[發明專利]一種生產數據分析方法及系統

在審

• 申請號: 201310223417.X
• 申請日: 2013-06-05
• 公開（公告）號: CN103279837A
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 蘇宏業;柳華鋒;趙路軍;許祎;李連海;甘世旺;楊道理;汪洪亮
• 申請（專利權）人: 浙江中控軟件技術有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

1.一種生產數據分析方法，其特征在于，包括：

獲取各個樣本的質量指標數據和工藝參數數據，并分析所述質量指標數據，得到所述各個樣本的主成分數據；

分析所述工藝參數數據和所述各個樣本的主成分數據，得到所述各個樣本的關鍵工藝參數和主要質量指標；

獲取預設數量的各個樣本的關鍵工藝參數數據和主要質量指標數據，計算并繪制控制圖的控制界限，并確定所述各個樣本的關鍵工藝參數數據和主要質量指標數據在所述控制圖上的位置；

判斷所述各個樣本的關鍵工藝參數數據和主要質量指標數據在所述控制圖上的位置與所述控制圖的控制界限的位置關系，并依據所述位置關系觸發異常診斷模塊生成對應的決策文件。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取各個樣本的質量指標數據和工藝參數數據，并分析所述質量指標數據，得到所述各個樣本的主成分數據的過程包括：

計算所述質量指標數據的樣本協方差矩陣以及相關系數矩陣；

計算所述相關系數矩陣的特征根以及正交單位化特征向量，所述特征根以及所述正交單位化特征向量與所述相關系數矩陣相對應；

根據所述特征根計算所述質量指標數據的方差貢獻率；

根據所述方差貢獻率，得到所述各個樣本的主成分數據。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述分析所述工藝參數數據和所述各個樣本的主成分數據，得到所述各個樣本的關鍵工藝參數和主要質量指標的過程包括：

依據所述工藝參數數據和所述各個樣本的主成分數據，確定母序列和子序列；

按照預設的無量綱化方法，對所述母序列和所述子序列中的數據進行無量綱化處理；

根據進行無量綱化處理后的母序列和子序列，計算得到關聯系數；

根據所述關聯系數，計算得到關聯度；

將所述關聯度構造成關聯度矩陣；

根據所述關聯度矩陣中關聯度的大小，得到所述各個樣本的關鍵工藝參數和主要質量指標。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述方差貢獻率，得到所述各個樣本的主成分數據的過程包括：

按照從大到小的順序對所述方差貢獻率進行累加，得到和值；

當所述和值大于等于85%時，確定所述各個樣本的主成分數據為所述參與累加的方差貢獻率對應的成分。

5.一種生產數據分析系統，其特征在于，包括：

主成分分析單元，用于獲取各個樣本的質量指標數據和工藝參數數據，并分析所述質量指標數據，得到所述各個樣本的主成分數據；

灰色關聯優勢分析單元，用于分析所述工藝參數數據和所述各個樣本的主成分數據，得到所述各個樣本的關鍵工藝參數和主要質量指標；

控制圖繪制單元，用于獲取預設數量的各個樣本的關鍵工藝參數數據和主要質量指標數據，計算并繪制控制圖的控制界限，并確定所述各個樣本的關鍵工藝參數數據和主要質量指標數據在所述控制圖上的位置；

控制圖分析單元，用于判斷所述各個樣本的關鍵工藝參數數據和主要質量指標數據在所述控制圖上的位置與所述控制圖的控制界限的位置關系，并依據所述位置關系觸發異常診斷模塊生成對應的決策文件。

6.根據權利要求5所述的系統，其特征在于，所述主成分分析單元包括：

第一計算子單元，用于計算所述質量指標數據的樣本協方差矩陣以及相關系數矩陣；

第二計算子單元，用于計算所述相關系數矩陣的特征根以及正交單位化特征向量，所述特征根以及所述正交單位化特征向量與所述相關系數矩陣相對應；

第三計算子單元，用于根據所述特征根計算所述質量指標數據的方差貢獻率；

主成分數據確定子單元，用于根據所述方差貢獻率，得到所述各個樣本的主成分數據。