光子并將其轉換成可見光子的多個X射線閃爍體陣列；

(2)用于將所述可見光子轉換成模擬信號的多個光電二極管模塊，所述X射線閃爍體陣列被安裝在所述光電二極管模塊上；

(3)用于將所述模擬信號數字化成為數字信號的與所述光電二極管模塊連接的多個數字化卡；

(4)與所述數字化卡經數字線連接的一個或多個主板，所述主板控制所述數字化卡對所述模擬信號進行采樣和數字化；

(5)用于安裝和固定所述光電二極管模塊、所述數字化卡和所述主板的一弧形支撐結構，其中所述弧形支撐結構的弧聚焦于所述X射線CT系統的一個X射線源，并且每一所述X射線閃爍體陣列被設置聚焦于所述X射線源。

2.根據權利要求1所述的數據測量和采集系統，其特征在于：所述弧形支撐結構的半徑根據多層X射線CT系統的X射線源的聚焦距離而配置；在預先設定的半徑范圍內，至少具有與第一X射線源的聚焦距離相等的第一半徑的第一弧形鑄件，以及與第二X射線源的聚焦距離相等的第二半徑的第二弧形機加工件，第一半徑與第二半徑不相同，第二弧形機加工件是從第一弧形鑄件經機加工而成。

3.根據權利要求1所述的數據測量和采集系統，其特征在于：所述數據測量和采集系統包括反散射板和彎曲的反散射齒形金屬條，所述反散射板經彎曲的反散射齒形金屬條與所述閃爍體陣列固定并對準，所述彎曲的反散射齒形金屬條被固定對準于所述弧形支撐結構上。

4.根據權利要求3所述的數據測量和采集系統，其特征在于：所述彎曲的反散射齒形金屬條由柔性金屬制備，以從旋轉中心指向X射線源的焦點的方向為Y軸，沿Y軸方向設有至少兩根所述彎曲的反散射齒形金屬條，所述反散射板的兩個相對的表面嵌設在該至少兩根所述彎曲的反散射齒形金屬條上的沿Y軸方向對準的槽中；所述彎曲的反散射齒形金屬條與所述弧形支撐結構具有相同的彎曲度，且該組合的彎曲方向和所述槽使得所述反散射板對準所述X射線源。

5.根據權利要求1所述的數據測量和采集系統，其特征在于：所述光電二極管模塊包括組合開關，當開關被使能時，沿Z軸組合光電二極管模塊的元件，當開關被禁用時，模擬信號直接通過；其中，DMAS為第一多層X射線CT系統第一組數字卡準備和配置，并帶有設置在光電二極管模塊上的可以被使能或禁用的組合開關，或者，DMAS為第二多層X射線CT系統的第二組數字卡準備和配置，并帶有設置在光電二極管模塊上的可以被使能或禁用的組合開關；所述第一組數字卡和第二組數字卡的數量不同；所述第一多層X射線CT系統的最大層數和所述第二多層X射線CT系統的最大層數不同。

6.根據權利要求1所述的數據測量和采集系統，其特征在于：所述數據測量和采集系統還包括上彎曲反散射齒形金屬條和下彎曲反散射齒形金屬條；所述弧形支撐結構還包括一用于安裝和固定上彎曲反散射齒形金屬條的上弧形支撐結構，用于安裝和固定下彎曲反散射齒形金屬條的下弧形支撐結構，用于固定所述閃爍器陣列、光電二極管模塊和數字化卡的基座；所述上弧形支撐結構、所述下弧形支撐結構和所述基座相對所述X射線源位置同心布置；所述數據測量和采集系統還包括反散射板，所述反散射板經所述上、下彎曲反散射齒形金屬條上的槽固定并對準所述X射線源位置。

7.根據權利要求6所述的數據測量和采集系統，其特征在于：所述上彎曲反散射齒形金屬條被配置改變為將所述反散射板對準另一個X射線源位置，該位置與所述上弧形支撐結構、所述下弧形支撐結構、和所述基座同心的X射線源位置不同。

8.用于X射線系統的光電二極管模塊，包括多個用于接收X射線光子并將其轉換為可見光子的閃爍器陣列，其特征在于，還包括：

(1)二個或多個高密度連接器；

(2)一個光電二極管陣列；

(3)一支撐基座；

所述光電二極管陣列安裝于所述支撐基座上，所述高密度連接器安裝于所述支撐基座上；由光電二極管陣列產生的模擬信號被傳送至所述高密度連接器。

9.根據權利要求8所述的光電二極管模塊，其特征在于：所述支撐基座還包括一支撐板，所述支撐板安裝于所述支撐基座與安裝光電二極管陣列側面相對的另一側。