[發(fā)明專利]用于確定失真降低的磁共振數(shù)據(jù)的方法和磁共振設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310258152.7 | 申請日： | 2013-06-26 |
| 公開（公告）號： | CN103529415A | 公開（公告）日： | 2014-01-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | J.O.布魯姆哈根;S.坎南基爾瑟 | 申請（專利權(quán)）人： | 西門子公司 |
| 主分類號： | G01R33/565 | 分類號： | G01R33/565;A61B5/055 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人： | 謝強 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 確定 失真 降低 磁共振 數(shù)據(jù) 方法 設(shè)備 | ||
1.一種用于在磁共振（MR）設(shè)備（230）的子區(qū)域（51）中對于檢查對象（211）的至少一個層（60-64）確定失真降低的MR數(shù)據(jù)的方法，其中所述子區(qū)域（51）沿著所述MR設(shè)備（230）的徑向方向（B）位于所述MR設(shè)備（230）的視場（52）的邊緣處，該方法包括：
-沿著所述MR設(shè)備（230）的軸向方向（A）在第一位置（11）處定位所述檢查對象（211），
-在所述第一位置（11）處對于所述至少一個層（60-64）采集在所述子區(qū)域（51）中的第一MR數(shù)據(jù)（71），
-沿著所述MR設(shè)備（230）的軸向方向（A）在第二位置（12）處定位所述檢查對象（211），其中所述第二位置（12）與所述第一位置（11）不同，
-在所述第二位置（12）處對于所述至少一個層（60-64）采集在相同的所述子區(qū)域（51）中的第二MR數(shù)據(jù)（72），
-基于所述第一MR數(shù)據(jù)和第二MR數(shù)據(jù)（71,72）對于所述至少一個層（60-64）確定失真降低的MR數(shù)據(jù)（73）。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，在所述第一位置（11）和所述第二位置（12）中，所述MR設(shè)備（230）內(nèi)部分別采集所述至少一個層（60-64）的第一MR數(shù)據(jù)和第二MR數(shù)據(jù)（71,72）的各個地點上的基本磁場的非均勻性（20）的符號是不同的；和/或
其中，在所述第一位置（11）和所述第二位置（12）中，所述MR設(shè)備（230）內(nèi)部分別采集所述至少一個層（60-64）的第一MR數(shù)據(jù)和第二MR數(shù)據(jù)（71,72）的各個地點上的梯度場的非線性（21）的符號是不同的。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在所述第一位置（11）和所述第二位置（12）中，所述MR設(shè)備（230）內(nèi)部分別采集所述至少一個層（60-64）的第一MR數(shù)據(jù)和第二MR數(shù)據(jù)（71,72）的各個地點上的基本磁場的非均勻性（20）的絕對值在容差范圍（15）內(nèi)是相同的，和/或
在所述第一位置（11）和所述第二位置（12）中，所述MR設(shè)備（230）內(nèi)分別采集所述至少一個層（60-64）的第一MR數(shù)據(jù)和第二MR數(shù)據(jù)（71,72）的各個地點上的梯度場的非線性（21）的絕對值在容差范圍（15）內(nèi)是相同的。
4.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，還包括：
-提供數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)將在所述子區(qū)域（51）內(nèi)的基本磁場的非均勻性（20）和/或梯度場的非線性（21）描述為沿著所述軸向方向（A）的位置的函數(shù)，
-根據(jù)所提供的數(shù)據(jù)確定所述第一位置（11）和所述第二位置（12）。
5.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，所述第一MR數(shù)據(jù)（71）的失真特性（V）基本上與所述第二MR數(shù)據(jù)的失真特性（V）抵消。
6.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，在所述第一位置（11）和所述第二位置（12）處利用不同的空間編碼的梯度場分別對于多個層（60-64）采集所述第一MR數(shù)據(jù)和第二MR數(shù)據(jù)（71,72）。
7.根據(jù)權(quán)利要求4和6所述的方法，還包括：
-基于分別對于多個層（60-64）的每個層（60-64）將所提供的數(shù)據(jù)與基本磁場的非均勻性（20）和/或梯度場的非線性（21）的容差范圍（15）相比較來確定多個層（60-64）。
8.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，所述失真降低的MR數(shù)據(jù)（73）的確定包括對所述第一MR數(shù)據(jù)和第二MR數(shù)據(jù)（71,72）加權(quán)求平均值。
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