[發明專利]重采樣用于串行數據鏈路分析的多個S-參數的方法及裝置

有效

• 申請號: 201310255801.8
• 申請日: 2013-06-25
• 公開（公告）號: CN103514305B
• 公開（公告）日: 2018-06-01
• 發明（設計）人: K.譚;J.J.皮克德
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G06F17/40
• 分類號: G06F17/40
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 方世棟;王忠忠

公開了重采樣用于串行數據鏈路分析的多個S?參數的裝置和方法。所述方法包括：存儲多個S?參數集合，每個S?參數集合與子系統相關聯并且具有關聯的脈沖響應和時間間隔。基于與每個S?參數集合相關聯的時間間隔確定增加的時間間隔。在每個S?參數集合中對所述脈沖響應填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時間間隔。以更精細的頻率分辨率生成多個重采樣的S?參數集合以覆蓋所述增加的時間間隔。

技術領域

本發明一般涉及信號采集和分析系統，并且更特別地，涉及用于重采樣用于串行數據鏈路分析的S-參數的系統、裝置和方法。

背景技術

在高速串行數據鏈路系統中以及在RF系統中，S-參數常常被用于特征系統行為。S-參數一般被用來特征化n-端口網絡。復雜的系統可以由多個子系統組成。每個子系統可以由一個S-參數集合表示。存在組合這些S-參數集合來獲得針對完整系統的S-參數模型的需要。例如，多個S-參數的集合可以被級聯以獲得針對被連接在一起的多個裝置的組合的整體特性。如下是需要的：S-參數數據需要覆蓋所關心的特定的帶寬。如下也是需要的：所述S-參數數據需要具有足夠精細以防止時域中的混疊現象的頻率分辨率。這意味著：所述頻率分辨率需要足夠精細以提供足夠長的時間間隔來覆蓋所述系統的脈沖響應持續時間。盡管所有針對單個子系統的S-參數數據可以具有合適的頻率分辨率，當以級聯的方式將它們組合在一起時，同樣的頻率分辨率可能變得是不適當的。例如，由于較長的傳播時間和多次反射，所述組合的系統可以具有較長的脈沖響應持續時間。存在對改進的針對S-參數數據的重采樣技術的需要，其允許多個S-參數集合的組合而不引入誤差，例如，混疊誤差。

發明內容

公開了重采樣用于串行數據鏈路分析的多個S-參數的方法。所述方法包括存儲多個S-參數集合，每個S-參數集合與子系統相關聯并且具有關聯的脈沖響應和時間間隔。基于與每個S-參數集合相關聯的時間間隔確定增加的時間間隔。在每個S-參數集合中對所述脈沖響應填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時間間隔。用更精細的頻率分辨率生成多個重采樣的S-參數集合以覆蓋所述增加的時間間隔。

每個S-參數集合中的脈沖響應可以基于波紋閾值而在填零位置處被填零。每個S-參數集合中的脈沖響應可以基于與每個S-參數集合相關聯的時間間隔的百分率而在填零位置處被填零。針對不具有DC值的任何S-參數集合，每個S-參數集合可以被外推到DC。所述方法可以進一步包括為所有所述S-參數集合確定最大共同頻率以及將每個S-參數集合外推到超過所述最大共同頻率。

可以使用快速傅里葉逆變換(IFFT)將所述外推的頻域S-參數轉換至時域脈沖響應。可以基于與每個所述S-參數集合相關聯的采樣率而在所述脈沖響應之間確定實際的共同 采樣周期。可以使用快速傅里葉變換(FFT)將所述時域填零的S-參數脈沖轉換至頻域。被外推的較低頻率和高頻率點也可以被削去。

也公開了串行數據鏈路分析裝置。所述裝置包括被配置為存儲多個S-參數集合的存儲器、每個S-參數集合與子系統相關聯并且具有關聯的脈沖響應和時間間隔。所述裝置還包括被配置為基于與每個S-參數集合相關聯的時間間隔來確定增加的時間間隔的處理器。所述處理器還被配置為對每個S-參數集合中的脈沖響應填零以維持任何覆疊的波紋并且增加所述時間間隔以及生成具有更精細的頻率分辨率的多個重采樣的S-參數集合來覆蓋所述增加的時間間隔。

所述處理器可以被配置為基于波紋閾值在填零位置處對每個S-參數集合中的脈沖響應填零。所述處理器可以被配置為基于與每個S-參數集合相關聯的時間間隔的百分率而在填零位置處對每個S-參數集合中的脈沖響應填零。所述處理器可以被配置為針對不具有DC值的任何S-參數集合將每個S-參數集合外推到DC。所述處理器可以被配置為：為所有所述S-參數集合確定最大共同頻率并且將每個S-參數集合外推到超過所述最大共同頻率。