[發明專利]數據采集

有效

• 申請號: 201310232254.1
• 申請日: 2010-02-18
• 公開（公告）號: CN103323870A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發明（設計）人: M·查波;R·P·盧赫塔;C·J·弗列托斯;B·E·哈伍德
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G01T1/20
• 分類號: G01T1/20
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 李光穎;王英

1.一種成像探測器，包括：

光傳感器陣列（204）；

閃爍體陣列（202），其光學耦合至所述光傳感器陣列（204）；以及

處理電子器件（208），其電耦合至所述光傳感器陣列（204），所述處理電子器件（208）包括：

A/D轉換器（302），其將由所述光傳感器陣列（204）輸出的電荷轉換為具有指示所述電荷的頻率的數字信號，其中，所述A/D轉換器（302）交替地將與撞擊輻射對應的第一電荷轉換為第一信號以及將與衰減電荷對應的第二電荷轉換為第二信號；以及

邏輯單元（308），其基于所述第二信號校正所述第一信號。

2.根據權利要求1所述的探測器，其中，所述A/D轉換器（302）在積分期的第一部分期間轉換所述第一電荷并在所述積分期的第二不同部分期間轉換所述第二電荷。

3.根據權利要求2所述的探測器，其中，在所述積分期的所述第二不同部分期間脈沖調制所述撞擊輻射的關閉。

4.根據權利要求1到3中的任一項所述的探測器，其中，所述邏輯單元（308）基于來自不同積分期的第二信號的平均值校正所述第一信號。

5.根據權利要求1到4中的任一項所述的探測器，其中，所述處理電子器件（208）包括用于處理所述第一電荷的第一通道（702、802）以及用于處理所述第二電荷的第二通道（704、804）。

6.根據權利要求1到4中的任一項所述的探測器，其中，所述A/D轉換器（302）包括具有至少兩個積分電容器（902、904、1002、1004）的積分器（304），其中所述積分電容器中的一個用于對所述第一電荷信號進行積分，并且所述積分電容器中的至少一個用于對所述第二電荷信號進行積分。

7.根據權利要求1到6中的任一項所述的探測器，其中，所述邏輯單元（308）包括用于處理所述第一電荷的第一子單元（814）和用于處理所述第二電荷的第二子單元（816）。

8.根據權利要求1到7中的任一項所述的探測器，其中，所述光傳感器陣列（204）、所述閃爍體陣列（202）和所述處理電子器件（208）是熱連通的，并且所述處理電子器件（208）的溫度系數的值基本上抵消所述光傳感器陣列（204）和所述閃爍體陣列（202）的溫度系數的和。

9.根據權利要求1到8中的任一項所述的探測器，還包括：

積分器電壓偏置信號確定器（318），其設置針對所述A/D轉換器（302）的積分器偏置電壓信號，該信號誘發能夠由所述A/D轉換器（302）測量的電流。

10.根據權利要求9所述的探測器，其中，所述A/D轉換器（302）測量所誘發的電流，并且所述邏輯單元（308）基于所述積分器電壓參考信號和所測量的電流計算所述光傳感器陣列（204）的阻抗。

11.一種方法，包括：

在成像程序的至少一個積分期期間脈沖調制輻射發射的開啟和關閉；

在所述至少一個積分期期間當輻射發射被開啟時探測第一信號；

在所述至少一個積分期期間僅當輻射發射被關閉時探測第二信號；以及

基于所述第二信號校正所述第一信號。

12.根據權利要求11所述的方法，其中，所述第二信號對應于電荷衰減。