[發明專利]針對單粒子效應進行加固的開關電容緩沖器電路有效
| 申請號: | 201310240509.9 | 申請日: | 2013-06-17 |
| 公開(公告)號: | CN103346776A | 公開(公告)日: | 2013-10-09 |
| 發明(設計)人: | 姚素英;李淵清;徐江濤;史再峰;高靜 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | H03K19/0185 | 分類號: | H03K19/0185 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人: | 劉國威 |
| 地址: | 300072*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 針對 粒子 效應 進行 加固 開關 電容 緩沖器 電路 | ||
1.一種針對單粒子效應進行加固的開關電容緩沖器電路,其特征是,由采樣開關S1、S2,采樣電容C1、C2,第一比較器和第二比較器,驅動輸出的運放,冗余部分以及一個二輸入與非門NAND2和一個反相器INV組成;其中輸入信號Vin通過開關S1和S2分別連接至電容C1和C2的上極板,C1和C2的下極板接地;C1和C2的上極板同時分別連接至N型MOS晶體管M5和M12的柵極;C1的上極板分別連接至比較器1的正端和比較器2的負端;比較器1的負端連接至參考電平V1,比較器2的正端連接至參考電平V2;比較器1和比較器2的輸出驅動NAND2;NAND2的輸出驅動反相器INV;P型MOS晶體管M1和M2的源端接電源,漏端分別與P型晶體管M3和M4的源端相連;M3和M4的漏端分別于N型晶體管M5和M6的漏端相連;M5和M6的源端分別于N型晶體管M7和M8的漏端相連;M7和M8的源端相連,并共同連接至電流大小為ISS的尾電流源;P型晶體管M9的源端連接至電源,漏端連接至P型晶體管M11的源端;M11的漏端與P型晶體管M10的漏端相連,并共同連接至N型晶體管M12的漏端;M12的源端連接至N型晶體管M13與M14的漏端,M13的源端連接至電流大小為ISS/2的尾電流源;M14的源端與M8的源端相連;M1和M2的柵端相連并連接至M1的漏端,同時連接至M10的源端;NAND2的輸出驅動M3、M14和M11的柵端;INV的輸出驅動M7、M10和M13的柵端;M4的柵端接地,M6的柵端和漏端相連構成輸出Vout;M8的柵連電源;M9的柵端和漏端相連。
2.根據權利要求1所述的針對單粒子效應進行加固的開關電容緩沖器電路,針對單粒子效應進行加固的開關電容緩沖器電路的采樣開關S1和S2在芯片版圖上的相互距離設置為盡可能長。
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