[發(fā)明專利]光學(xué)式粒子檢測裝置以及粒子的檢測方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310247288.8 | 申請日: | 2013-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN103512863A | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 衣笠靜一郎 | 申請(專利權(quán))人: | 阿自倍爾株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/53 | 分類號: | G01N21/53;G01N21/64 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務(wù)所 31210 | 代理人: | 肖華 |
| 地址: | 日本東京都千代田*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 粒子 檢測 裝置 以及 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及環(huán)境評價技術(shù),尤其涉及光學(xué)式粒子檢測裝置以及粒子的檢測方法。
背景技術(shù)
在生物凈化室等凈化室中,采用粒子檢測裝置來對飛散的粒子進行檢測和記錄(例如,參照專利文獻1至3以及非專利文獻1。)。可以根據(jù)粒子的檢測結(jié)果掌握凈化室的空調(diào)設(shè)備的劣化情況。又,有時還會將凈化室內(nèi)的粒子的檢測記錄作為參考資料附加在由凈化室所制造的產(chǎn)品上。
光學(xué)式的粒子檢測裝置例如吸引凈化室中的氣體,對所吸引的氣體照射激發(fā)光。如果氣體中包含有粒子的話,被照射激發(fā)光的粒子就會發(fā)出熒光或者自家熒光(以下,將“熒光”以及“自家熒光”都稱為“熒光”。)。粒子所發(fā)出的熒光的波長以及強度取決于粒子的種類。因此,通過觀測粒子所發(fā)出的熒光的波長或者強度,可以確定在凈化室內(nèi)飛散的粒子的種類。
又,光學(xué)式的粒子檢測裝置對通過向粒子照射光而產(chǎn)生的散射光進行分析,從而還可以確定粒子的濃度、大小等。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特表2000-500867號公報
專利文獻2:日本特開2008-32659號公報
專利文獻3:日本特開2011-21948號公報
非專利文獻
【非專利文獻1】長谷川倫男及其他,「氣體中微生物實時檢測技術(shù)及其應(yīng)用」,株式會社山武,azbil?Technical?Review?2009年12月號,p.2-7,2009年
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的課題
關(guān)于粒子檢測裝置,存在有照射粒子的光的波長被變更的情況。因此,本發(fā)明的目的在于提供一種能夠與照射粒子的光的波長的變更對應(yīng)的光學(xué)式粒子檢測裝置以及粒子的檢測方法。
用于解決課題的手段
根據(jù)本發(fā)明的形態(tài),提供一種光學(xué)式粒子檢測裝置,其具有:(a)發(fā)出檢查光的光源;(b)將檢查光轉(zhuǎn)換為平行光的轉(zhuǎn)換單元;(c)朝著焦點對被轉(zhuǎn)換為平行光的檢查光進行反射的聚光反射鏡;(d)對聚光反射鏡的焦點噴射包含粒子的氣流的噴射機構(gòu);以及(e)對氣流所包含的粒子因被照射檢查光而產(chǎn)生的散射光或者熒光進行檢測的光檢測部。
又,根據(jù)本發(fā)明的形態(tài),提供一種粒子的檢測方法,包括以下步驟:(a)發(fā)出檢查光的步驟;(b)通過轉(zhuǎn)換單元將檢查光轉(zhuǎn)換為平行光的步驟;(c)利用具有焦點的聚光反射鏡,朝著焦點對被轉(zhuǎn)換為平行光的檢查光進行反射的步驟;(d)對聚光反射鏡的焦點噴射包含粒子的氣流的步驟;以及(e)對氣流所包含的粒子因被照射檢查光而產(chǎn)生的散射光或者熒光進行檢測的步驟。
發(fā)明的效果
根據(jù)本發(fā)明,可以提供一種能夠與照射粒子的光的波長的變更對應(yīng)的光學(xué)式粒子檢測裝置以及粒子的檢測方法。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的第1實施形態(tài)所涉及的光學(xué)式粒子檢測裝置的示意圖。
圖2是本發(fā)明的第1實施形態(tài)所涉及的光學(xué)式粒子檢測裝置的示意圖。
圖3是本發(fā)明的第2實施形態(tài)所涉及的光學(xué)式粒子檢測裝置的示意圖。
圖4是本發(fā)明的第2實施形態(tài)所涉及的光學(xué)式粒子檢測裝置的示意圖。
具體實施方式
以下對本發(fā)明的實施形態(tài)進行說明。在以下的附圖的記載中,以相同或者類似的符號來表示相同或者類似的部分。但是,附圖是示意性的圖。因此,具體的尺寸等應(yīng)該結(jié)合以下的說明來進行判斷。又,附圖相互之間含有相互的尺寸關(guān)系、比率不同的部分是當(dāng)然的。
(第1實施形態(tài))
如圖1所示,第1實施形態(tài)所涉及的光學(xué)式粒子檢測裝置包括:發(fā)出激發(fā)光作為檢查光的光源1、將激發(fā)光轉(zhuǎn)換為平行光的轉(zhuǎn)換單元21、具有焦點并將被轉(zhuǎn)換為平行光的激發(fā)光朝焦點反射的聚光反射鏡31、對聚光反射鏡31的焦點噴射包含粒子的氣流的噴射機構(gòu)3、對氣流中包含的粒子因被照射激發(fā)光而產(chǎn)生的熒光進行檢測的光檢測部4。在此,粒子包含微生物、無害或者有害的化學(xué)物質(zhì)、灰塵、塵土以及塵埃等垃圾等。
作為光源1,例如可以使用發(fā)光二極管(LED),但不限定于此。光源1所發(fā)出的激發(fā)光可以是可見光,也可以是紫外光。激發(fā)光為可見光的情況下,激發(fā)光的波長在例如400至410nm的范圍內(nèi),例如為405nm。激發(fā)光為紫外光的情況下,激發(fā)光的波長在例如310至380nm的范圍內(nèi),例如為355nm。光源1上連接有對光源1所發(fā)出的激發(fā)光的強度、波長進行設(shè)定的控制器和對光源1供給電源電流的電源裝置。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





