[發明專利]SAGD水平井遠程監控方法及其裝置無效
| 申請號: | 201310259130.2 | 申請日: | 2013-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN103277088A | 公開(公告)日: | 2013-09-04 |
| 發明(設計)人: | 梁海波;趙金洲;胡紅;張禾;馬欣 | 申請(專利權)人: | 西南石油大學 |
| 主分類號: | E21B47/00 | 分類號: | E21B47/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610500 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | sagd 水平 遠程 監控 方法 及其 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種水平井遠程監控,特別是一種SAGD水平井遠程監控方法及其裝置。
背景技術
目前,隨著世界化石能源需求量的增加,石油開采行業加大了對稠油的開采力度。SAGD(Steam?Assisted?Gravity?Drainage,蒸汽輔助重力泄油)平行水平井原油開采技術是通過注氣井向目的層注入高干度高溫蒸汽,形成蒸汽腔加熱稠油油藏,使原油溫度升高,黏度系數降低,在重力作用下原油被驅向位于目的層底部的生產井,然后連續采出。SAGD平行水平井原油開采工藝對注氣井和生產井兩口井水平段的鉆進提出了較一般單井筒水平井更高的要求:首先,必須保證兩口井井眼軌跡的水平段以一定的井斜角和方位角在目的層中穿行。生產井能夠盡可能的位于油層底部,以保證盡可能多的原油能夠采出;注氣井在油層中所處的位置要保證能夠在注氣階段形成并合理利用蒸汽腔。其次,必須盡可能保證兩口井井眼軌跡的水平段在重力切面上平行,并保持一定的距離。井眼間距在工程技術誤差允許的范圍內,盡可能的保證兩口井井眼軌跡水平段平行的關系;如果距離太近,容易發生汽竄,在蒸汽冷凝后形成蒸汽水錐堵塞生產井;如果距離太遠,蒸汽腔就無法包裹住整個油層和生產井,影響采收率。
但是,針對SAGD平行水平井的鉆井工藝特點,目前國內外還沒有一套將MWD與MGT相配合,運用井斜角、方位角、井深及各自變化量等井眼軌跡參數計算井眼軌跡間距,具有集井眼軌跡監控、井眼防碰預警以及數據融合比對等功能于一體的專門用于SAGD平行水平井井眼軌跡監控的系統。現有的井眼軌跡防碰技術存在不足之處。
現有的SAGD水平井監控系統存在以下的不足之處:
1、現有的SAGD水平井監控系統中,MWD與MGT相對獨立,形成的是分離監控的模式,數據信息分散,系統只能針對鉆井過程的某一方面進行分離監控,破壞了數據信息之間原本存在的相互關系,無法實現對SAGD水平井的“矢量平行”的一體化集中監控,進而不能更好地確保SAGD后期注采過程的有效實施。
2、井眼軌跡間距算法是利用磁通門傳感器與磁場發射源之間的距離及相對位置,在現有監控模式下,MWD與MGT系統雖然能夠在一定程度上對SAGD水平井的鉆進施工進行井斜角、方位角以及井眼間距的測量與監控,但是數據信息分散,監控參數之間相互獨立,信息的應用需要“近似平行”的假設前提。
3、現有監控系統僅僅能對數據的變化趨勢予以監控,未能將靜態數據與實時曲線進行比對核實,對靜態數據的真實性無法辨識,進而無法確保井眼軌跡的真實性。
發明內容
為了克服現有SAGD平行水平井井眼軌跡監控的不足,本發明提供一種SAGD水平井遠程監控方法及其裝置。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:SAGD水平井遠程監控方法,MGT磁源放置在完鉆的生產井的靶位上,將加裝有MGT磁感應傳感器的MWD隨鉆測量器放置在正在鉆進的注氣井中,二者結合,用于測量MGT磁源所產生的磁場大小,同時,用測算得出的井斜角、方位角以及井深變化量測算注氣井與生產井之間的井眼軌跡相對位置并計算井眼軌跡間距;對兩口井的矢量平行進行整體監控。
進一步,本發明提供一種SAGD水平井遠程監控裝置,包括重力加速度計、磁通門和MGT磁源,其特征在于,還包括MWD隨鉆測量器、數據采集器、MGT監控單元和井場監控中心;所述的重力加速度計和磁通門聯接MWD隨鉆測量器,MWD隨鉆測量器通過數據采集器聯接至井場監控中心;所述的MGT磁源通過MGT監控單元聯接至井場監控中心;所述的井場監控中心還聯接有遠程傳輸模塊、監控預警模塊和真偽辨識模塊。
本發明運用MWD和MGT相結合的數據采集手段,采用多源信息融合技術,基于SAGD雙水平井一體化的集中監控模式,運用與之配套的井眼軌跡監控優化算法,形成一套集井眼軌跡監控、預警及靜態數據真偽辨識等功能于一體的SAGD水平井集控系統,對SAGD水平井的井眼軌跡姿態和相對位置關系進行實時監控,確保SAGD水平井軌跡在目的層內的“矢量平行”,進而確保SAGD水平井注采過程的有效實施;同時,SAGD水平井一體化集控模式,將確保軌跡控制參數的真實性,更為真實地反映軌跡形態。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西南石油大學,未經西南石油大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310259130.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:低溫封接玻璃板或真空玻璃
- 下一篇:用于輸出特定單一模式激光的增益光纖





