[發明專利]分布式感溫光纖一點校準方法

有效

• 申請號: 201310256911.6
• 申請日: 2013-06-25
• 公開（公告）號: CN103353359A
• 公開（公告）日: 2013-10-16
• 發明（設計）人: 趙祥林;馮曉青;謝少陽;熊曉鋒
• 申請（專利權）人: 廣州市科思通技術有限公司
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00;G01K11/32
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 湯喜友

1.分布式感溫光纖一點校準方法，其應用于分布式感溫光纖測量裝置中，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1、將檢驗光纖與光纖槽的機內光纖連接，檢驗光纖與機內光纖的連接點作為起始點，檢驗光纖的總長度與探測現場的探測光纖的總長度相等；接著將檢驗光纖繞制在一圓柱體上，在常溫下，利用分布式感溫光纖測量裝置測量出檢驗光纖上各點的溫度值，并將檢驗光纖上各點的溫度值按照公式T_外=a1*L1²+k1*L1+b1進行擬合，得到檢驗光纖的溫度曲線，其中，T_外為擬合后檢驗光纖上各點的溫度值，L1為檢驗光纖上各點與起始點的距離值，a1、k1和b1均為檢驗光纖的溫度曲線的系數；然后在檢驗光纖上選取3段抽頭作為探測點，3段抽頭分別記為始端、中點和終端，將3段抽頭置于一恒溫箱內，將恒溫箱內的溫度恒定在一高溫值，所述高溫值的取值范圍為80℃以上，利用熱電偶測量始端、中點和終端的溫度值，并將熱電偶測量得到的始端、中點和終端的溫度值取平均得到一平均值A，利用分布式感溫光纖測量裝置測量始端、中點和終端的溫度值，并將分布式感溫光纖測量裝置測量得到的始端、中點和終端的溫度值取平均得到一平均值B，計算平均值B與平均值A的比值得到系數K2，并將檢驗光纖的溫度曲線修正為T_外=k2*（a1*L1²+k1*L1）+b1，然后將檢驗光纖與光纖槽斷開；

步驟2、于探測現場鋪設探測光纖，將探測光纖與光纖槽的機內光纖連接，探測光纖與機內光纖的連接點作為起始點，于起始點外M米處設置一現場探測點，M>0，并將現場探測點加熱恒溫至一測量溫度，所述測量溫度的取值范圍為80-100℃，接著用熱電偶測量現場探測點的溫度值，利用分布式感溫光纖測量裝置測量現場探測點的溫度值，計算分布式感溫光纖測量裝置測量得到的現場探測點的溫度值與熱電偶測量得到的現場探測點的溫度值的差值eb，得到探測光纖的溫度曲線為T_外=k2*（a1*L1²+k1*L1）+b1+eb，校準完成。

2.如權利要求1所述的分布式感溫光纖一點校準方法，其特征在于，在進行步驟1之前，還有以下步驟：

將機內光纖放入光纖槽內，測量出機內光纖上各點的溫度值，并將機內光纖上各點的溫度值按照公式T_內=a2*L2²+k2*L2+b2進行擬合，得到機內光纖的溫度曲線，其中，光纖槽處于常溫下，T_內為擬合后機內光纖上各點的溫度值，L2為機內光纖各點與其起始端的距離值，a2、k2和b2均為機內光纖的溫度曲線的系數。

3.如權利要求2所述的分布式感溫光纖一點校準方法，其特征在于，所述機內光纖為裸線，并將其盤繞成半徑為10厘米、長為100米的線圈。

4.如權利要求1所述的分布式感溫光纖一點校準方法，其特征在于，M=20。

5.如權利要求1所述的分布式感溫光纖一點校準方法，其特征在于，所述現場探測點為半徑為15厘米、長為3米的線圈。