[發(fā)明專利]半導體激光管功率和波長特性自動測試裝置及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310235994.0
• 申請日: 2013-06-15
• 公開（公告）號: CN103308159B
• 公開（公告）日: 2017-09-08
• 發(fā)明（設計）人: 史振國;李民;馮軍;紀圣華;張永臣;張妮娜
• 申請（專利權）人: 威海北洋光電信息技術股份公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42;G01J3/28
• 代理公司: 威?？菩菍＠聞账?7202
• 代理人: 于濤

1.一種半導體激光管功率和波長特性自動測試裝置的方法，其特征在于半導體激光管功率和波長特性自動測試裝置設有用于控制整個裝置工作狀態(tài)的微處理器，與微處理器相連接的用于向待測半導體激光管輸出不同電流值的可控電流源，與微處理器相連接的用于為待測半導體激光管提供不同環(huán)境溫度的可調(diào)恒溫箱，

與微處理器相連接的用于對待測半導體激光管輸出的光信號進行衰減處理的可調(diào)光衰減器，與可調(diào)光衰減器的光信號輸出端相連接的分光比為1:1的光耦合器，與1:1光耦合器的一路光信號輸出端相連接的光功率計，與1:1光耦合器的另一路光信號輸出端相連接的光譜儀，

其中光功率計、光譜儀的測量結果輸出端分別與微處理器的通信端口相連接；

還設有與微處理器相連接的LCD觸摸顯示屏；

還設有與微處理器相連接的U盤；

還設有與微處理相連接的打印機；

微處理器采用ARM微處理器；

半導體激光管功率和波長特性自動測試方法，包括以下步驟：

步驟一：利用上述裝置，將待測半導體激光管的電流信號輸入端與可控電流源的輸出端相連接，待測半導體激光管的光信號輸出端與可調(diào)光衰減器的輸入端相連接，并將半導體激光管置于可調(diào)恒溫箱內(nèi)，

步驟二：微處理器控制可調(diào)恒溫箱的溫度為T，在T溫度值下，微處理器控制可控電流源向待測半導體激光管輸出驅動電流I_out，驅動電流I_out的變化范圍為0A-I_max，

步驟三：半導體激光管在輸入電流的控制下，向可調(diào)光衰減器輸出光信號，可調(diào)光衰減器在微處理器的控制下按衰減值M對輸入的光信號進行衰減處理后，將處理后的信號送入1:1光耦合器進行分光處理，光耦合器輸出的兩路光信號分別輸入光功率計和光譜儀，光功率計測量輸入光信號的光功率值P，光譜儀測量輸入光信號的光譜值，

步驟四：微處理器分別讀取光功率計、光譜儀的測量結果，并根據(jù)譜峰檢測算法找出光譜的峰值，此峰值即為半導體激光管的峰值波長λ，

步驟五：微處理器根據(jù)測量過程中驅動電流I_out的大小、恒溫箱的工作溫度T、可調(diào)光衰減器的衰減值M、光功率計的讀數(shù)P和半導體激光器的峰值波長λ繪制兩組曲線，一組為不同溫度下半導體激光管的P-I曲線，另一組是不同溫度下激光管的λ-I曲線，微處理器將這兩組曲線保存至U盤中；

步驟五中繪制的曲線通過觸摸顯示屏顯示輸出或者通過打印機打印輸出；

步驟二中T在0℃-5℃的范圍內(nèi)變動，變化精度為1℃，驅動電流I_out的變化精細度為0.1A；

步驟二中T以及驅動電流I_out的變化精度通過操作與微處理器相連接的觸摸顯示屏來設定。