[發明專利]四分之一波片相位延遲量的測量裝置和測量方法

有效

• 申請號: 201310250418.3
• 申請日: 2013-06-21
• 公開（公告）號: CN103335821A
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發明（設計）人: 曾愛軍;鄧柏寒;劉龍海;朱玲琳;黃惠杰
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 張澤純

1.一種四分之一波片相位延遲量的測量裝置，其特征在于該裝置由準直光源（1）、圓起偏器（2）、光彈調制器（3）、圓檢偏器（5）、光電探測器（6）、光彈控制器（7）、鎖相放大器（8）和計算機（9）組成，上述元部件的位置關系如下：

沿所述的準直光源（1）出射的光束前進方向依次是所述的圓起偏器（2）、光彈調制器（3）、圓檢偏器（5）和光電探測器（6），在所述的光彈調制器（3）和圓檢偏器（5）之間設有待測波片（4）的插口。所述的光彈控制器（7）的第一輸出端接所述的光彈調制器（3）的控制端，所述的光彈控制器（7）的第二輸出端接所述的鎖相放大器（8）的參考信號輸入端，所述的光電探測器（6）的輸出端接所述的鎖相放大器（8）的信號輸入端，所述的鎖相放大器（8）的信號輸出端通過串口接入所述的計算機（9），該計算機（9）安裝有與所述的鎖相放大器（8）配套的Signaloc2100數據采集程序，該Signaloc2100數據采集程序用于采集鎖相放大器（8）輸出信號的直流分量和二次諧波分量。

2.根據權利要求1所述的四分之一波片相位延遲量的測量裝置，其特征在于所述的圓檢偏器（5）由四分之一波片和線檢偏器組成，四分之一波片的快軸方位角和線檢偏器的透振方向成45°夾角。

3.利用權利要求1所述的四分之一波片相位延遲量的測量裝置測量待測四分之一波片相位延遲量的方法，其特征在于該方法包括下列步驟：

①將待測波片（4）插入所述的光彈調制器（3）和圓檢偏器（5）之間；

②所述的光彈控制器（7）通過輸入面板設定光彈調制器（3）的峰值相位延遲量為2.405rad，所述的光電探測器（6）記錄從圓檢偏器（5）出射的光束光強并轉變為電信號，該電信號輸出至所述的鎖相放大器（8）的信號輸入端，所述的光彈控制器（7）的輸出端與鎖相放大器（8）的參考信號端相連，鎖相放大器（8）的輸出信號包含二次諧波分量V_2f和直流分量V_DC，鎖相放大器（8）的輸出信號通過串口輸入計算機（9）;

③所述的計算機（9）通過Signaloc2100數據采集程序采集所述的鎖相放大器（8）輸出信號的二次諧波分量V_2f和直流分量V_DC，并進行下列計算：

δ=arccos(V2f2VDCJ2(Δ0))]]>

得到待測波片（4）的相位延遲量δ。