[發(fā)明專利]太陽光模擬器及光譜調(diào)整方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310256549.2 | 申請日: | 2013-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN104251465A | 公開(公告)日: | 2014-12-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 歐逸青;鄭閔聰;劉智維;趙文平 | 申請(專利權(quán))人: | 樂利士實業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | F21V14/08 | 分類號: | F21V14/08;H02S50/15 |
| 代理公司: | 深圳新創(chuàng)友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀純 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 太陽光 模擬器 光譜 調(diào)整 方法 | ||
1.一種太陽光模擬器,其特征在于,所述太陽光模擬器包括:
光源,用以產(chǎn)生第一光線;
光均勻化組件,設(shè)置于所述第一光線的行進(jìn)路線上,用以將所述第一光線均勻化;以及
N個濾光片,設(shè)置于所述第一光線的所述行進(jìn)路線上,所述N個濾光片中的M個濾光片位于所述光源與所述光均勻化組件之間,N是大于1的正整數(shù),M是小于或等于N的正整數(shù);
其中,所述第一光線通過每一所述M個濾光片的至少部分面積與所述光均勻化組件而產(chǎn)生第二光線,允許所述第一光線通過的每一所述M個濾光片的至少部分面積可被改變,以調(diào)整所述第二光線的光譜與太陽光的光譜的比例。
2.如權(quán)利要求1所述的太陽光模擬器,其特征在于,所述M個濾光片可相對所述光均勻化組件沿垂直所述第一光線的所述行進(jìn)路線的方向移動,以改變允許所述第一光線通過的每一所述M個濾光片的至少部分面積。
3.如權(quán)利要求1所述的太陽光模擬器,其特征在于,所述M個濾光片并排。
4.如權(quán)利要求1所述的太陽光模擬器,其特征在于,所述M個濾光片上下錯開。
5.如權(quán)利要求1所述的太陽光模擬器,其特征在于,所述M個濾光片可移動地設(shè)置于所述光均勻化組件的第一側(cè),其它N-M個濾光片設(shè)置于所述光均勻化組件的第二側(cè),所述第一側(cè)與所述第二側(cè)相對。
6.如權(quán)利要求1所述的太陽光模擬器,其特征在于,所述光均勻化組件包括積分柱。
7.如權(quán)利要求6所述的太陽光模擬器,其特征在于,所述光均勻化組件還包括擴(kuò)散片,設(shè)置于所述M個濾光片與所述積分柱之間。
8.一種光譜調(diào)整方法,其特征在于,所述光譜調(diào)整方法包括:
以光源產(chǎn)生第一光線,其中光均勻化組件以及N個濾光片設(shè)置于所述第一光線的行進(jìn)路線上,所述N個濾光片中的M個濾光片位于所述光源與所述光均勻化組件之間,N是大于1的正整數(shù),M是小于或等于N的正整數(shù);
所述第一光線通過每一所述M個濾光片的至少部分面積與所述光均勻化組件而產(chǎn)生第二光線;以及
改變允許所述第一光線通過的每一所述M個濾光片的至少部分面積,以調(diào)整所述第二光線的光譜與太陽光的光譜的比例。
9.如權(quán)利要求8所述的光譜調(diào)整方法,其特征在于,所述光譜調(diào)整方法還包括:
相對所述光均勻化組件沿垂直所述第一光線的所述行進(jìn)路線的方向移動所述M個濾光片,以改變允許所述第一光線通過的每一所述M個濾光片的至少部分面積。
10.如權(quán)利要求8所述的光譜調(diào)整方法,其特征在于,所述M個濾光片并排。
11.如權(quán)利要求8所述的光譜調(diào)整方法,其特征在于,所述M個濾光片上下錯開。
12.如權(quán)利要求8所述的光譜調(diào)整方法,其特征在于,所述M個濾光片可移動地設(shè)置于所述光均勻化組件的第一側(cè),其它N-M個濾光片設(shè)置于所述光均勻化組件的第二側(cè),所述第一側(cè)與所述第二側(cè)相對。
13.如權(quán)利要求8所述的光譜調(diào)整方法,其特征在于,所述光均勻化組件包括積分柱。
14.如權(quán)利要求13所述的光譜調(diào)整方法,其特征在于,所述光均勻化組件還包括擴(kuò)散片,設(shè)置于所述M個濾光片與所述積分柱之間。
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