[發明專利]一種適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺

有效

• 申請號: 201310227224.1
• 申請日: 2013-06-08
• 公開（公告）號: CN103336234A
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發明（設計）人: 梁宗存;鄭付成;白路
• 申請（專利權）人: 中山大學
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 廣州知友專利商標代理有限公司 44104
• 代理人: 李海波

1.一種適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：包括主支架平臺（200）、測試系統、吸附系統和溫控系統，所述主支架平臺（200）作為背接觸晶體硅太陽電池（201）的載物臺，所述測試系統、吸附系統和溫控系統同時集成在所述主支架平臺（200）中，其中溫控系統設在主支架平臺（200）內部，由若干通孔構成溫控貫通回路（207），通孔內通以一定溫度及流速液體，保證主支架平臺（200）處于設定溫度值；測試系統設在主支架平臺（200）的內部和表面，由若干通孔構成測試通路（205），通孔穿過主支架平臺（200）的內部和表面，通孔內部通以測試金屬探針（（206）；吸附系統由真空吸盤（203）和真空吸附通路（204）構成，真空吸盤（203）設在主支架平臺（200）的表面，真空吸附通路（204）在主支架平臺（200）的內部形成貫通回路，真空吸盤（203）和真空吸附通路（204）連通，真空吸附通路（204）通以氣流以使真空吸盤（203）完成對背接觸晶體硅太陽電池（201）的吸附。

2.根據權利要求1所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述吸附系統的真空吸附通路（204）單獨存在于主支架平臺（200）的內部，通過獨立氣流通路完成吸附功能。

3.根據權利要求2所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述測試金屬探針（206）的長度大于主支架平臺（200）的高度。

4.根據權利要求3所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述測試金屬探針（206）設有避免軋碎背接觸晶體硅太陽電池（201）表面的探針彈簧承載基座（208），所述探針彈簧承載基座（208）的直徑大于測試系統的測試通路（205）。

5.根據權利要求1所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述吸附系統的真空吸附通路（204）與測試系統的測試通路（205）合并于一體，在同一孔洞內部完成吸附和測試兩個過程。

6.根據權利要求5所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述測試金屬探針（206）的長度小于主支架平臺（200）的高度。

7.根據權利要求6所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述測試金屬探針（206）設有避免軋碎背接觸晶體硅太陽電池（201）表面的探針彈簧承載基座（208），所述探針彈簧承載基座（208）的直徑等于測試系統的測試通路（205）形成活塞裝置。

8.根據權利要求1-7任一項所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述主支架平臺（200）由導熱性能良好的材料制成。

9.根據權利要求8所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述導熱性能良好的材料為銅或者鋁。

10.根據權利要求9所述的適用于背接觸晶體硅太陽電池的測試平臺，其特征在于：所述測試金屬探針（206）與主支架平臺（200）之間完全絕緣。