[發明專利]一種駐波反射點的檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 201310263344.7
• 申請日: 2013-06-27
• 公開（公告）號: CN104254093A
• 公開（公告）日: 2014-12-31
• 發明（設計）人: 陳長根;王國強;馬興望;苑偉濤;唐雪
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04W24/02
• 分類號: H04W24/02
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 張振偉;王黎延

1.一種駐波反射點的檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

采集基帶信號、所述基帶信號對應射頻信號的發射耦合信號及反射耦合信號；

對采集的所述發射耦合信號、所述反射耦合信號和所述基帶信號進行相關處理，確定所述反射耦合信號的駐波反射點相對于濾波所述射頻信號的輸出端口的往返時間；

根據所述往返時間和當前傳輸介質的相對傳播常數確定所述駐波反射點的位置。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對采集的所述發射耦合信號、所述反射耦合信號和所述基帶信號進行相關處理，確定所述反射耦合信號的駐波反射點相對于濾波所述射頻信號的輸出端口的往返時間，包括：

對所述反射耦合信號和所述發射耦合信號分別與所述基帶信號進行相關，確定所述反射耦合信號相對于所述發射耦合信號的往返時間，并將所述反射耦合信號相對于所述發射耦合信號的往返時間減去兩倍的濾波時延作為駐波反射點相對于濾波所述射頻信號的輸出端口的往返時間。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對采集的所述發射耦合信號、所述反射耦合信號和所述基帶信號進行相關處理，確定所述反射耦合信號的駐波反射點相對于濾波所述射頻信號的輸出端口的往返時間，包括：

對所述反射耦合信號和所述發射耦合信號進行相關，確定所述反射耦合信號相對于所述發射耦合信號的往返時間，并將所述反射耦合信號相對于所述發射耦合信號的往返時間減去兩倍的濾波時延作為所述駐波反射點相對于濾波所述射頻信號的輸出端口的往返時間。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對采集的所述發射耦合信號、所述反射耦合信號和所述基帶信號進行相關處理，確定所述反射耦合信號的駐波反射點相對于濾波所述射頻信號的輸出端口的往返時間，包括：

對所述反射耦合信號和所述基帶信號進行相關，確定所述駐波反射點相對于所述基帶信號的往返時間，將所述駐波反射點相對于所述基帶信號的往返時間減去發射通道時延作為所述駐波反射點相對于濾波所述射頻信號的輸出端口的往返時間。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述反射耦合點位于濾波所述射頻信號的輸出端口時，所述發射通道時延包括射頻處理時延、功率放大時延和濾波時延之和；

所述反射耦合點不在濾波所述射頻信號的輸出端口時，所述發射通道時延包括射頻處理時延、功率放大時延和兩倍的濾波時延之和。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述往返時間和當前傳輸介質的相對傳播常數確定所述駐波反射點的位置，包括：

根據當前傳輸介質的相對傳播常數λ_f確定反射耦合信號在當前傳輸介質中的傳播的速度為λ_f×c，其中，c為光速；

所述駐波反射點的位置d_k＝v×t′_k＝λ_f×c×t′_k，其中，所述駐波反射點相對于濾波所述射頻信號的輸出端口的往返時間為2t′_k。