[發(fā)明專利]高頻探針卡有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310253453.0 | 申請日: | 2013-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN103543304A | 公開(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張嘉泰;楊惠彬 | 申請(專利權(quán))人: | 旺矽科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073;G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京科龍寰宇知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139 | 代理人: | 孫皓晨;李涵 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高頻 探針 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于一種探針結(jié)構(gòu)的技術(shù),尤其是指一種高頻探針卡。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體芯片進(jìn)行測試時,測試機(jī)必須通過一探針卡(probe?card)接觸待測物(device?under?test,DUT),例如:芯片,并通過信號傳輸以及電性信號分析,以獲得待測物的測試結(jié)果。探針卡通常包含若干個尺寸精密的探針相互排列而成,每一個探針通常會對應(yīng)芯片上特定的電性接點(diǎn),當(dāng)探針接觸待測物上的對應(yīng)電性接點(diǎn)時,可以確實(shí)傳遞來自測試機(jī)的測試信號;同時,配合探針卡及測試機(jī)的控制與分析程序,達(dá)到量測待測物的電性特征的目的。
然而,隨著電子元件愈趨高速、高頻的運(yùn)作條件下,電子元件往往有高標(biāo)準(zhǔn)的電性規(guī)格,如元件運(yùn)作條件、操作頻率與信號傳輸特性等,故電測探針卡在設(shè)計上需著重測試條件、測試頻寬與測試信號傳輸?shù)耐暾浴檫_(dá)到有效傳輸高頻測試信號,所選用的探針卡必須具有與檢測機(jī)及待測電子物件相匹配的阻抗,如此方能準(zhǔn)確地反應(yīng)出通電測試結(jié)果。
現(xiàn)有技術(shù)中,如圖1所示的中國臺灣專利公開號第200829926號所揭露的一種光學(xué)偵測裝置1,其具有一光學(xué)鏡頭10以及一探針卡11。該探針卡11具有一基板110、一中介板111以及一電路板112,該基板110、中介板111以及該電路板112上分別具有相互對應(yīng)的通孔113,以提供該光學(xué)鏡頭10的光學(xué)信號通過。該基板110上具有多個探針114,每一個探針114貫穿該基板110,經(jīng)由該中介板111的通孔,而再度貫穿該電路板112,而與該電路板112的表面相電性連接。然而,在該技術(shù)中,由于電路板112需要額外進(jìn)行加工以產(chǎn)生可以讓探針114貫穿的通孔或開槽,因此會額外增加制作所需程序,進(jìn)而增加制造的成本與困難。
綜合上述,因此亟需一種具有與檢測機(jī)及待測電子物件相匹配的阻抗的高頻探針結(jié)構(gòu)以及制作簡易的高頻探針卡。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一目的在于提供一種高頻探針卡,其是應(yīng)用于測試探針卡,以維持高頻電測信號的阻抗,并且可以達(dá)到高品質(zhì)傳送高頻電測信號的效果,并有效應(yīng)用于芯片電測工程。
本發(fā)明的一目的在提供一種高頻探針卡的鏡頭調(diào)整機(jī)構(gòu),通過一位置調(diào)整機(jī)構(gòu)所具有的螺牙以及鏡頭容置座頂部至少一個調(diào)整槽的設(shè)置,再通過調(diào)整治具來調(diào)整鏡頭容置座的位置,以簡化調(diào)整鏡頭容置座位置的方式。
為了上述目的,本發(fā)明提供一種高頻探針卡,包括:
一至少一基板,每一基板具有至少一第一通孔;
一中介板,其設(shè)置于該至少一基板上,該中介板具有至少一第二通孔分別與該至少一第一通孔相對應(yīng);
一電路板,其設(shè)置于該中介板上,該電路板具有一第三通孔,其與該至少一第一與至少一第二通孔相對應(yīng);以及
至少一個探針模塊,其分別設(shè)置于該至少一第一通孔外圍的該至少一基板上,該至少一探針模塊更包括有:
至少一N型接地探針;
至少一高頻信號針,其貫穿對應(yīng)的該至少一基板與該中介板,經(jīng)由該第三通孔而與該電路板頂面上所具有的高頻信號電性接點(diǎn)相電性連接,每一高頻信號針更包括有:
一N型信號探針;以及
一第一導(dǎo)體,其與該N型信號探針相對應(yīng),該第一導(dǎo)體與該N型接地探針相電性連接,該N型信號探針與該第一導(dǎo)體之間設(shè)置一絕緣層。
所述的高頻探針卡,其更具有一絕緣套筒,其中該第一導(dǎo)體為一導(dǎo)線,該絕緣層包覆于該導(dǎo)線與該N型信號探針相對應(yīng)的表面上,該N型信號探針及該導(dǎo)線套設(shè)于該絕緣套筒中,該導(dǎo)線的一端則與該N型接地探針電性連接,該導(dǎo)線的另一端則與該電路板的頂面上所具有的接地電性接點(diǎn)相電性連接,該絕緣層使該N型信號探針與該第一導(dǎo)體之間保持一絕緣距離,該絕緣距離小于該絕緣套筒的內(nèi)部孔徑,該絕緣距離最小值等于該絕緣層厚度。
所述的高頻探針卡,該至少一探針模塊分別具有一第二導(dǎo)體,該第二導(dǎo)體上對應(yīng)該N型接地探針以及該第一導(dǎo)體的位置分別具有一電性連接點(diǎn),每一電性連接點(diǎn)分別與該N型接地探針以及該第一導(dǎo)體的一端電性連接,每一第一導(dǎo)體的另一端則與該電路板的頂面上所具有的接地電性接點(diǎn)相電性連接。
所述的高頻探針卡,該第二導(dǎo)體具有一第一表面以及與該第一表面相對應(yīng)的一第二表面,每一電性連接點(diǎn)形成于該第一表面上而與對應(yīng)的第一導(dǎo)體的一端相連接,每一N型信號探針的延伸部通過一絕緣結(jié)構(gòu)抵靠于該第二導(dǎo)體的第二表面上,該第一導(dǎo)體的另一端則與該電路板的頂面上所具有的接地電性接點(diǎn)相電性連接,每一N型信號探針具有:
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G01 測量;測試
G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





