[發(fā)明專利]MIPI接口全高清液晶屏的測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310245655.0
• 申請(qǐng)日: 2013-06-19
• 公開（公告）號(hào): CN103323962A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 成小定
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 無(wú)錫博一光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13;G09G3/36
• 代理公司: 深圳市德力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44265
• 代理人: 林才桂

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種液晶屏測(cè)試方法，尤其涉及一種MIPI接口全高清液晶屏的測(cè)試方法。

背景技術(shù)

液晶顯示器為平面超薄的顯示設(shè)備，它由一定數(shù)量的彩色或黑白像素組成，放置于光源或者反射面前方。液晶顯示器具有薄型化、功耗低、適用面廣等特點(diǎn)，備受工程師青睞。而且，現(xiàn)今液晶屏的發(fā)展以全高清液晶屏為主。

現(xiàn)有中小尺寸的液晶屏最常用的連接模式，一般是MCU模式和RGB模式，MCU模式控制簡(jiǎn)單方便，無(wú)需時(shí)鐘和同步信號(hào)，但要耗費(fèi)GRAM，難以做到大屏幕，常用于顯示靜止圖像；RGB模式無(wú)需GRAM，傳輸速度較快，但操作復(fù)雜，需要時(shí)鐘及同步信號(hào)控制，常用于顯示視頻或動(dòng)畫。但這兩種模式均采用EPGA的電路設(shè)計(jì)，EPGA編輯能力差，無(wú)法完成復(fù)雜的設(shè)計(jì)，而且EPGA的電路復(fù)雜，耗能高，信號(hào)傳輸速度慢，還容易受到干擾。而且，隨著3G智能手機(jī)的快速發(fā)展，上述兩種模式難于滿足客戶對(duì)移動(dòng)設(shè)備的智能化要求，如快速的數(shù)據(jù)傳輸速度、高分辨率、小巧精密、及節(jié)能等。

針對(duì)上述問題，國(guó)家專利局公開了申請(qǐng)?zhí)枮?01210059828.5的發(fā)明專利申請(qǐng)，該專利提供了一種MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，該方法采用以S3C2440芯片為主的測(cè)試模塊執(zhí)行測(cè)試程序來(lái)驅(qū)動(dòng)液晶屏，并采用以SSD2805芯片為的MIPI模塊將RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)，進(jìn)而傳遞給液晶屏顯示，完成測(cè)試，該方法傳輸速度高、抗干擾能力強(qiáng)。然，本領(lǐng)域技術(shù)人員可知該方法采用S3C2440芯片和SSD2805芯片能夠很好地滿足高清液晶屏（最高支持的分辨率為QHD分辨率（540×960）的測(cè)試，難于滿足現(xiàn)今主流的全高清液晶屏（分辨率為1920×1080）的測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種MIPI接口全高清液晶屏的測(cè)試方法，該方法可以快速測(cè)試全高清液晶屏，簡(jiǎn)化了全高清液晶屏的生產(chǎn)工序，提高生產(chǎn)效率，且該方法具有信號(hào)傳輸速度快、抗干擾能力強(qiáng)及能耗低等特點(diǎn)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種MIPI接口全高清液晶屏的測(cè)試方法，包括以下步驟：

步驟1、提供全高清液晶屏測(cè)試治具，該全高清液晶屏測(cè)試治具包括：測(cè)試模塊、與該測(cè)試模塊電性連接的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、及與該測(cè)試模塊電性連接的MIPI模塊，所述測(cè)試模塊包括微處理器及與該微處理器電性連接的存儲(chǔ)模塊，該存儲(chǔ)模塊預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述MIPI模塊包括液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊，該液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊均電性連接至所述微處理器，所述測(cè)試模塊采用EP2C5Q208C8N芯片，所述MIPI模塊采用SSD2825芯片；

步驟2、提供一待測(cè)液晶屏，將該待測(cè)液晶屏與背光源驅(qū)動(dòng)模塊及MIPI模塊電性連接；

步驟3、接通該全高清液晶屏測(cè)試治具的電源，該微處理器運(yùn)行測(cè)試程序并對(duì)電性連接于該微處理器的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行檢測(cè)；

步驟4、若該微處理器檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊或信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊異常，則發(fā)出報(bào)警提示，若該微處理器檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊無(wú)異常，則對(duì)背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行初始化；

步驟5、所述微處理器控制背光源驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)待測(cè)液晶屏的背光源工作，液晶驅(qū)動(dòng)模塊初始化該待測(cè)液晶屏；

步驟6、所述微處理器下發(fā)RGB信號(hào)至信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊將該RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)并傳輸給待測(cè)液晶屏，該待測(cè)液晶屏根據(jù)該MIPI信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)圖像；

步驟7、根據(jù)圖像判斷該待測(cè)液晶屏是否合格。

所述全高清液晶屏測(cè)試治具設(shè)有一USB接口，該USB接口與所述存儲(chǔ)模塊電性連接，所述測(cè)試程序通過該USB接口燒錄到測(cè)試模塊的存儲(chǔ)模塊中。

所述全高清液晶屏測(cè)試治具還包括一接口模塊，所述接口模塊分別與背光源驅(qū)動(dòng)模塊、及MIPI模塊電性連接，測(cè)試時(shí)，所述待測(cè)液晶屏安裝及電性連接于該接口模塊。

所述全高清液晶屏測(cè)試治具還包括一與所述微處理器電性連接的蜂鳴器，所述步驟4中的報(bào)警提示為該蜂鳴器發(fā)出的報(bào)警提示音。

所述MIPI模塊與待測(cè)液晶屏之間采用1至4通道通信。

所述步驟6的MIPI信號(hào)傳輸?shù)姆绞綖槌蓪?duì)走線的方式；所述步驟6中待測(cè)液晶屏根據(jù)MIPI信號(hào)依次顯示黑、白、紅、綠、藍(lán)、灰階、彩色圖像。

所述步驟7為判斷圖像是否異常，無(wú)異常，則該待測(cè)液晶屏為合格；異常，則該待測(cè)液晶屏為不合格。