[發明專利]分光光度計高吸光度測量方法有效
| 申請號: | 201310245247.5 | 申請日: | 2013-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN103335965A | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發明(設計)人: | 俞霆;隨東麗;卞濱 | 申請(專利權)人: | 上海天美科學儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務所 31263 | 代理人: | 張堅 |
| 地址: | 201612 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分光 光度計 光度 測量方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種分光光度計高吸光度測量方法。
背景技術
分光光度法是通過測定被測物質在特定波長處或一定波長范圍內光的吸收度,從而對該物質進行定性和定量分析。分光光度計采用具有連續波長的光源,通過一系列分光裝置,從而產生特定波長的單色光源,單色光透過測試的樣品后,有部分光被樣品吸收,計算樣品的吸光值,從而轉化成樣品的濃度。樣品的吸光值與樣品的濃度成正比。
樣品對光的吸光度等于樣品透射光強度比入射光強度的對數。高濃度樣品的吸光度通常在2A以上,即樣品透射光強度為入射光強度的1%以下。在對高濃度樣品的吸光度進行測量時,由于用于檢測的器件量程動態范圍有限,以及檢測器、放大器本身存在噪聲,使得檢出的信號量與噪聲相當,從而容易造成測量誤差。
發明內容
為此,本發明所要解決的技術問題是提供一種能提高測量準確性的分光光度計高吸光度測量方法,以克服現有技術存在的不足。
為解決上述技術問題,本發明采用如下的技術方案:
一種分光光度計高吸光度測量方法,具體步驟包括:
步驟1:使用脈沖燈作為光源,檢測電路為積分保持采樣電路,監測電路用來測量監測光強度,在不放置樣品時,燈先閃爍一次,測量燈的監測光強度及透射光強度,計算入射光強度與監測光強度的比例數值K;
步驟2:將樣品放入,燈閃爍一次,測量入射光強度和透射光強度,并計算樣品的吸光度;
步驟3:當步驟2的樣品吸光度超過1.6A時,將測量積分器的積分時間延長至原來的N倍,連續將燈閃爍N次,N大于1,測量N次的監測光強度I監,燈N次閃爍后測量一次透射光強度I樣;
步驟4:根據公式
計算樣品的吸光度。
進一步地,所述步驟3的N為10。
上述脈沖燈為脈沖疝燈,使用脈沖氙燈作為入射光源,檢測電路用來檢測入射光透過樣品后的透射光強度,檢測電路通常都是積分保持采樣電路。由于氙燈每次閃爍的能量會有變化,通常在儀器中都設立了監測電路,監測電路用來測量監測光的強度。
監測光強度I監始終和入射光強度I0呈比例關系,其公式為I0=K?I監。對于具體的儀器來說,K的數值是固定的。因此,在對樣品進行檢測時,只要通過監測電路測得I監,再乘以K,就可以得出每次入射光強度的數值I0。
因此,在對樣品進行檢測前,需要先測量出K的數值。在不放樣品時,檢測電路測得的透射光強度I檢的數值與該次入射光強度I0的數值是一致的,即不放樣品時,I檢=I0。同時,測得該次監測光強度I監,通過公式
即可測得K的數值。
確定K的數值后,在對樣品進行檢測時,只要通過測量監測光強度I監,通過公式I0=K?I監就可以計算出入射光強度I0。
對樣品測量時,樣品吸光度A的計算公式為:
式中:
A為吸光度;
I0為入射光強度;
I樣為透過樣品的透射光強度;
T為樣品物質的透射率;
ε為樣品摩爾吸收系數;
L為被測樣品的光程,即比色皿的厚度;
C為樣品的濃度。
對樣品測量時,透過樣品的透射光強度I樣的數值,可以通過檢測電路測得。通過監測電路測得I監后,根據公式I0=K?I監即可算出入射光強度I0。
將樣品放置好,氙燈閃爍一次,測量入射光強度I0和透射光強度I樣,并根據上述公式計算樣品的吸光度A。
當樣品吸光度很高時(比如,吸光度超過1.6A),則進入高吸光度測量模式。
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