[發明專利]一種高度計放置臺有效
| 申請號: | 201310254517.9 | 申請日: | 2013-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN103278123A | 公開(公告)日: | 2013-09-04 |
| 發明(設計)人: | 周天毫 | 申請(專利權)人: | 蘇州速騰電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B21/02 | 分類號: | G01B21/02 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市高*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高度計 放置 | ||
技術領域
本發明涉及精密工件檢測裝置,尤其涉及一種高度計放置臺。
背景技術
?在工裝、零件加工行業中,通常需要對加工的工裝零件進行測量,以保證工裝零件產品規格符合標準。常見的測量儀器有高度計、高度規、游標卡尺、外徑千分尺等。有些待測工裝零件結構較簡單,因此測量方法也較易,而有些待測工裝零件因本身結構復雜,測量其精密度的難度也相對增加,有的甚至需要聯合幾個測量儀器進行間接測量。但是,再精密的測量儀器在測量時都可能產生誤差,誤差主要由測量器具、測量方法、測量環境、測量人員等方面因素產生,為了減少測量誤差放置測量儀器的放置臺也需要精心設計。
發明內容
本發明克服了現有技術的不足,提供一種結構簡單、便于測量的高度計放置臺。
為達到上述目的,本發明采用的技術方案為:一種高度計放置臺,其特征在于,其包括支撐腿、第一放置臺和低于所述第一放置臺的第二放置臺,所述第二放置臺的一邊抵靠在所述第一放置臺上,所述第一放置臺設有上放置臺面和下放置臺面,所述上放置臺面與下放置臺面的側邊均設有第一方形孔,所述第二放置臺與所述第一放置臺抵靠的一側邊也設有第二方形孔。
本發明一個較佳實施例中,進一步包括,所述第一方形孔設在所述上放置臺面和下放置臺面側邊的中央。
本發明一個較佳實施例中,進一步包括,所述第二方形孔設在所述第二放置臺與所述第一放置臺抵靠的一側邊的直角處,且所述第二方形孔與所述第一方形孔在同側。
本發明一個較佳實施例中,進一步包括,所述上放置臺面與下放置臺面相互平行且二者的間距為30cm。
本發明一個較佳實施例中,進一步包括,所述支撐腳的數量為6個。
本發明一個較佳實施例中,進一步包括,所述支撐腳下均設有墊腳。
本發明一個較佳實施例中,進一步包括,所述墊腳為半球形。
本發明解決了背景技術中存在的缺陷,本發明具有以下有益效果:采用上述技術方案,該高度計放置臺結構簡單,其外形、高度、尺寸等嚴格按照實際測量需要設計,有利于減少測量誤差,提高檢測精密度;而且該放置臺精妙的設計成高度不一的兩個放置臺,可能放置兩臺高度計,用來同時檢測工裝零件,提高檢測精密度。??
附圖說明
下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。
圖1是本發明的優選實施例的結構示意圖。
其中:1-第一放置臺,2-上放置臺面,3-第一方形孔,4-第二方形孔,5第二放置臺,6-支撐腿,7-墊腳,8-下放置臺面。
具體實施方式
現在結合附圖和實施例對本發明作進一步詳細的說明,這些附圖均為簡化的示意圖,僅以示意方式說明本發明的基本結構,因此其僅顯示與本發明有關的構成。
如圖1所示,本發明提供一種高度計放置臺,其包括六個支撐腿2、第一放置臺1和低于上述第一放置臺1的第二放置臺5,上述第二放置臺的一邊抵靠在上述第一放置臺上,上述第一放置臺1設有上放置臺面2和下放置臺面8,上述上放置臺面2與下放置臺面8的側邊均設有第一方形孔4,上述第二放置臺5與上述第一放置臺1抵靠的一側邊也設有第二方形孔4。
其中,上述第一方形孔3設在上述上放置臺面2和下放置臺面8側邊的中央;上述第二方形孔4設在上述第二放置臺5與上述第一放置臺1抵靠的一側邊的直角處,且上述第二方形孔4與上述第一方形孔4在同側。上述上放置臺面與下放置臺面相互平行且二者的間距為30cm。上述支撐腳下均設有半球形的墊腳,墊腳的半球形的平面與地面接觸,有利于該高度計放置臺更加穩固的放在地面上。
使用時,可以將高度計或者高度規的底座放在下放置臺面上,其測量高度的高度干穿過上、下放置臺面側邊的第一方形孔,將待檢測的工裝零件放置在上放置臺面上;將另一臺高度計放在第二放置臺上,按照實際的待檢測的工裝零件的尺寸調節高度計,即可利用兩臺高度計精確的測量其高度等尺寸。因為該高度計放置臺的特殊設計結構,可以滿足不同的高度計同時在不同的角度測量工裝零件不同角度的尺寸,使得測量結果更加精確,滿足實際生產中的測量要求,提高產品質量和生產效率。
以上依據本發明的理想實施例為啟示,通過上述的說明內容,相關人員完全可以在不偏離本項發明技術思想的范圍內,進行多樣的變更以及修改。本項發明的技術性范圍并不局限于說明書上的內容,必須要根據權利要求范圍來確定技術性范圍。
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