[發(fā)明專利]一種用于分析樣品中的靶標的裝置、系統(tǒng)及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310222241.6 | 申請日: | 2007-02-07 |
| 公開(公告)號: | CN103308504A | 公開(公告)日: | 2013-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | D·M·斯托克;J·J·阿齊勒 | 申請(專利權(quán))人: | 分子設(shè)備有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N21/76 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 毛力 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 分析 樣品 中的 靶標 裝置 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種用于分析樣品中的靶標的系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:
結(jié)構(gòu);
電源,位于所述結(jié)構(gòu)中;
檢測器,位于所述結(jié)構(gòu)中;
多個可移除的模塊盒,至少一個可移除的模塊盒包括用于產(chǎn)生激勵光的光源、用于將電能從電源提供給光源的耦合器、以及用于將激勵光引導(dǎo)至靶標的第一光學(xué)系統(tǒng);
讀取頭,被配置為接收來自所述靶標的發(fā)射光;以及
模塊盒支架,相對于所述結(jié)構(gòu)是可移動的,包括被配置成同時接收多個可移除的模塊盒的模塊盒位置,所述模塊盒支架被配置為選擇性地將一個或多個可移除的模塊盒與所述檢測器和所述讀取頭相對齊,其中每個可移除的模塊盒可從所述模塊盒支架移除。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述讀取頭被配置為將來自所述靶標的發(fā)射光引導(dǎo)至所述至少一個可移除的模塊盒,并且所述至少一個可移除的模塊盒進一步包括第二光學(xué)系統(tǒng),所述第二光學(xué)系統(tǒng)用于接收來自所述靶標的發(fā)射光并將所述發(fā)射光引導(dǎo)至所述檢測器。
3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述多個可移除的模塊盒進一步包括注入模塊盒,用于將試劑注入到樣品中。
4.如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng),其特征在于,進一步包括樣品支架,所述樣品支架在注入位置和讀取位置之間是可移動的,其中在所述注入位置上所述樣品支架與所述注入模塊盒相對齊,并且在所述讀取位置上所述樣品支架與所述至少一個可移除的模塊盒相對齊。
5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,包括樣品支架,所述樣品支架與所述讀取頭相對齊,其中所述讀取頭具有如下位置之一:所述讀取頭位于所述樣品支架和諸個可移除的模塊盒中所選的一個之間,或所述讀取頭位于所述樣品支架和所述檢測器之間并進一步配置為將所述發(fā)射光引導(dǎo)至所述檢測器。
6.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),所述讀取頭與所述多個可移除的模塊盒相分離。
7.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述讀取頭與至少一個可移除的模塊盒相集成,并且所述讀取頭所集成的可移除的模塊盒進一步包括被配置為使所述讀取頭向所述靶標移動的驅(qū)動器。
8.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述多個可移除的模塊盒進一步包括附加的模塊盒,所述附加的模塊盒是熒光模塊盒、吸光模塊盒、發(fā)光模塊盒、或注入模塊盒。
9.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,被配置為接收多個可移除的模塊盒的模塊盒支架是第一模塊盒支架,該第一模塊盒支架被配置為接收多個第一可移除的模塊盒,并進一步包括第二模塊盒支架,被配置為接收第二可移除的模塊盒。
10.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),其特征在于,包括樣品支架,所述樣品支架位于所述第一模塊盒支架和所述第二模塊盒之間之間。
11.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),其特征在于,所述多個第一可移除的模塊盒支架中的至少一個可移除的模塊盒支架的光源是用于產(chǎn)生第一激勵光的第一光源,并進一步包括與第二模塊盒支架相配合的跌入可移除的模塊盒,所述第二可移除的模塊盒包括用于產(chǎn)生第二激勵光的第二光源以及用于將所述第二激勵光引導(dǎo)至所述靶標的第二光學(xué)系統(tǒng)。
12.如權(quán)利要求11所述的系統(tǒng),其特征在于,所述靶標能響應(yīng)于所述第一激勵光而生成第一發(fā)射光,并能響應(yīng)于所述第二激勵光而生成第二發(fā)射光,并進一步包括第二讀取頭和第三光學(xué)系統(tǒng),所述第二讀取頭被配置為將所述第二發(fā)射光從所述靶標引導(dǎo)至所述第二可移除的模塊盒,所述第三光學(xué)系統(tǒng)被配置為將所述第二發(fā)射光從所述第二可移除的模塊盒引導(dǎo)至所述檢測器。
13.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),其特征在于,所述第二模塊盒支架包括多個被配置為同時接收多個第二可移除的模塊盒的模塊盒位置。
14.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述模塊盒支架包括模塊盒檢測器,并且至少一個可移除的模塊盒支架包括用于指示可被使用的可移除的模塊盒的檢測類型的標記,所述模塊盒檢測器被配置為檢測所述標記。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





