[發(fā)明專利]測量超聲波的聲吸收或衰減

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310254798.8
• 申請日: 2013-06-25
• 公開（公告）號: CN103505243A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 范列湘;P.D.弗雷伯格
• 申請（專利權(quán)）人: 美國西門子醫(yī)療解決公司
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 馬紅梅;劉春元

1.一種用于測量超聲波的聲吸收的方法，所述方法包括：

用換能器來發(fā)射(30)第一聲束；

響應(yīng)于所述第一聲束的所述發(fā)射來接收(32)表示處于參考位置的組織的參考信息；

用所述換能器來發(fā)射(34)在第二中心頻率處的第二聲束；

追蹤(36)由所述第二聲束的所述發(fā)射所引起的從所述參考位置起的第二位移；

用所述換能器來發(fā)射(32)在第三中心頻率處的第三聲束，所述第三中心頻率不同于所述第二中心頻率；

追蹤(36)由所述第三聲束的所述發(fā)射所引起的從所述參考位置起的第三位移；

根據(jù)所述第二和第三位移來計(jì)算(38)所述組織的聲吸收；以及

顯示(40)所述聲吸收。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，接收(32)所述參考信息包括采集表示所述組織的B型數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，發(fā)射(32)所述第二和第三聲束各包括發(fā)射具有比所述第一波束更大功率的聲輻射力。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，發(fā)射(32)所述第二和第三聲束包括用基本上相同的持續(xù)時(shí)間來發(fā)射，所述持續(xù)時(shí)間為至少50微秒。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，追蹤(36)所述第二和第三位移各包括在不同于所述第一和第二中心頻率的追蹤中心頻率處重復(fù)地發(fā)射，并且響應(yīng)于在所述追蹤中心頻率處的所述發(fā)射重復(fù)地接收追蹤信息，以及根據(jù)來自所述追蹤信息的時(shí)間計(jì)算位移，所述第二和第三位移各包括根據(jù)響應(yīng)于所述第二和第三聲束的時(shí)間的所述位移的最大值。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，追蹤(36)所述第二和第三位移包括將所述第二和第三位移標(biāo)識為分別響應(yīng)于所述第二和第三聲束的最大軸向位移。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，計(jì)算(38)所述聲吸收包括計(jì)算(38)衰減。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，計(jì)算(38)所述聲吸收包括根據(jù)所述第二和第三頻率之間的差來計(jì)算(38)所述第二和第三位移以及所述第二和第三位移的導(dǎo)數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其進(jìn)一步包括針對沿著掃描線的其他范圍重復(fù)所述第二和第三位移的所述追蹤(36)，并且其中，計(jì)算(38)包括根據(jù)針對其他范圍的所述第二和第三位移來計(jì)算(38)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其進(jìn)一步包括：

用所述換能器來發(fā)射(32)在第四中心頻率處的第四聲束，所述第四中心頻率不同于所述第二和第三中心頻率；并且

追蹤(36)由所述第四聲束的所述發(fā)射所引起的從所述參考位置起的第四位移；

其中，計(jì)算(38)包括根據(jù)所述第四位移來計(jì)算(38)。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，顯示(40)包括顯示表示所述聲吸收的文本或圖形。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述發(fā)射(30)、接收(32)以及追蹤(36)行為被針對多個(gè)掃描線上的多個(gè)深度來執(zhí)行，其中計(jì)算(38)包括針對所述多個(gè)掃描線上的所述深度中的每一個(gè)來計(jì)算(38)所述聲吸收，并且其中顯示(40)包括顯示(40)表示至少所述聲吸收的二維分布的圖像。

13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其進(jìn)一步包括：

根據(jù)所述聲吸收來適配(42)發(fā)射頻率、線間隔、F數(shù)、脈沖重復(fù)頻率、線采樣計(jì)數(shù)、聲能振幅、聲能脈沖長度或其組合。

14.在一種具有表示指令的存儲在其中的數(shù)據(jù)的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)(22)，所述指令可由可編程處理器(18)執(zhí)行以用于測量超聲波的聲衰減，所述存儲介質(zhì)(22)包括指令以用于：

用響應(yīng)于在不同頻率處的應(yīng)力的超聲波來檢測(28)組織的位移；并且

根據(jù)對在所述同頻率處的所述應(yīng)力作出響應(yīng)的所述位移來計(jì)算(38)聲衰減。

15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)(22)，其中，檢測(28)包括檢測所述組織在所述不同頻率的第一頻率處響應(yīng)于聲輻射力的所述位移的第一個(gè)并且檢測(28)所述組織在所述不同頻率的第二頻率處響應(yīng)于聲輻射力的所述位移的第二個(gè)，所述第二頻率不同于所述第一頻率，并且其中，計(jì)算(38)包括根據(jù)所述第一和第二位移來計(jì)算(38)所述聲衰減。