[發明專利]用于執行比較器后臺校準的裝置和方法

有效

• 申請號: 201310222512.8
• 申請日: 2013-06-06
• 公開（公告）號: CN103490780B
• 公開（公告）日: 2017-04-12
• 發明（設計）人: S·R·科斯克;J·P·布雷
• 申請（專利權）人: 美國亞德諾半導體公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 金曉

1.一種用于執行具有多個級的電路中的比較器的后臺校準的方法，所述多個級以流水線方式連接至輸入信號，所述方法包括：

計算殘余信號的數字值，所述殘余信號從所述多個級中的第一級輸出至所述多個級中的后續級；

將所述殘余信號的值與至少一個閾值相比較；以及

基于所述比較，調節所述第一級中的選定比較器的觸發閾值。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述至少一個閾值包括上閾值和下閾值，所述上閾值大于所述下閾值。

3.根據權利要求2所述的方法，其中所述調節包括：

當所述殘余信號大于所述上閾值時降低所述觸發閾值；以及

當所述殘余信號小于所述下閾值時提高所述觸發閾值。

4.根據權利要求2所述的方法，其中：

所述電路是模數轉換器；

所述上閾值近似為+FS；以及

所述下閾值近似為-FS，

其中FS是所述轉換器的滿標值。

5.根據權利要求1所述的方法，其中通過結合來自所述第一級之后的所有級的輸出來計算所述殘余信號的所述數字值。

6.根據權利要求1所述的方法，其中所述調節包括改變連接至所述選定比較器的輸入的梯型電阻中的抽頭點。

7.根據權利要求1所述的方法，其中所述方法被重復執行，使用來自所述多個級的更靠近所述輸入信號的僅一部分的級作為所述第一級。

8.根據權利要求1所述的方法，其中在使用前臺校準技術調節所述選定比較器的所述觸發閾值之后執行所述方法。

9.根據權利要求1所述的方法，其中所述選定比較器具有一對互補輸入并且所述調節包括以相同的量改變兩個輸入，但是以相反的方向改變。

10.根據權利要求1所述的方法，其中所述電路是模數轉換器，所述方法進一步包括：

基于模擬輸入的數字逼近選擇所述比較器，其中根據所述模擬輸入產生由所述第一級輸出的所述殘余信號。

11.一種用于執行具有多個級的電路中的比較器的后臺校準的裝置，所述多個級以流水線方式連接至輸入信號，所述裝置包括：

控制器，被配置為：

計算殘余信號的數字值，所述殘余信號從所述多個級中的第一級輸出至所述多個級中的后續級；

將所述殘余信號的值與至少一個閾值相比較；以及

基于所述比較，調節所述第一級中的選定比較器的觸發閾值。

12.根據權利要求11所述的裝置，其中所述至少一個閾值包括上閾值和下閾值，所述上閾值大于所述下閾值。

13.根據權利要求12所述的裝置，其中所述調節包括：

當所述殘余信號大于所述上閾值時降低所述觸發閾值；以及

當所述殘余信號小于所述下閾值時提高所述觸發閾值。

14.根據權利要求12所述的裝置，其中：

所述電路是模數轉換器；

所述上閾值近似為+FS；以及

所述下閾值近似為-FS，

其中FS是所述轉換器的滿標值。

15.根據權利要求11所述的裝置，其中所述控制器通過結合來自所述第一級之后的所有級的輸出來計算所述殘余信號的所述數字值。

16.根據權利要求11所述的裝置，其中所述調節包括改變連接至所述選定比較器的輸入的梯型電阻中的抽頭點。

17.根據權利要求11所述的裝置，其中所述控制器重復執行所述計算、所述比較和所述調節步驟，使用來自所述多個級的更靠近所述輸入信號的僅一部分的級作為所述第一級。

18.根據權利要求11所述的裝置，其中所述控制器在使用前臺校準技術調節所述選定比較器的所述觸發閾值之后執行所述調節。

19.根據權利要求11所述的裝置，其中所述選定比較器具有一對互補輸入并且所述調節包括以相同的量改變兩個輸入，但是以相反的方向改變。

20.根據權利要求11所述的裝置，其中所述電路是模數轉換器，其中所述控制器基于模擬輸入的數字逼近選擇所述比較器，其中根據所述模擬輸入產生由所述第一級輸出的所述殘余信號。