[發明專利]輸入裝置檢測方法有效
| 申請號: | 201310263292.3 | 申請日: | 2013-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN104252259B | 公開(公告)日: | 2017-04-12 |
| 發明(設計)人: | 吳俊謀 | 申請(專利權)人: | 群嘉精密股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司11240 | 代理人: | 余剛,李靜 |
| 地址: | 中國*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 輸入 裝置 檢測 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種輸入裝置檢測方法,特別是關于一種適用于具有多數條感應線路的輸入裝置檢測方法。
背景技術
輸入裝置例如為觸控面板,人們可通過輸入裝置以與電子裝置互動,其中觸控面板隨著科技的進步,已大量運用在電子裝置上,例如智能型手機、平板電腦、ATM提款機或電腦繪圖板等,因此人們可輕易地觸碰觸控面板而產生輸入信號給電子裝置,藉此提升操作電子裝置的方便性。
然而,為了提升觸控面板此類輸入裝置的觸碰感應能力,觸控面板內的感應線路緊密地分布在一定面積的透明導電薄膜上,如銦錫氧化薄膜(indium?tin?oxide,ITO),或是感應線路緊密地分布在金屬圖案層基板上,其中感應線路交錯且緊密分布,所以輸入裝置的感應線路有可能產生短路缺陷,藉此降低觸控面板此類輸入裝置使用的方便性。
其中,常用的檢測方法例如以逐條檢測方式來檢測,例如檢測兩相鄰兩條感測線路之間是否有短路缺陷,或是一條感測線路與多條感測線路之間是否有短路缺陷,雖然此檢測方法可準確地檢測出短路缺陷,然此檢測方式需耗費許多時間,才能檢測出短路缺陷,藉此降低檢測輸入裝置的效能。
發明內容
本發明在于提供一種輸入裝置檢測方法,以快速檢測出一具有多條第一感應線路與多條第二感應線路的輸入裝置的短路缺陷,藉此提升檢測輸入裝置的品質的效率。
本發明提出一種輸入裝置檢測方法,包括提供一具有多條第一感應線路與多條第二感應線路的輸入裝置;將這些第一感應線路耦接一電源的一第一極,這些第二感應線路耦接電源的一第二極,以判斷這些第一感應線路與這些第二感應線路是否具有短路缺陷;將這些奇數條第一感應線路耦接電源的第一極,這些偶數條第一感應線路耦接電源的第二極,以判斷這些奇數條第一感應線路與這些偶數條第一感應線路是否具有短路缺陷;將這些奇數條第二感應線路耦接電源的第一極,這些偶數條第二感應線路耦接電源的第二極,以判斷這些奇數條第二感應線路與這些偶數條第二感應線路是否具有短路缺陷;以及將一接地線路耦接電源的第一極,這些第一感應線路耦接電源的第二極,以判斷接地線路與這些第一感應線路是否具有短路缺陷,或是將接地線路耦接電源的第一極與這些第二感應線路耦接電源的第二極,以判斷接地線路與這些第二感應線路是否具有短路缺陷。
本發明提出一種輸入裝置檢測方法,包括提供一具有多條第一感應線路與多條第二感應線路的輸入裝置;將這些奇數條第一感應線路耦接一電源的一第一極,這些偶數條第一感應線路、這些第二感應線路與接地線路耦接電源的一第二極,以判斷這些奇數條第一感應線路的短路缺陷;將這些偶數條第一感應線路耦接電源的第一極,這些奇數條第一感應線路、這些第二感應線路與接地線路耦接電源的第二極,以判斷這些偶數條第一感應線路的短路缺陷;將這些奇數條第二感應線路耦接電源的第一極,這些偶數條第二感應線路、這些第一感應線路與接地線路耦接電源的第二極,以判斷這些奇數條第二感應線路的短路缺陷;以及將這些偶數條第二感應線路耦接電源的第一極,這些奇數條第二感應線路、這些第一感應線路與接地線路耦接電源的第二極,以判斷這些偶數條第二感應線路的短路缺陷。
本發明的具體手段為利用一種輸入裝置檢測方法,判斷第一及第二感應線路是否具有短路缺陷,通過檢測耦接陽極的第一感應線路與交錯的耦接陰極的第二感應線路之間的電位差變化來實現。判斷第一感應線路是否具有短路缺陷,通過檢測耦接陽極的奇數條第一感應線路與耦接陰極的偶數條第一感應線路之間的電位差變化來實現。判斷第二感應線路是否具有短路缺陷,通過檢測耦接陽極的奇數條第二感應線路與耦接陰極的偶數條第二感應線路之間的電位差變化來實現。判斷接地線路與第一感應線路(第二感應線路)是否具有短路缺陷,通過檢測耦接陽極的接地線路與耦接陰極的第一感應線路(或第二感應線路)之間的電位差變化來實現,藉此提升檢測輸入裝置的效能。
以上的概述與接下來的實施例,均是為了進一步說明本發明的技術手段與達成效果,然而所敘述的實施例與圖式僅提供參考說明用,并非用來對本發明加以限制。
附圖說明
圖1A-1及圖1A-2為本發明一實施例的輸入裝置檢測方法流程圖。
圖1B為根據圖1A-1及圖1A-2的本發明一實施例的輸入裝置檢測方法流程的另一電路示意圖。
圖1C為根據圖1A-1及圖1A-2的本發明實施例的輸入裝置檢測方法流程的另一電路示意圖。
圖1D為根據圖1A-1及圖1A-2的本發明實施例的輸入裝置檢測方法流程的另一電路示意圖。
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