[發明專利]深度與強度可調式的探頭激光共聚焦顯微內窺鏡系統有效
| 申請號: | 201310244603.1 | 申請日: | 2013-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN103393392A | 公開(公告)日: | 2013-11-20 |
| 發明(設計)人: | 陳雪利;曹欣;梁繼民;林葉楠;楊德富;屈曉超;陳多芳;田捷 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | A61B1/07 | 分類號: | A61B1/07;A61B1/04;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 湯東鳳 |
| 地址: | 710071 陜西省*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 深度 強度 調式 探頭 激光 聚焦 顯微 內窺鏡 系統 | ||
1.深度與強度可調式的探頭激光共聚焦顯微內窺鏡系統,其特征在于,所述系統包括:
激發源,用于激發受檢對象表面的熒光探針;
分光鏡,與所述激發源連接,用于透射所述激發源發射的激發光,以及反射所述熒光探針受激發后發出的發射光;
平面掃描裝置,與所述分光鏡連接,用于實現所述激發源對受檢對象表面的水平方向掃描;
前端物鏡,與所述平面掃描裝置連接,用于聚焦經所述平面掃描裝置后的激發光;
微型傳輸裝置,一端與所述前段物鏡連接,用于傳輸所述激發源發射的激發光,以及傳輸所述熒光探針受激發后發出的發射光;
內窺鏡探頭,與所述微型傳輸裝置另一端連接,用于聚焦激發光于受檢對象表面某一點,并收集該點熒光探針受激后發出的發射光;
濾波片組,與所述分光鏡連接,用于濾除發射光中的雜散信號;
后端物鏡,與所述濾波片組連接,用于收集并聚焦所述濾除雜散信號后的發射光;
空間共軛光闌,與所述后端物鏡連接,用于阻擋受檢對象焦平面以外的光線;
成像單元,與所述空間共軛光闌連接,用于收集、存儲和后處理所接收的發射光;
其中,所述激發源、分光鏡以及所述平面掃描裝置設置于同一光軸上,具體是,所述激發源發射的激發光經所述分光鏡透射后照射到平面掃描裝置中,激發光光線經所述平面掃描裝置選擇出射點照射到所述前端物鏡中。
2.根據權利要求1所述的內窺鏡系統,其特征在于,所述內窺鏡探頭包括:探頭前管,探頭末端管以及設置在所述探頭前管與探頭末端管之間的深度調節單元,其中,所述探頭前管由粗管,以及設置在所述粗管后端的細管構成,所述粗管的前端連接于微型傳輸裝置,后端通過所述細管連接于所述探頭末端管的前端,并穿入其內,所述探頭末端管可沿所述細管往返移動;所述深度調節單元包括形狀記憶合金線與壓縮彈簧,其中,所述形狀記憶合金線的兩端與所述壓縮彈簧的兩端連接,所述壓縮彈簧兩端分別套接于所粗管后端與所述探頭末端管的前端。
3.根據權利要求1或2所述的內窺鏡系統,其特征在于,所述微型傳輸裝置包括光纖束與形狀記憶合金溫度導線,其中,所述光纖束一端連接于所述粗管的前端,所述形狀記憶合金溫度導線與所述形狀記憶合金線連接,用于控制形狀記憶合金線的溫度。
4.根據權利要求2所述的內窺鏡系統,其特征在于,所述粗管中設有成像透鏡。
5.根據權利要求3所述的內窺鏡系統,其特征在于,所述光纖束為直徑不大于2.6毫米,根數不少于1萬根。
6.根據權利要求1所述的內窺鏡系統,其特征在于,所述激發源為可調諧激光器,其中,所述可調諧激光器對激發光波長和強度進行調節,可用于不同類型熒光探針標記病灶的病理學的實時成像。
7.根據權利要求1所述的內窺鏡系統,其特征在于,所述平面掃描裝置中設有掃描震鏡,用于調節經掃描震鏡后光線的出射點位置,實現所述激發源對受檢對象表面的水平方向掃描。
8.根據權利要求1所述的內窺鏡系統,其特征在于,所述空間共軛光闌設有針孔準直器,用于阻擋受檢對象焦平面以外的光線。
9.根據權利要求1所述的內窺鏡系統,其特征在于,所述成像單元包括探測器系統與計算機系統,其中,所述探測器系統用于收集所述發射光;所述計算機系統用于存儲和后處理所述收集的發射光。
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