[發明專利]天饋系統的無源互調性能測試方法和裝置

有效

• 申請號: 201310231471.9
• 申請日: 2013-06-09
• 公開（公告）號: CN104244311B
• 公開（公告）日: 2017-09-15
• 發明（設計）人: 張敏;程廣輝
• 申請（專利權）人: 中國移動通信集團公司
• 主分類號: H04W24/06
• 分類號: H04W24/06;H04W88/08
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司11018
• 代理人: 謝安昆,宋志強

技術領域

本發明涉及天線技術，特別涉及天饋系統的無源互調性能測試方法和裝置。

背景技術

隨著在網工作時間的不斷增長，基站的天饋系統出現故障的概率會越來越大，因此，需要定期地檢測天饋系統的工作情況。

在實際應用中，可采用無源互調（PIM，Passive Inter-Modulation）值來衡量天饋系統的性能好壞，即可通過測試天饋系統的無源互調性能，來評估天饋系統的工作情況。

現有技術中，可采用以下測試方式：關閉基站，利用無源互調儀來對天饋系統進行無源互調性能測試。

但是，上述方式需要關閉基站，且需要人工進行測試，因此需要耗費較大的人力物力。

針對頻分雙工（FDD，Frequency Division Duplexing）制式的基站，現有技術中還提出了一種在線測試方式：基站中的發射機按照預定模式發射測試信號；基站中的接收機按照預定模式在測試頻段內進行掃描接收；根據接收機接收到的信號分析評估出天饋系統的無源互調性能。

該方式雖然可以克服上述需要耗費較大的人力物力的問題，但由于在時分雙工（TDD，Time Division Duplexing）制式的基站中，發射機和接收機工作在同一頻段，因此該方式并不適用，即該方式僅適用于FDD制式的基站，并不適用于TDD制式的基站。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了天饋系統的無源互調性能測試方法和裝置，能夠適用于TDD制式的基站，且能夠節省人力物力。

為了達到上述目的，本發明的技術方案是這樣實現的：

一種天饋系統的無源互調性能測試方法，

該方法適用于時分雙工TDD制式的基站，在所述基站的射頻拉遠單元RRU中增加一個無源互調PIM檢測接收機，當進行測試時，斷開所述RRU中的反饋校準通路與所述RRU中的基帶板卡以及所述基站的天線之間的連接，并將所述PIM檢測接收機分別與所述基帶板卡和所述天線相連；

針對所述基站中的各路發射機依次發射出的測試信號，所述PIM檢測接收機分別進行如下處理：在預定測試頻段內進行該路信號的掃描接收，并對接收到的信號進行預定處理后，發送給評估設備，以便所述評估設備根據接收到的信號評估出所述基站的天饋系統的無源互調性能。

一種PIM檢測接收機，

所述PIM檢測接收機位于時分雙工TDD制式的基站中的射頻拉遠單元RRU中，分別與所述RRU中的基帶板卡和所述基站的天線相連；

所述PIM檢測接收機中包括：

接收模塊，用于針對所述基站中的各路發射機依次發射出的測試信號，分別進行如下處理：在預定測試頻段內進行該路信號的掃描接收，并將接收到的信號發送給處理模塊；

所述處理模塊，用于對接收到的信號進行預定處理后，發送給評估設備，以便所述評估設備根據接收到的信號評估出所述基站的天饋系統的無源互調性能。

一種發射機，

所述發射機位于時分雙工TDD制式的基站中的射頻拉遠單元RRU中；所述發射機中包括：

發射模塊，用于發射測試信號，以便無源互調PIM檢測接收機在預定測試頻段內進行掃描接收；所述PIM檢測接收機位于所述RRU中，分別與所述RRU中的基帶板卡和所述基站的天線相連。

可見，采用本發明所述方案，可在TDD制式的基站中增加一個PIM檢測接收機，利用該PIM檢測接收機，即可實現天饋系統的無源互調性能測試；相比于現有方式，本發明所述方案不但能夠適用于TDD制式的基站，而且由于無需關閉基站和人工進行測試，因此能夠節省人力物力，實現起來非常方便。

附圖說明

圖1為本發明PIM檢測接收機在基站中的連接方式示意圖。

圖2為本發明天饋系統的無源互調性能測試方法實施例的流程圖。

圖3為本發明天饋系統的無源互調性能測試方法較佳實施例的流程圖。

圖4為本發明PIM檢測接收機實施例的組成結構示意圖。

具體實施方式

針對現有技術中存在的問題，本發明中提出一種天饋系統的無源互調性能測試方案，能夠適用于TDD制式的基站，且能夠節省人力物力。

所述TDD制式的基站通常為時分同步碼分多址（TD-SCDMA，Time Division Synchronous Code Division Multiple Access）8天線基站，其中存在一路專門的反饋校準通路，本發明所述方案中，可在基站中新增一個PIM檢測接收機，結合該反饋校準通路，即可實現對天饋系統的無源互調性能的在線測試。