[發明專利]一種斜模式采樣建模與超分辨率重建方法有效
| 申請號： | 201310231478.0 | 申請日： | 2013-06-09 |
| 公開（公告）號： | CN103440619B | 公開（公告）日： | 2018-04-17 |
| 發明（設計）人： | 禹晶;潘宗序;孫衛東 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G06T5/00 | 分類號： | G06T5/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 西安智大知識產權代理事務所61215 | 代理人： | 賈玉健 |
| 地址： | 100084 北京市海淀區1*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 模式 采樣 建模 分辨率 重建 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種斜模式采樣建模與超分辨率重建方法，其特征在于，包括如下步驟：
基于線陣的推帚成像方式，采用單線陣進行斜模式數據采集，在數據采集過程中，成像線陣與推帚方向成26.56°或63.44°角，并通過控制推帚方向采樣間距為4p或2p，將斜模式采樣網格以基向量e1＝(4p,0)T、e2＝(2p,p)T延拓，或者，以基向量e1＝(2p,0)T、e2＝(p,2p)T延拓；
將斜模式采樣網格上的像元坐標系映射到高分辨率常規采樣網格上的像元坐標系，網格中像元間的距離為p；
在空間坐標系中，對斜模式采樣的像元點進行Delaunay三角剖分；
對于高分辨率網格上的未知像元，由它所在的三角形頂點的已知像元值，采用多項式插值計算高分辨率網格上的未知像元值。
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