[發(fā)明專利]檢測分支光纖的方法、裝置和設備

有效

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• 申請日: 2013-06-09
• 公開（公告）號: CN103338069A
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發(fā)明（設計）人: 楊中文;梁維剛;唐利
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 宋揚

1.一種檢測分支光纖的方法，其特征在于，光纖網絡中包括至少兩個分支光纖，每個所述分支光纖連接一個光柵序列，所述方法包括：

選擇一組測試波長，所述一組測試波長包括但不限于所述光纖網絡中全部分支光纖連接的光柵序列的反射波長，且根據所述一組測試波長構建的一組波長行向量相互正交，所述一組波長行向量中包括各個所述分支光纖對應的波長行向量；

采用所述一組測試波長檢測所述光纖網絡，獲得各個測試波長對應的檢測曲線數據；

以各個測試波長對應的檢測曲線數據組成檢測矩陣，其中，以每個測試波長對應的檢測曲線數據作為所述檢測矩陣的一個行向量；

采用目標分支光纖對應的波長行向量乘以所述檢測矩陣，獲得所述目標分支光纖的檢測結果數據。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

以所述一組測試波長作為所述分支光纖對應的波長行向量中各項的絕對值，如果所述分支光纖透射當前項對應的測試波長，則所述當前項的符號為正號，如果所述分支光纖反射所述當前項對應的測試波長，則所述當前項的符號為負號，獲取所述分支光纖對應的波長行向量。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述采用所述一組測試波長檢測所述光纖網絡，獲得各個測試波長對應的檢測曲線數據包括：

采用所述一組測試波長作為檢測光源，利用光時域反射儀OTDR檢測所述光纖網絡，獲得各個測試波長對應的檢測曲線數據。

4.一種檢測分支光纖的裝置，其特征在于，所述裝置用于檢測光纖網絡中的分支光纖，所述光纖網絡中包括至少兩個分支光纖，每個所述分支光纖連接一個光柵序列，所述裝置包括：

至少一個光柵序列，每個所述光柵序列連接一個分支光纖；

波長行向量獲取單元，用于選擇一組測試波長，所述一組測試波長包括但不限于所述光纖網絡中全部分支光纖連接的光柵序列的反射波長，且根據所述一組測試波長構建的一組波長行向量相互正交，所述一組波長行向量中包括各個所述分支光纖對應的波長行向量；

檢測單元，用于采用所述一組測試波長檢測所述光纖網絡，獲得各個測試波長對應的檢測曲線數據；

檢測矩陣獲取單元，用于以各個測試波長對應的檢測曲線數據組成檢測矩陣，其中，以每個測試波長對應的檢測曲線數據作為所述檢測矩陣的一個行向量；

檢測結果獲取單元，用于采用目標分支光纖對應的波長行向量乘以所述檢測矩陣，獲得所述目標分支光纖的檢測結果數據。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述波長行向量獲取單元具體用于以所述一組測試波長作為所述分支光纖對應的波長行向量中各項的絕對值，如果所述分支光纖透射當前項對應的測試波長，則所述當前項的符號為正號，如果所述分支光纖反射所述當前項對應的測試波長，則所述當前項的符號為負號，獲取所述分支光纖對應的波長行向量。

6.根據權利要求4或5所述的裝置，其特征在于，所述檢測單元具體包括光時域反射儀OTDR，所述檢測單元采用所述一組測試波長作為檢測光源，利用所述OTDR檢測所述光纖網絡，獲得各個測試波長對應的檢測曲線數據。

7.一種檢測分支光纖的設備，其特征在于，所述設備用于檢測光纖網絡中的分支光纖，所述光纖網絡中包括至少兩個分支光纖，每個所述分支光纖連接一個光柵序列，所述設備包括：

至少一個光柵序列，每個所述光柵序列連接一個分支光纖；

收發(fā)器，用于采用一組測試波長檢測所述光纖網絡，獲得各個測試波長對應的檢測曲線數據；

處理器，用于選擇一組測試波長，所述一組測試波長包括但不限于所述光纖網絡中全部分支光纖連接的光柵序列的反射波長，且根據所述一組測試波長構建的一組波長行向量相互正交，所述一組波長行向量中包括各個所述分支光纖對應的波長行向量，所述處理器還用于以各個測試波長對應的檢測曲線數據組成檢測矩陣，其中，以每個測試波長對應的檢測曲線數據作為所述檢測矩陣的一個行向量，采用目標分支光纖對應的波長行向量乘以所述檢測矩陣，獲得所述目標分支光纖的檢測結果數據；

總線，用于連接所述收發(fā)器和所述處理器，所述收發(fā)器和所述處理器通過所述總線進行數據交互。