[發(fā)明專利]半導(dǎo)體基板及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310233893.X | 申請日: | 2013-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN104241239B | 公開(公告)日: | 2017-11-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 廖國成;李俊哲;蘇洹漳;鄭文吉;丁一權(quán) | 申請(專利權(quán))人: | 日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/498 | 分類號: | H01L23/498;H01L21/48 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司31100 | 代理人: | 陸勍 |
| 地址: | 中國臺灣高雄市*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明關(guān)于一種基板及其制造方法。詳言之,本發(fā)明關(guān)于一種半導(dǎo)體基板及其制造方法。
背景技術(shù)
已知半導(dǎo)體基板中,位于最外層的線路層嵌于基板的絕緣層的表面,且顯露于該絕緣層的表面。由于該線路層的顯露表面會與該絕緣層的表面共平面,因此,當(dāng)接合一覆晶芯片時(shí),若該線路基板發(fā)生翹曲,則部分該覆晶芯片的凸塊(例如:錫球)會沒有接觸到該線路層而導(dǎo)致開路(Open Circuit),造成產(chǎn)品失敗。
為了改善上述缺點(diǎn),一種新的解決方案被提出。該解決方案先在該線路層的顯露表面上形成凸塊(例如:銅柱),再與該覆晶芯片做接合。目前已知將該凸塊形成于該線路層上的方式(例如:電鍍或蝕刻)被提出。然而,該等目前方式所形成的凸塊皆有偏移(Offset)的問題,亦即,凸塊無法位于該線路層接墊(Pad)的正上方,而會覆蓋到部分該絕緣層的表面。此種情況在該線路與線路彼此的距離愈近且愈密時(shí),是不被允許的,因?yàn)檫@樣容易造成該覆晶芯片的凸塊同時(shí)接觸該偏移的凸塊與其鄰近的接墊或跡線(Trace),而導(dǎo)致橋接(Bridge),造成產(chǎn)品失敗。
發(fā)明內(nèi)容
本揭露的一方面關(guān)于一種半導(dǎo)體基板的制造方法。在一實(shí)施例中,該制造方法包括以下步驟:提供一內(nèi)埋線路基板,該內(nèi)埋線路基板包括一絕緣層、一第一線路層及數(shù)個(gè)導(dǎo)電通道,其中該絕緣層具有一第一表面及一第二表面,該第一線路層嵌于該絕緣層的第一表面內(nèi),且顯露于該絕緣層的第一表面,該等導(dǎo)電通道貫穿該絕緣層且接觸該第一線路層;形成一光阻層于該第一線路層上,其中該光阻層具有數(shù)個(gè)開口,該等開口顯露部份該第一線路層;及形成數(shù)個(gè)凸塊于該顯露的第一線路層上。
在本實(shí)施例中,該等凸塊形成于該顯露的第一線路層上。因此,該等凸塊完全位于該等接墊的正上方。當(dāng)該半導(dǎo)體基板與一覆晶芯片做接合時(shí),該覆晶芯片的凸塊可直接接觸該半導(dǎo)體基板的該等凸塊,而不易發(fā)生接觸到該等凸塊鄰近的接墊或跡線導(dǎo)致橋接的情況。尤其當(dāng)該第一線路層為細(xì)線路時(shí),上述橋接情況仍不易發(fā)生,而可以維持產(chǎn)品的良率。
本揭露的另一方面關(guān)于一種半導(dǎo)體基板。在一實(shí)施例中,該半導(dǎo)體基板包括一絕緣層、一第一線路層、一第二線路層、數(shù)個(gè)導(dǎo)電通道及數(shù)個(gè)凸塊。該絕緣層具有一第一表面及一第二表面。該第一線路層嵌于該絕緣層的第一表面,且顯露于絕緣層的第一表面。該第二線路層位于該絕緣層的第二表面上。該等導(dǎo)電通道貫穿該絕緣層且電性連接該第一線路層及該第二線路層。該等凸塊直接位于部份該第一線路層上,其中該等凸塊的晶格與該第一線路層的晶格相同。
附圖說明
圖1顯示本發(fā)明半導(dǎo)體基板的一實(shí)施例的局部剖視示意圖。
圖2至圖11顯示本發(fā)明半導(dǎo)體基板的制造方法一實(shí)施例的示意圖。
圖12a顯示該第二光阻層的一實(shí)例。
圖12b顯示該第二光阻層的另一實(shí)例。
圖13顯示該第二光阻層的另一實(shí)例。
圖14顯示本發(fā)明半導(dǎo)體基板的另一實(shí)施例的局部剖視示意圖。
圖15至圖16顯示本發(fā)明半導(dǎo)體基板的制造方法的另一實(shí)施例的示意圖。
圖17顯示本發(fā)明半導(dǎo)體基板的另一實(shí)施例的局部剖視示意圖。
圖18至圖19顯示本發(fā)明半導(dǎo)體基板的制造方法的另一實(shí)施例的示意圖。
具體實(shí)施方式
參考圖1,顯示本發(fā)明半導(dǎo)體基板的一實(shí)施例的局部剖視示意圖。該半導(dǎo)體基板1包括一絕緣層16、一第一線路層14、一第二線路層30、數(shù)個(gè)導(dǎo)電通道221、數(shù)個(gè)凸塊28、一第一保護(hù)層32及一第二保護(hù)層34。
該絕緣層16為絕緣材料或介電材料,例如:聚丙烯(PolyproPylene,PP),其具有一第一表面161、一第二表面162及數(shù)個(gè)貫穿孔20。該第一線路層14嵌于或內(nèi)埋于該絕緣層16的第一表面161,且顯露于該絕緣層16的第一表面161。該第一線路層14的顯露表面大致上與該絕緣層16的第一表面161共平面。在本實(shí)施例中,該第一線路層14為一圖案化導(dǎo)電線路層,其包括數(shù)個(gè)接墊(Pad)141及數(shù)個(gè)跡線(Trace)142。該第一線路層14的材質(zhì)為電鍍銅(Electroplated Copper),其利用電鍍工藝所形成。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司,未經(jīng)日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310233893.X/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





