[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310222771.0 | 申請(qǐng)日: | 2013-06-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103515288B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-11-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鍜治昂男;佐佐木克仁;古平貴章;土井祐樹(shù);折津美奈子 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 拉碧斯半導(dǎo)體株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/762 | 分類號(hào): | H01L21/762 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227 | 代理人: | 舒艷君,李洋 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,具備:
半導(dǎo)體基板;
相互分離地形成于所述半導(dǎo)體基板的一主面的第1元件分離用溝道以及第2元件分離用溝道;
形成于所述第1元件分離用溝道內(nèi)的第1絕緣物;
被所述第1元件分離用溝道圍起的多個(gè)第1元件形成區(qū)域;
形成于所述第1元件形成區(qū)域的第1半導(dǎo)體元件;
形成于所述第2元件分離用溝道內(nèi)的第2絕緣物;
被所述第2元件分離用溝道圍起的第2元件形成區(qū)域;
形成于所述第2元件形成區(qū)域的第2半導(dǎo)體元件;以及
形成于所述第1元件分離用溝道和所述第2元件分離用溝道之間的應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)具備相對(duì)于所述第1元件分離用溝道傾斜角度θ且形成于所述一主面的溝道,其中,0°<θ<90°。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)具備針對(duì)所述半導(dǎo)體基板賦予與所述第1絕緣物所賦予的應(yīng)力相反方向的應(yīng)力的材料。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)具備形成于所述半導(dǎo)體基板的一主面的溝道和形成于所述溝道內(nèi)的第3絕緣物,在所述第3絕緣物形成有縫隙。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)具備形成于所述半導(dǎo)體基板的一主面且在內(nèi)部具有空隙的溝道。
6.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,具備:
半導(dǎo)體基板;
相互分離地形成于所述半導(dǎo)體基板的一主面的第1元件分離用溝道以及第2元件分離用溝道;
形成于所述第1元件分離用溝道內(nèi)的第1絕緣物;
被所述第1元件分離用溝道圍起的多個(gè)第1元件形成區(qū)域;
形成于所述第1元件形成區(qū)域的第1半導(dǎo)體元件;
形成于所述第2元件分離用溝道內(nèi)的第2絕緣物;
被所述第2元件分離用溝道圍起的第2元件形成區(qū)域;以及
形成于所述第2元件形成區(qū)域的第2半導(dǎo)體元件,
所述第2元件分離用溝道具備相對(duì)于與從所述第1元件分離用溝道朝向所述第2元件分離用溝道的方向垂直的方向傾斜角度θ,且形成于所述一主面的溝道,其中,0°<θ<90°。
7.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,具備:
將結(jié)構(gòu)體形成于半導(dǎo)體基板的一主面的工序,該結(jié)構(gòu)體具備相互分離的第1元件分離用溝道以及第2元件分離用溝道、形成于所述第1元件分離用溝道內(nèi)的第1絕緣物、被所述第1元件分離用溝道圍起的多個(gè)第1元件形成區(qū)域、形成于所述第2元件分離用溝道內(nèi)的第2絕緣物、被所述第2元件分離用溝道圍起的第2元件形成區(qū)域、以及形成于所述第1元件分離用溝道和所述第2元件分離用溝道之間的應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu);
然后,在所述第1元件形成區(qū)域形成第1半導(dǎo)體元件,在所述第2元件形成區(qū)域形成第2半導(dǎo)體元件的工序。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,
所述應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)具備相對(duì)于所述第1元件分離用溝道傾斜角度θ且形成于所述一主面的溝道,其中,0°<θ<90°。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,
所述應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)具備針對(duì)所述半導(dǎo)體基板賦予與所述第1絕緣物所賦予的應(yīng)力相反方向的應(yīng)力的材料。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,
所述應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)具備形成于所述半導(dǎo)體基板的一主面的溝道和形成于所述溝道內(nèi)的第3絕緣物,在所述第3絕緣物形成有縫隙。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,
所述應(yīng)力緩和結(jié)構(gòu)具備形成于所述半導(dǎo)體基板的一主面且在內(nèi)部具有空隙的溝道。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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