[發明專利]一種無需檢測前試塊標定的電導率測量儀器的實現方法無效
| 申請號: | 201310237944.6 | 申請日: | 2013-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN103293506A | 公開(公告)日: | 2013-09-11 |
| 發明(設計)人: | 林俊明 | 申請(專利權)人: | 愛德森(廈門)電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R35/00 | 分類號: | G01R35/00 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 無需 檢測 前試塊 標定 電導率 測量 儀器 實現 方法 | ||
所屬技術領域
本發明涉及一種無損檢測裝置的實現方法,特別是涉及一種無需檢測前試塊標定的電導率測量儀器的實現方法。
背景技術
電導率的測量是利用渦流電導儀測量出非鐵磁性金屬的電導率值,通過電導率值測量結果可以進行材質的分選、熱處理狀態的鑒別以及硬度、耐應力腐蝕性能的評價。目前電導率檢測中,須要配套相應的標準試塊,并在檢測過程中,由標準試塊對電導率儀器進行標定,再由標定數據進行實際檢測。檢測過程復雜,效率低下。并且,由于電導率標準試塊在使用過程中會磨損,保存不當還會出現腐蝕,同時由于材料的時效特性,對于同一標準試塊,各次檢定的結果并不完全相同,檢測結果可靠性不高。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術之不足,提供一種無需檢測前試塊標定的電導率測量儀器的實現方法,根據渦流檢測儀器與渦流傳感器的參數固定后,金屬材料在同一檢測頻率下的渦流檢測信號相位恒定的特性,在儀器內設置相關數學模型,實現無需檢測前試塊校準的電導率測試。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種無需檢測前試塊標定的電導率測量儀器的實現方法,實現方法為,
a.?在標準20℃環境溫度下,將已校準的渦流檢測儀器的檢測頻率設置為一個固定頻率,采用標準渦流絕對檢測探頭測量各種金屬的已知材質電導率的標準電導率試塊的渦流絕對檢測信號初始相位。檢測頻率通過對被檢非鐵磁性材料的阻抗分析、計算和比較試驗獲得,通常對于電導率在1%IACS~100%IACS范圍的金屬及其合金最合適的檢測頻率為60kHz左右;
b.?以測量的已知材質電導率的標準電導率試塊的渦流絕對檢測信號相位數據為橫坐標、已知材質電導率的標準電導率試塊的電導率數值為縱坐標,制作相位-電導率關系曲線,其中,兩點之間按線性處理,生成對應的相位-電導率關系曲線函數,將該電導率-相位關系曲線函數模型保存在渦流檢測儀器軟件中;
c.?渦流檢測儀器中集成溫度測量傳感器元件,并將金屬電導率溫度補償函數模型保存在渦流檢測儀器軟件中,對實測環境溫度下的渦流檢測儀器測量出的金屬電導率值修正為標準20℃環境溫度下的金屬電導率值;所述金屬電導率溫度補償函數為σT=σ20[1+α(T-20)],其中:σT?為實測溫度下的金屬電導率值,σ20?為標準20℃室溫下的金屬電導率值,α?為金屬電導率溫度補償系數,T?為實測環境溫度值;
d.?實測過程中,檢測某一金屬材料電導率時,無需測量前再使用標準電導率試塊對渦流檢測儀器進行標定,直接將標準渦流絕對檢測探頭的檢測面與被測金屬材料表面緊密接觸,渦流檢測儀器根據標準渦流絕對檢測探頭采集的被測金屬材料的渦流檢測信號的相位值,通過渦流檢測儀器內置的兩個數學模型,相位-電導率關系曲線函數模型與金屬電導率溫度補償函數模型,得到被測金屬材料的標準20℃環境溫度下的電導率值。
本發明的有益效果是,提供一種無需檢測前試塊標定的電導率測量儀器的實現方法,根據渦流檢測儀器與渦流傳感器的參數固定后,金屬材料在同一檢測頻率下的渦流檢測信號相位恒定的特性,在渦流檢測儀器中內置相位-電導率關系曲線函數模型和金屬電導率溫度補償函數模型,并在渦流檢測儀器中集成溫度測量傳感器元件,此后在測量金屬電導率前,無需測前再使用標準電導率試塊對渦流檢測儀器進行標定,從而大大提高了電導率測量效率與檢測結果的可靠性。
以下結合實施例對本發明作進一步詳細說明,但本發明的一種無需檢測前試塊標定的電導率測量儀器的實現方法不局限于實施例。
具體實施方式
實施例,一種無需檢測前試塊標定的電導率測量儀器的實現方法,實現方法為,?
a.?在標準20℃環境溫度下,將已校準的渦流檢測儀器的檢測頻率固定設置為一個固定頻率,關閉渦流檢測儀器的相位調節功能,采用標準渦流絕對檢測探頭測量各種金屬的已知材質電導率的標準電導率試塊的渦流絕對檢測信號初始相位;
b.?以測量的已知材質電導率的標準電導率試塊的渦流絕對檢測信號相位數據為橫坐標、已知材質電導率的標準電導率試塊的電導率數值為縱坐標,制作相位-電導率關系曲線,其中,兩點之間按線性處理,生成對應的相位-電導率關系曲線函數,將該電導率-相位關系曲線函數模型保存在渦流檢測儀器軟件中;
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