[發明專利]一種檢測裝置無效
| 申請號: | 201310242473.8 | 申請日: | 2013-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN103344888A | 公開(公告)日: | 2013-10-09 |
| 發明(設計)人: | 張宏杰;黃曉華;楊艷芳;李松;魏斌;陳盼盼;郭昱延;楊鑫;丘明 | 申請(專利權)人: | 國家電網公司;中國電力科學研究院;北京市電力公司 |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京安博達知識產權代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐國文 |
| 地址: | 100031 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種檢測裝置,具體涉及一種用于測試低溫環境中薄膜型絕緣材料拉伸狀態下絕緣強度的檢測裝置。
背景技術
隨著超導材料和超導技術的發展,超導體在電力方面的應用不斷擴大,超導電工設備的研制、生產日趨產業化。絕緣材料的絕緣性能的測試不僅是電工制造部門和電力運行部門的需要,也是與此有關的科研單位和高等院校的需要。對于容量較大的電氣設備要測試吸收比和極化指數兩種絕緣指標。而對于試驗室或現場生產的絕緣材料則用絕緣電阻測試儀進行測試。雖然現有的絕緣電阻測試儀內含高精度微電流測量系統、數字升壓系統,其絕緣阻值分度線均勻、清晰,操作簡捷,攜帶方便,適用于各電氣設備的保養、維修、試驗及檢定。但現有的絕緣電阻測試儀不能滿足超導材料和超導技術發展的要求。例如超導電力裝置中需使用大量的絕緣材料,這些材料大多又工作在低溫的環境中,因此,絕緣材料在低溫環境中的絕緣性能將極大影響裝置運行的可靠性。為了發展超導設備,必須研究如低溫環境下適用的絕緣材料及其電氣性能。
低溫環境中常用的絕緣材料有環氧樹脂制品、低密度聚乙烯薄膜、玻璃纖維增強塑料、聚四氟乙烯、聚丙烯層壓紙、聚酰亞胺和電纜紙等,其中后5種絕緣材料是薄膜型,一般的低溫薄膜型絕緣材料是聚四氟乙烯(PTFE)、聚酰亞胺薄膜(PI)、聚丙烯層壓紙(PPLP)。繞包型絕緣結構在常規電力設備和超導電力設備中均有廣泛的應用,繞包型絕緣結構的薄膜型絕緣材料要承受一定的繞包張力,處于拉伸狀態。本發明人經長期觀察、研究發現對于低溫絕緣材料電氣性能的研究目前一般集中在介質損耗因數、介電強度和局部放電等,急需對拉伸狀態下的薄膜型絕緣材料的絕緣性能進行研究。
鑒于上述原因,本發明的目的是提供一種針對低溫環境中薄膜型絕緣材料拉伸狀態下的絕緣強度檢測的裝置。
發明內容
為實現上述目的,本發明采用如下技術方案:
一種檢測裝置,所述檢測裝置包括:電器組件和檢測組件,其特征在于:所述檢測組件包括垂直設置在支架6上且橫向并排放置的固定板4和移動板5;所述固定板4和移動板5的同一水平方向上分別設有放置電極系統1的孔;所述固定板4和移動板5相鄰端的上端設有環形限位件9;所述支架6水平方向的上下橫板間設有拉伸件7;所述電極系統1的固定電極2和動電極3分別連接所述電器組件和接地。
其中,電器組件包括原邊接高壓、副邊接直流試驗模塊的工頻實驗變壓器;以及連接于所述直流實驗模塊和所述檢測組件之間的分壓器。
其中,直流實驗模塊包括陽極連接保護電阻、陰極連接變壓器的的硅堆,和設置在所述保護電阻和所述硅堆之間的濾波電容。
其中,固定電極2和移動電極3可設置3-5對。
其中,固定電極2和移動電極3為圓柱形;其中所述固定電極2一端有螺紋,由螺母11固定其于所述固定板4上。
其中,移動電極3置于移動板5內,其長度需大于移動板5的寬度。
其中,固定板4和移動版5為矩形薄板,其側面設有等間距3-5通孔。
其中,移動板5中設有絕緣套管,外包于移動電極3。
其中,固定板4鉚接于所述支架6上橫板。
其中,支架6是由4塊薄板構成的長方體框架。
其中,測試裝置浸在裝置浸在測試液中;所述測試液包括液氮。
其中,固定電極2和移動電極3選用的電極材料包括:紫銅、青銅、鋁。
其中,固定板4、移動板5和支架6采用適合液氮環境的絕緣材料,包括:環氧樹脂、聚四氟乙烯。
本發明涉及的一種絕緣材料的絕緣強度測試裝置,具有以下優點:
1、本測試裝置有多對電極,實驗過程中,可以依次記錄五組數據,免去了每次做一組頻繁更換試品的麻煩,易于操作、實現,方便省時。
2、在被測試品下端懸掛拉伸件使待測薄膜試品承受拉伸應力,處于拉伸狀態,操作簡單、可靠。
3、本裝置結構簡單,安裝方便,造價不高,可廣泛應用于科研院校,工業檢測部門。
4、本裝置得到絕緣材料的絕緣強度的結果準確,所得實驗結果有很高參考價值。
5、本測試裝置是針對低溫環境中薄膜材料拉伸狀態絕緣強度測試進行設計的裝置,但同樣適用于薄膜材料浸漬于其他液體環境時拉伸狀態的絕緣強度測試。使用范圍廣泛,可操作性強。
附圖說明
以下將結合附圖對本發明作進一步說明:
圖1是絕緣強度測試裝置示意圖
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