[發(fā)明專利]一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗裝置及使用它的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310237143.X | 申請日: | 2013-06-14 |
| 公開(公告)號: | CN103331995A | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 羅宏;金國庭;周燕 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東東鵬陶瓷股份有限公司;廣東東鵬控股股份有限公司;佛山華盛昌陶瓷有限公司;佛山市東鵬陶瓷有限公司;豐城市東鵬陶瓷有限公司 |
| 主分類號: | B41F15/08 | 分類號: | B41F15/08;B41F33/00 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 528031 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 陶瓷磚 絲網(wǎng) 印花 校驗 裝置 使用 方法 | ||
1.一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗裝置,其特征在于,包括花網(wǎng)、花網(wǎng)墊片和強磁鐵,所述花網(wǎng)墊片呈扁平的三角錐形,所述花網(wǎng)墊片兩個為一組,所述花網(wǎng)墊片不少于一組,所述花網(wǎng)墊片為鐵素體,所述花網(wǎng)的與網(wǎng)膠涂抹方向平行的花網(wǎng)網(wǎng)框上設(shè)置有所述花網(wǎng)墊片,所述花網(wǎng)墊片通過強磁鐵吸附在所述花網(wǎng)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗裝置,其特征在于,所述花網(wǎng)墊片的仰角為0.02-0.06度。
3.使用如權(quán)利要求1的校驗裝置的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗方法,其特征在于,步驟依次包括:
A.通過所述強磁鐵在所述花網(wǎng)的與網(wǎng)膠涂抹方向平行的花網(wǎng)網(wǎng)框上吸附所述花網(wǎng)墊片;
B.使用刮刀,緊密貼著所述花網(wǎng)墊片在所述花網(wǎng)上涂抹所述網(wǎng)膠并烘干;
C.按照產(chǎn)品設(shè)計要求,將所需圖案的黑白底片放在已烘干的花網(wǎng)的正中間,一同放入曝光儀曝光后,用水沖洗形成帶有圖案的花網(wǎng),并用硬化劑硬化被曝光的網(wǎng)膠形成所述花網(wǎng);
D.將多個制作好的所述花網(wǎng)依次安裝于多個印花機上;
E.將燒制后的未經(jīng)任何裝飾的陶瓷磚按照生產(chǎn)要求切割成印花所需的磚坯大小后,通過第一道印花機印刷印花釉形成印花圖案;
F、以步驟E中的所述陶瓷磚做為校驗磚,通過第二道印花機進行印花,印花后觀察印花位置與數(shù)量是否與產(chǎn)品設(shè)計要求相符,如不相符則調(diào)整第二道印花機,相符則通過下一道印花機進行印花;
G、調(diào)整第二道所述印花機后,檫拭掉所述校驗磚上的印花圖案,重復(fù)步驟E、F、G;
H、依次類推進行后續(xù)印花機調(diào)整以達到產(chǎn)品設(shè)計要求。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗方法,其特征在于,步驟H之后還包括步驟:將所述校驗磚的拋光面朝上放置于皮帶上后進入噴墨打印機進行噴墨裝飾以校驗噴墨裝飾的效果。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗方法,其特征在于,所述校驗磚的白度值<10度。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗方法,其特征在于,所述校驗磚的斷裂模數(shù)>20牛/平方毫米。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗方法,其特征在于,所述校驗磚的吸水率<10%。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗方法,其特征在于,所述校驗磚的至少一面為粗糙面。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗方法,其特征在于,所述校驗磚的至少一面為亮度>80度的拋光面。
10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種陶瓷磚絲網(wǎng)印花的校驗方法,其特征在于,所述印花釉粘度為40-60Pa·s,所述印花釉細度為325目篩篩余為0。
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