[發明專利]光電傳感器

有效

• 申請號: 201310220535.5
• 申請日: 2013-06-05
• 公開（公告）號: CN103487840B
• 公開（公告）日: 2017-03-01
• 發明（設計）人: 奧濃基晴;小峰晉一郎
• 申請（專利權）人: 歐姆龍株式會社
• 主分類號: G01V8/14
• 分類號: G01V8/14
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司72003
• 代理人: 金相允,浦柏明

技術領域

本發明通常涉及一種光電傳感器，更具體地，涉及一種同軸回歸反射型的光電傳感器。

背景技術

就現有的光電傳感器而言，例如，在日本特開2009-289739號公報中，公開了一種以提高檢測精度為目的的同軸回歸反射型的光電傳感器（專利文獻1）。

專利文獻1公開的光電傳感器具有：發光二極管，其發出檢測光；透鏡，其將檢測光轉變成平行光，并向外部投射該平行光來作為到外部的檢測光；半透半反鏡（half?mirror），其分離檢測光的光路和來自回歸反射板的返回光；光電二極管，其接受來自半透半反鏡的返回光。透鏡包括凸面、相對于連接發光二極管和凸面的中心部的軸向垂直方向傾斜的平面。

另外，在日本特開2008-112629號公報中，公開了如下的回歸反射型光電傳感器，其目的在于，將聚乙烯（PET）塑料瓶的雙折射性轉變成光的衰減，提高檢測的穩定性，并且避免來自聚乙烯塑料瓶的反射光的問題（專利文獻2）。

在專利文獻2中公開的回歸反射型光電傳感器具有：投光系統，其投射圓偏振光；傳感器主體，其形成有受光系統，該受光系統在入射了混合反向圓偏振光和圓偏振光的光的情況下，選擇性地接受反向圓偏振光；回歸反射部，其將圓偏振光轉變成包括反向圓偏振光的光后進行反射。傳感器主體包括：投光元件；受光元件；1/4波長板，其將垂直偏振光轉變成圓偏振光，將反向圓偏振光轉變成垂直偏振光；偏振濾光器。偏振濾光器在從回歸反射部到受光元件的受光路徑上，配置在受光元件與1/4波長板之間，選擇性地使垂直偏振光透射。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2009-289739號公報

專利文獻2：日本特開2008-112629號公報

如上述的專利文獻公開的那樣，利用運用了光的反射的反射型光電傳感器，來作為用于檢測有無物體的光電傳感器。該反射型光電傳感器中也有被叫做回歸反射型光電傳感器的。

通常，回歸反射型光電傳感器具有內置有發光元件及受光元件的投光/受光器。在使用該傳感器時，配置有與投光/受光器相向的回歸反射板，該回歸反射板用于反射從投光/受光器發出的光，并將反射光返回到投光/受光器。在從發光元件發出的光的光路上沒有物體的情況下，該光在被歸反射板反射，進而入射到受光元件。另一方面，在光路上存在物體的情況下，由于從發光元件發出的光被該物體遮擋，所以不會入射到受光元件。即，由于受光元件的受光量因光路上有無物體而不同，所以回歸反射型傳感器基于受光量的不同，檢測有無物體。

回歸反射型的光電傳感器還具有雙眼式的傳感器和同軸式的傳感器。在雙眼式的情況下，從物理上分成投光路和受光路。另一方面，在同軸式的情況下，投光路和受光路大致一致，通過偏振分光鏡或半透半反鏡等的光學元件將這兩個光路分離。

然而，在同軸回歸反射型的光電傳感器的情況下，由于沒有從物理上分成投光路和受光路，所以從投光元件發出的光的一部分可能會作為雜散光入射到受光元件。其結果為，有可能會導致光電傳感器的檢測精度下降。

發明內容

因此，本發明的目的在于，解決上述的問題，提供檢測精度優異的光電傳感器。

本發明的光電傳感器其具有：投光部，其發出檢測光；受光部，其接受檢測光在外部發生反射之后返回的返回光；透鏡，其向外部出射來自投光部的檢測光，并且入射來自外部的返回光；光路分離部，其設置在透鏡與投光部及受光部之間的光路上，對從投光部射向透鏡的檢測光的光路和從透鏡射向受光部的返回光的光路進行分離；遮光構件，其以與檢測光或返回光的光軸重疊的方式，設置在透鏡與投光部及受光部之間的光路上的任意位置，局部遮擋檢測光或返回光。

根據以這種方式構成的光電傳感器，能夠通過遮光構件防止從投光部發出的檢測光的一部分作為雜散光入射到受光部。由此，能夠提高傳感器的檢測精度。

更優選地，遮光構件設置在透鏡與光路分離部之間的光路上。根據以這種方式構成的光電傳感器，與將遮光構件設置在光路分離部與投光部或受光部之間的光路上的情況相比，遮光構件設置在更遠離投光部及受光部的位置。因此，在以與檢測光或返回光的光軸重疊的方式設置遮光構件時，能夠避免要求很高的定位精度。

更優選地，遮光構件設置在透鏡的附近。根據以這種方式構成的光電傳感器，能夠可靠地防止在透鏡發生反射的檢測光成為雜散光并射向受光部。

更優選地，遮光構件配置成與光路分離部隔有距離，并且具有對從光路分離部射向透鏡的檢測光進行反射的反射面。反射面沿著相對于從光路分離部射向透鏡的檢測光的光軸而傾斜的方向延伸。