[發(fā)明專利]觸控面板及其觸控電極結(jié)構(gòu)與偵測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310231301.0
• 申請(qǐng)日: 2013-06-09
• 公開（公告）號(hào): CN104238835B
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 戈卡爾普·貝拉默戈魯;朱浚斈;曾奕瑋;朱永楨
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 宸鴻光電科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F3/044
• 分類號(hào): G06F3/044
• 代理公司: 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11006
• 代理人: 王玉雙

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及觸控技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種觸控面板及其觸控電極結(jié)構(gòu)與偵測(cè)方法。

背景技術(shù)

觸控感應(yīng)技術(shù)在近年來(lái)迅速地發(fā)展，目前已有許多具備觸控功能的消費(fèi)性電子產(chǎn)品陸續(xù)推出。觸控面板的技術(shù)發(fā)展非常多樣化，目前較常見(jiàn)能支援多點(diǎn)觸控的觸控面板是電容式觸控面板，其電極架構(gòu)是由兩軸向上的多條電極交錯(cuò)排列而成的一矩形陣列，如N乘M的矩形陣列，并且兩軸向電極大體上是呈垂直交錯(cuò)。在其掃描檢測(cè)方式上則是以一軸向上逐條驅(qū)動(dòng)搭配另一軸向上逐條掃描的方式來(lái)完成矩形陣列上每一交錯(cuò)點(diǎn)的定址，藉以達(dá)成多點(diǎn)觸控的定位判斷。但此觸控面板及其掃描檢測(cè)方式的掃描檢測(cè)時(shí)間(N×M)會(huì)受到觸控面板的尺寸或分辨率增加的影響而降低觸控反應(yīng)速度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明對(duì)觸控面板中以陣列方式排列的觸控電極結(jié)構(gòu)的電連接設(shè)計(jì)進(jìn)行調(diào)整，并且通過(guò)觸控電極結(jié)構(gòu)中的每一軸向電極對(duì)應(yīng)的電阻變化來(lái)判斷觸控位置，使得觸控電極結(jié)構(gòu)可同步進(jìn)行驅(qū)動(dòng)和掃描，除了可達(dá)到多點(diǎn)觸控定位，更可提高觸控反應(yīng)速度。

本發(fā)明提供一種觸控電極結(jié)構(gòu)，包括多個(gè)第一觸控單元以及多個(gè)第二觸控單元。第一觸控單元以及第二觸控單元是以一陣列方式排列，同一行中的第一觸控單元與第二觸控單元交替間隔設(shè)置，同一行中的第一觸控單元是彼此電連接以形成多個(gè)第一軸向電極，且至少部分的第二觸控單元是沿一延伸方向與位于不同行且不同列的至少一第二觸控單元電連接，以形成多個(gè)第二軸向電極。

本發(fā)明提供一種觸控面板，包括基板及形成于基板上的觸控電極結(jié)構(gòu)。觸控電極結(jié)構(gòu)包括多個(gè)第一觸控單元以及多個(gè)第二觸控單元。第一觸控單元以及第二觸控單元是以一陣列方式排列。同一行(row)中的各第一觸控單元是與各第二觸控單元交替間隔設(shè)置。同一行中的第一觸控單元是彼此電連接以形成多個(gè)第一軸向電極。且至少部分的第二觸控單元是沿一延伸方向與不同行且不同列的至少一第二觸控單元電連接以形成多個(gè)第二軸向電極。

本發(fā)明提供一種觸控面板的偵測(cè)方法，包括下列步驟。首先，同時(shí)驅(qū)動(dòng)所有的第一軸向電極與第二軸向電極，且同時(shí)檢測(cè)第一軸向電極與第二軸向電極所產(chǎn)生的輸出信號(hào)。接著，根據(jù)該些輸出信號(hào)計(jì)算得出觸碰點(diǎn)位置。

本發(fā)明的觸控面板及其觸控電極結(jié)構(gòu)是由呈陣列方式排列的第一觸控單元及第二觸控單元所構(gòu)成，并通過(guò)電連接設(shè)計(jì)的調(diào)整，讓由同一行的第一觸控單元所電連接而成的第一軸向電極與沿一延伸方向由不同行且不同列的第二觸控單元所電連接而成的第二軸向電極之間構(gòu)成有一小于90度的夾角。如此一來(lái)，即可對(duì)第一軸向電極與第二軸向電極同時(shí)驅(qū)動(dòng)及掃描，并通過(guò)計(jì)算每一軸向電極在觸控前后對(duì)應(yīng)的電阻變化來(lái)實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)觸控檢測(cè)，并且有效提高觸控反應(yīng)的速度。

附圖說(shuō)明

圖1所示為本發(fā)明的第一實(shí)施例的觸控面板的示意圖。

圖2所示為本發(fā)明的第一實(shí)施例的觸控面板的觸控檢測(cè)方式示意圖。

圖3所示為本發(fā)明的第一實(shí)施例的觸控面板在一多點(diǎn)觸控狀況下的觸控檢測(cè)示意圖。

圖4所示為本發(fā)明的第一實(shí)施例的觸控面板在另外一多點(diǎn)觸控狀況下的觸控檢測(cè)示意圖。

圖5所示為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的部分放大示意圖。

圖6所示為本發(fā)明的另一實(shí)施例的觸控面板的部分放大示意圖。

圖7所示為本發(fā)明的第二實(shí)施例的觸控面板的示意圖。

圖8所示為本發(fā)明的第三實(shí)施例的觸控面板的示意圖。

圖9所示為本發(fā)明的一實(shí)施例的觸控面板的偵測(cè)方法流程圖。

其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下：

具體實(shí)施方式

為使熟習(xí)本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的一般技藝者能進(jìn)一步了解本發(fā)明，下文特列舉本發(fā)明的數(shù)個(gè)優(yōu)選實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的構(gòu)成內(nèi)容。需注意的是附圖僅以說(shuō)明為目的，并未依照原尺寸作圖。此外，在文中使用例如”第一”與”第二”等敘述，僅用以區(qū)別不同的組件，并不對(duì)其產(chǎn)生順序的限制。