[發(fā)明專利]一種測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310246825.7 | 申請日: | 2013-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN103364285A | 公開(公告)日: | 2013-10-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 謝東;冷永祥;黃楠 | 申請(專利權(quán))人: | 西南交通大學(xué) |
| 主分類號: | G01N3/32 | 分類號: | G01N3/32 |
| 代理公司: | 成都宏順專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李順德;王睿 |
| 地址: | 610031 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測試 薄膜 彎曲 疲勞 壽命 試驗 方法 | ||
1.一種測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法,其特征在于包括以下步驟:
A、選取金屬細(xì)長梁作為基體(101)并在基體(101)表面的不同位置沉積多個待檢測的薄膜(102)作為試樣件(1);
B、利用懸臂梁振動設(shè)備(2)使得試樣件(1)做懸臂梁彎曲振動,振動頻率為f,振動時間為t0,以試樣件(1)的自由端為坐標(biāo)原點建立直角坐標(biāo)系,并且在試樣件(1)振動的過程中通過高速攝像系統(tǒng)記錄試樣件(1)從自由端到固定端每隔△x位置時的振幅y;
C、對獲得的數(shù)據(jù)△x和y進(jìn)行函數(shù)擬合,得到試樣件(1)的振幅分布函數(shù)y(x),x=k△x,其中k為自然常數(shù);然后對振幅分布函數(shù)y(x)再進(jìn)行一階微分y(x)′和二階微分y(x)′′的數(shù)據(jù)處理,并將結(jié)果代入公式得到試樣件(1)做懸臂梁彎曲振動時從自由端到固定端的應(yīng)力幅分布,公式中E表示基體(101)的彈性模量,h表示試樣件(1)的厚度;
D、根據(jù)計算出的應(yīng)力幅分布和每個薄膜(102)中心所在的位置確定該處薄膜(102)所受到的平均應(yīng)力幅值S;
E、觀察基體(101)表面沉積的薄膜(102)否有開裂或剝落,如果薄膜(102)沒有開裂或剝落,則重復(fù)B步驟和E步驟,當(dāng)重復(fù)E步驟操作N次時,發(fā)現(xiàn)某處薄膜(102)有開裂或剝落,則認(rèn)為該處薄膜(102)已經(jīng)失效,該處薄膜(102)的疲勞壽命次數(shù)定義為(N-1)×t0×f,若其它位置處的薄膜(102)還沒有開裂或剝落,則繼續(xù)重復(fù)B步驟和E步驟,直到基體(101)表面沉積的所有薄膜(102)都失效;
G、根據(jù)D步驟和E步驟作所得結(jié)果繪制薄膜S-N曲線。
2.如權(quán)利要求1所述的測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法,其特征在于:所述懸臂梁振動設(shè)備(2)的激振位置位于試樣件(1)的固定端。
3.如權(quán)利要求2所述的測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法,其特征在于:在步驟E中,采用光學(xué)顯微鏡觀察基體(101)表面沉積的薄膜(102)否有開裂或剝落。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任意一項權(quán)利要求所述的測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法,其特征在于:所述基體(101)采用不銹鋼、鈷基合金或者鈦合金制作而成。
5.如權(quán)利要求4所述的測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法,其特征在于:所述基體(101)的長度l為50~200mm,寬度b為5~10mm,厚度h為0.5~1mm。
6.如權(quán)利要求5所述的測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法,其特征在于:所述薄膜(102)的面積小于b×bmm2,其中b為基體(101)的寬度,薄膜(102)的厚度w為5~5000nm。
7.如權(quán)利要求6所述的測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法,其特征在于:在步驟B中,所述試樣件(1)的振動頻率f為1~100Hz,每次振動時間t0為5~60min。
8.如權(quán)利要求7所述的測試薄膜彎曲疲勞壽命的試驗方法,其特征在于:在步驟C中,所述△x的取值為1~3mm。
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