[發明專利]一種測量電纜絕緣厚度和偏心度的方法及相應測量裝置有效
| 申請號: | 201310253659.3 | 申請日: | 2013-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN103292665A | 公開(公告)日: | 2013-09-11 |
| 發明(設計)人: | 陳鳳輝;張靜;馮磊;馬春曉;張克汛;李頤;李玟君;李璇 | 申請(專利權)人: | 國家電網公司;天津市電力公司 |
| 主分類號: | G01B5/06 | 分類號: | G01B5/06;G01B5/252 |
| 代理公司: | 天津盛理知識產權代理有限公司 12209 | 代理人: | 王來佳 |
| 地址: | 100031 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 電纜 絕緣 厚度 偏心 方法 相應 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及電纜絕緣層厚度、內外半導電層厚度以及偏心度檢測領域,尤其是一種測量電纜絕緣厚度和偏心度的方法及相應測量裝置。
背景技術
目前,使用傳統裝置以及測量方法對電纜絕緣層厚度、內外半導電層厚度以及偏心度測量時會出現以下問題:
1、在偏心度測量過程中人工操作較多,導致人為因素引起的測量誤差較大,如人工判斷最小厚度位置,人工手動移動試片,人工估計圓心位置,并手工劃定試片的檢測線(通常為6條線),導致檢測線延長線相互之間有多個交點,從而證明所選取的檢測線并不是通過同一圓心的半徑,導致檢測結果有誤差,降低檢測精確度和檢測效率。而且,僅對試片上劃出的6條檢測線進行測量,造成測量局限性較大,不能測量任意點。
2、使用傳統方法獲得的偏心度測量結果只能表征電纜絕緣層以及內外半導電層的薄厚均勻程度,并不能表征絕緣層以及內外半導電層對圓心的偏離度,所以對于絕緣層以及內外半導電層薄厚均勻但是對圓心有偏離的電纜,傳統的偏心度測量方法是無法檢測出其異常的,從而導致檢測結果不準確,質量有問題的產品流入市場,甚至影響電網運行安全。
3、測量時需要先在試片上手工劃檢測線,然后使用量具對相應檢測線進行測量,在測量過程中需要讀數顯微鏡或放大倍數至少10倍的投影儀作為測量裝置,由于這兩種設備體積大、造價高且不能便攜,因此在抽檢過程中無法攜帶,需依賴供應商的實驗室及檢測設備,無法保證檢測精確度以及效率。
發明內容
本發明的目的在于提供一種操作簡單方便、能夠減少人工操作誤差、縮短測量時間、提高測量結果精度的測量電纜絕緣厚度和偏心度的方法及相應測量裝置。
本發明的目的是通過以下技術手段實現的:
一種測量電纜絕緣厚度和偏心度的方法,其特征在于:其包括以下步驟:
⑴.選取制作待測電纜試片;
⑵.首先將制作好的試片放在便攜式電纜測量裝置的下壓片上,然后插入并旋轉右側三爪傳動控制旋鈕,移動三爪卡盤中的三個活動卡爪確定假定圓心,三個活動卡爪的位置必須為試片邊緣凹下的位置,最后將上壓片蓋在試片上,并擰緊固定;
⑶.拔下右側三爪傳動控制旋鈕,轉動左側控制豎直轉軸的控制手柄,轉軸帶動試片旋轉,根據壓片下標定尺刻度確定試片最薄厚度,旋動游標卡尺的絲杠旋鈕,移動游標卡尺的游標及動端刀片,通過放大鏡輔助,定位測量點(此點為最薄點),分別記錄絕緣層和內外半導電層最薄厚度值;
⑷.轉動左側控制豎直轉軸的手柄,轉軸帶動試片旋轉,除最薄點之外,確定其他任意半徑的測量位置,旋動游標卡尺的絲杠旋鈕,移動游標卡尺的游標以及動端刀片,通過放大鏡輔助,定位第一測量點,記錄絕緣層和內外半導電層與測量半徑的四個交點與假定圓心的距離,由內至外為A1、B1、C1、D1,以此類推,測量其他N-1(N≥5)個半徑對應值(A2-N、B2-N、C2-N、D2-N、E2-N、F2-N)的數值;
⑸.根據公式計算該電纜試片絕緣層厚度:X1-N、內半導電層厚度Y1-N、外半導電層厚度Z1-N,從而根據公式計算絕緣層和內外半導電層的三個偏心度和三個偏離度:
1≤i≤N
1≤i≤N
1≤i≤N
1≤i≤N
1≤i≤N
1≤i≤N。
而且,步驟⑴所述的選取制作待測電纜試片的步驟為:
首先,從絕緣上取出所有護層,抽出導體和隔離層,小心操作以免損壞絕緣,內外半導電層若與絕緣粘連在一起,則不必去掉;
其次,每一試件由一絕緣薄片組成,應用適當的工具沿著與導體軸線相垂直的平面切取薄片,無護套扁平軟線的線芯不應分開。
一種用于權利要求1所述的測量電纜絕緣厚度及偏心度的方法的測量裝置,其特征在于:步驟⑵所述的便攜式電纜測量裝置包括底板、固定罩、游標卡尺部分和齒輪旋轉固定傳動部分,固定罩安裝在底板上。
而且,游標卡尺部分包括主尺、附在主尺上能滑動的游標和標定尺,主尺安裝在固定罩上,底板上安裝一個絲杠,游標的下端嚙合連接在該絲杠上,游標上安裝一個動端刀片,標定尺安裝在固定罩上,該標定尺與主尺平行設置,且標定尺位于動端刀片的前端。
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