[發(fā)明專利]一種自動化測試方法及主控裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310217731.7
• 申請日: 2013-06-03
• 公開（公告）號: CN104216823B
• 公開（公告）日: 2017-12-29
• 發(fā)明（設計）人: 于泳;羅曦;喬海波
• 申請（專利權）人: 聯(lián)想（北京）有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F11/22
• 代理公司: 北京同達信恒知識產(chǎn)權代理有限公司11291
• 代理人: 黃志華

技術領域

本發(fā)明涉及電子技術領域，尤其涉及一種自動化測試方法及主控裝置。

背景技術

對電腦、手機及通訊設備類產(chǎn)品的生產(chǎn)廠商來說，都需要在產(chǎn)品出廠前進行大量的測試工作，一方面可以剔除不符合出廠要求的產(chǎn)品，另一方面也能檢測出產(chǎn)品整體的穩(wěn)定性及可靠性。

以比較常見的BIOS測試及穩(wěn)定性測試為例，在測試的過程中，需要測試人員一直守在被測設備前，根據(jù)被測設備顯示器上顯示的測試進程，通過人工在鍵盤上敲入鍵碼，來進行BIOS刷新或重啟等操作，同時測試人員還需要實時觀測被測設備顯示器在測試過程中顯示出的測試結果，并根據(jù)顯示出的測試結果進行測試是否通過的判斷。

但本申請發(fā)明人在實現(xiàn)本申請實施例中發(fā)明技術方案的過程中，發(fā)現(xiàn)上述技術至少存在如下技術問題：

采用上述人工測試方法，由于整個測試過程中存在較多的人工按鍵操作，且需要測試人員實時判斷測試是否通過，故測試人員必須一直守在被測儀器旁，造成很大的人力和時間占用，即現(xiàn)有技術中的測試方法存在自動化水平低，效率低下的技術問題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實施例通過提供一種自動化測試方法及主控裝置，解決了現(xiàn)有技術中的測試方法存在自動化水平低，效率低下的技術問題，實現(xiàn)了自動進行測試的技術效果，進而有效提高了測試效率，使得測試所需人力和時間都大大降低。

一方面，本申請實施例提供了如下技術方案：

一種自動化測試方法，應用于主控裝置中，當所述主控裝置與被測設備連接時，包括以下步驟：

基于一測試指令獲取存儲在所述主控裝置的存儲設備中的測試按鍵信息，并將所述測試按鍵信息轉換為標準鍵盤掃描碼；

輸出所述標準鍵盤掃描碼到所述被測設備，以使所述被測設備進入測試狀態(tài)；

獲得并存儲所述被測設備進入所述測試狀態(tài)后生成的測試結果。

可選的，所述基于一測試指令獲取存儲在所述主控裝置的存儲設備中的測試按鍵信息之前，所述方法進一步包括：通過響應基于所述主控裝置上預設的輸入界面而進行的至少一個輸入操作，而獲得N個所述測試按鍵信息，其中，所述N為正整數(shù)；并依照第一順序在所述存儲設備中對應存儲所述N個所述測試按鍵信息，其中，所述第一順序為，使所述被測設備進入測試狀態(tài)后，需要獲取并轉換所述N個所述測試按鍵信息的順序。

可選的，所述基于一測試指令獲取存儲在所述主控裝置的存儲設備中的測試按鍵信息，具體為：基于所述測試指令中預設的M個獲取時間點，依照所述第一順序，從所述存儲設備中獲取所述N個所述測試按鍵信息，其中，所述M為與所述N相等的正整數(shù)，其中，所述M個獲取時間點具體為，使所述被測設備進入測試狀態(tài)后，需要獲取并轉換所述N個所述測試按鍵信息的M個時間點。

可選的，所述測試按鍵信息包括：單獨鍵碼、組合鍵碼或每次按鍵持續(xù)的時長中的一種或多種的組合。

可選的，所述將所述測試按鍵信息轉換為標準鍵盤掃描碼，具體為：將所述測試按鍵信息翻譯轉換為與所述被測設備的鍵盤輸出格式相同的，能夠被所述被測設備識別的標準鍵盤掃描碼。

可選的，所述獲得并存儲所述被測設備進入所述測試狀態(tài)后生成的測試結果，具體為：基于所述測試指令中預設的拍攝時間點，拍攝或錄制所述被測設備的屏幕圖像，根據(jù)所述屏幕圖像獲得并存儲所述測試結果。

可選的，在所述獲得并存儲所述被測設備進入所述測試狀態(tài)后生成的測試結果之后，所述方法還包括：在獲得用于輸出所述測試結果的一觸發(fā)信息后，基于所述觸發(fā)信息，輸出所述測試結果。

另一方面，本申請實施例還提供了一種主控裝置，能夠與被測設備連接，包括：

鍵盤按鍵模擬器，用于基于一測試指令獲取存儲在所述主控裝置中的測試按鍵信息，并將所述測試按鍵信息轉換為標準鍵盤掃描碼；輸出所述標準鍵盤掃描碼到所述被測設備，以使所述被測設備進入測試狀態(tài)；

主控模塊，用于獲得并存儲所述被測設備進入所述測試狀態(tài)后生成的測試結果。

可選的，所述主控模塊還用于，通過響應基于所述主控裝置上預設的輸入界面而進行的至少一個輸入操作，而獲得N個所述測試按鍵信息，其中，所述N為正整數(shù)，并依照第一順序對應存儲所述N個所述測試按鍵信息，其中，所述第一順序為，使所述被測設備進入測試狀態(tài)后，需要獲取并轉換所述N個所述測試按鍵信息的順序。