[發明專利]一種三態內容可尋址存儲器的測試電路及其方法

有效

• 申請號: 201310240761.X
• 申請日: 2013-06-18
• 公開（公告）號: CN103366823B
• 公開（公告）日: 2017-05-17
• 發明（設計）人: 王燦鋒;楊昌楷;張建杰
• 申請（專利權）人: 蘇州雄立科技有限公司
• 主分類號: G11C29/04
• 分類號: G11C29/04
• 代理公司: 北京市振邦律師事務所11389
• 代理人: 李朝輝

1.一種三態內容可尋址存儲器的測試方法，其特征在于：包括一測試電路，該測試電路主要包括掃描鏈、向量生成電路、TCAM陣列模塊、優先級編碼器、測試結果分析電路和修復電路，其中：掃描鏈將測試圖形輸入到優先級編碼器輸入端；向量生成電路提供各種測試圖形給TCAM陣列和優先級編碼器；測試結果分析電路通過分析優先級編碼器的輸出信號來完成測試和故障定位；修復電路則根據測試結果分析電路得出的故障定位信息來修復失效的單元；其方法包括如下步驟：步驟一：利用掃描鏈電路完成優先級編碼器的測試：向量生成電路生成各種測試激勵，由SI通過掃描鏈串行輸入，并施加到優先級編碼器的輸入端，測試結果分析電路通過分析優先級編碼器的輸出信號來完成測試和故障定位；步驟二：在確保優先級編碼器沒有失效后，完成搜索不匹配時的測試和修復：利用向量生成電路生成各種測試激勵，作為搜索數據施加到TCAM芯片，該數據與TCAM內部存儲的數據都不匹配，通過分析優先級編碼器的輸出信號來完成測試和修復工作；步驟三：完成搜索匹配時的測試和修復：利用向量生成電路生成各種測試激勵，作為搜索數據施加到TCAM芯片，該數據與TCAM內部存儲的數據匹配，通過分析優先級編碼器是否有錯誤的輸出來完成測試和修復工作。

2.根據權利要求1所述的一種三態內容可尋址存儲器的測試方法，其特征在于，上述步驟二中搜索不匹配時的測試和修復方法具體包括如下步驟：

(1)首先用寫命令將陣列初始化，使每個字具有相同值；

(2)搜索數據，使搜索的數據與陣列中存儲的值有1比特不匹配，此時理論上應該沒有數據匹配，如果有匹配，則說明有錯誤；錯誤的單元行地址就是優先級編碼器輸出的地址，列地址就是搜索的數據中不匹配的那個比特；根據該地址，可以選擇合適的修復方式對該失效單元進行修復；修復完成后，重復搜索操作，確保該不匹配的搜索線上沒有失效單元；

(3)重復上述步驟(2)，直至所有的搜索數據的每個比特都被測試及修復；

(4)重復步驟(1)到(3)，此時將初始值寫成與步驟(1)中完全相反的值。

3.根據權利要求1所述的一種三態內容可尋址存儲器的測試方法，其特征在于，上述步驟三中搜索匹配時的測試和修復方法具體包括如下步驟：

(1)首先用寫命令將陣列初始化，使每個字具有相同值；

(2)搜索數據，使搜索的數據與陣列中存儲的值相同，此時理論上應該匹配，優先級編碼器應該返回優先級最高的地址；如果返回的匹配地址符合預期，則說明該地址的字沒有錯誤，則將該字的有效位置0，使其不再參與搜索，使下次搜索時優先級編碼器返回次高優先級的地址；如果返回的匹配地址不符合預期，則說明該預期地址的字有錯誤，需要被修復，此時已經能夠修復該行；如果是列修復，還需要確定失效的列地址；

(3)在確定失效的列地址時，先簡單判斷該字是否能夠被列修復來節省時間，將該字的所有位都設為匹配，搜索數據的所有位也都為匹配，此時理論上應該返回預期的匹配地址；如果沒有返回預期的地址，說明不能被列修復；如果返回地址符合預期，說明能夠被列修復，需要在下述步驟(4)中確定具體的列地址；

(4)通過將該字的比特單元逐次屏蔽來確定是哪一位或哪幾位失效；將該字的一個或幾個比特寫成X,其余比特是步驟(1)中寫入的初始值，搜索數據與該字是一致的；如果優先級編碼器返回符合預期的地址，則說明該比特錯誤，對其進行列修復；如果優先級編碼器返回地址不符合預期，則說明不是該比特錯誤，繼續下一批比特的測試；在所有比特都被測試并修復后，將該字寫成步驟(1)中的初始值，搜索該字，檢查是否返回了正確的地址，確定修復是否成功；

(5)重復步驟(2)至(4)直至所有的字地址都被優先級編碼器逐次編碼；

(6)重復步驟(1)到(5)，此時將初始值寫成與步驟(1)完全相反的值。