[發(fā)明專利]一種電阻測(cè)溫量熱計(jì)及其測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310257809.8
• 申請(qǐng)日: 2013-06-26
• 公開（公告）號(hào): CN103308205A
• 公開（公告）日: 2013-09-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張仕忠;李進(jìn)平;俞鴻儒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院力學(xué)研究所
• 主分類號(hào): G01K7/16
• 分類號(hào): G01K7/16;G01K17/00
• 代理公司: 北京和信華成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11390
• 代理人: 王藝

1.一種電阻測(cè)溫量熱計(jì)，包括絕熱管、固定在絕熱管一端的量熱片，以及填充在絕熱管內(nèi)的高分子化合物，其特征在于，所述量熱片朝向絕熱管內(nèi)部的一側(cè)設(shè)置有金屬薄膜，所述金屬薄膜的兩端分別連接有測(cè)量引線。

2.如權(quán)利要求1所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)，其特征在于，所述量熱片為具有高熱導(dǎo)率和高電阻率的材料。

3.如權(quán)利要求1所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)，其特征在于，所述金屬薄膜為貴金屬薄膜。

4.如權(quán)利要求1中所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)，其特征在于，所述金屬薄膜的厚度為10^-8～10^-7m。

5.如權(quán)利要求1中所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)，其特征在于，所述量熱片的厚度為0.15mm-0.2mm。

6.如權(quán)利要求1中所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)，其特征在于，所述金屬薄膜通過濺射的方法鍍?cè)诹繜崞稀?/p>

7.如權(quán)利要求1中所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)，其特征在于，所述金屬薄膜包括中間的矩形結(jié)構(gòu)，以及設(shè)置在兩端的圓弧狀結(jié)構(gòu)，所述測(cè)量引線與所述圓弧狀結(jié)構(gòu)相連。

8.如權(quán)利要求1中所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)，其特征在于，所述金屬薄膜的阻值和溫度呈線性變化。

9.如權(quán)利要求1中所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)，其特征在于，所述高分子化合物為環(huán)氧樹脂，所述金屬薄膜為鉑薄膜，所述量熱片為金剛石片。

10.一種如權(quán)利要求1中所述的電阻測(cè)溫量熱計(jì)的測(cè)量方法，其特征在于，若量熱片背面及側(cè)面絕緣無熱損失，則單位面積量熱片在某一時(shí)間間隔傳入其中的熱量應(yīng)等于量熱片蓄積的熱量，因此得出熱流量的計(jì)算公式：

q·Δt=∑ρcΔT·Δx

上述公式取極限得出：

q=∫01ρc∂T∂tdx]]>

若ρ和c為常數(shù)，則

q=ρc∫01∂T∂tdx=ρcldT‾dt]]>

式中：Δt為單位時(shí)間間隔，ρ為量熱片材料的密度，c為量熱片材料的比熱，ΔT為單位時(shí)間間隔內(nèi)量熱片溫度升高值，Δx是沿量熱片厚度方向x的單位位置量，為量熱片平均溫度，l為量熱片的的厚度；

在此方法中由測(cè)量量熱片背面溫度變化率代替平均溫度變化率，且通過薄膜電阻的阻值變化得出量熱片背面溫度的變化率。