[發明專利]一種基于機器視覺的梨表面缺陷檢測方法在審
| 申請號: | 201310219149.4 | 申請日: | 2013-06-05 |
| 公開(公告)號: | CN104215639A | 公開(公告)日: | 2014-12-17 |
| 發明(設計)人: | 化春鍵;周海英;方程駿 | 申請(專利權)人: | 江南大學 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/952 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 214122 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 機器 視覺 表面 缺陷 檢測 方法 | ||
1.一種基于機器視覺的梨表面缺陷檢測方法,包括三個品種的梨圖像的預處理分析方法,梨的去背景和缺陷提取方法,缺陷、花萼、果梗的區分方法。
2.根據權利要求1所述的基于機器視覺的梨表面缺陷檢測方法,其特征是預處理階段將實域上的平滑方法進行詳細的分析和實驗,并對中值濾波進行改進,采用自適應中值濾波,在對比未進行的灰度梨圖像后,由于差別不大在節約包裝線等檢測線上的時間即未運用濾波方法,而是在二值化后采用形態學的濾波方法。
3.根據權利要求1所述的基于機器視覺的梨表面缺陷檢測方法,其特征是在去背景時首次將基于模板法的分割方法應用于梨的表面檢測。
4.根據權利要求1所述的基于機器視覺的梨表面缺陷檢測方法,其特征是利用一種缺陷提取方法實現三個品梨的表面缺陷提取,具有通用性。
5.基于機器視覺的梨表面缺陷檢測方法,利用去背景的梨I分量圖進行缺陷提取。其特征是:
1)將otsu分割方法與手動選取閾值方法進行實驗比較,選定otsu分割的閾值,使其滿足在線實時分割;
2)缺陷提取時將I分量圖進行otsu閾值分割,生成一幅二值圖像,將此圖像進行形態學閉運算,可獲得一幅帶缺陷、斑點和邊緣的二值圖像,再將此圖像與邊緣膨脹圖(在獲得模板前的二值圖基礎上利用canny算子提取邊緣并膨脹)形態學相加即獲得缺陷二值圖像,最后將此圖像與原圖形態學相加即得彩色缺陷圖。
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