[發(fā)明專利]一種絕緣電阻的測試裝置及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310215151.4
• 申請日: 2013-05-31
• 公開（公告）號: CN103293386A
• 公開（公告）日: 2013-09-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 屈汝祥;劉成強(qiáng);王為
• 申請（專利權(quán)）人: 湖北三江航天紅峰控制有限公司
• 主分類號: G01R27/14
• 分類號: G01R27/14
• 代理公司: 華中科技大學(xué)專利中心 42201
• 代理人: 朱仁玲

1.一種絕緣電阻的測試裝置，其特征在于，包括：標(biāo)準(zhǔn)電阻，第一運(yùn)算放大器、第二運(yùn)算放大器，第一電阻、第二電阻、第三電阻和第四電阻；

所述第一運(yùn)算放大器的反相輸入端通過所述標(biāo)準(zhǔn)電阻連接至基準(zhǔn)電壓，所述第一運(yùn)算放大器的正相輸入端接地；所述第一運(yùn)算放大器的輸出端通過第三電阻連接至所述第二運(yùn)算放大器的反相輸入端；

所述第二運(yùn)算放大器的正相輸入端接地，所述第二運(yùn)算放大器的輸出端用于連接AD芯片；

所述第一電阻連接在所述第一運(yùn)算放大器的輸出端與反相輸入端之間；所述第四電阻連接在所述第二運(yùn)算放大器的輸出端與反相輸入端之間；所述第二電阻連接在所述第二運(yùn)算放大器的反相輸入端與所述基準(zhǔn)電壓之間；

測試時(shí)，將待測電阻并聯(lián)接入所述標(biāo)準(zhǔn)電阻的兩端，通過測量所述第二運(yùn)算放大器的輸出電壓得到所述待測電阻的阻值。

2.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述待測電阻與所述第二運(yùn)算放大器的輸出電壓VO2之間的關(guān)系式為：Rx＝Vref×R0×R5/(VO2×R4)，Rx為待測電阻的阻值，Vref為基準(zhǔn)電壓，R0為標(biāo)準(zhǔn)電阻的阻值，R5為第四電阻的阻值，R4為第三電阻的阻值。

3.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述第二電阻的阻值與所述第三電阻的阻值相等。

4.如權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述基準(zhǔn)電壓由電壓基準(zhǔn)源產(chǎn)生。

5.一種基于權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的測試裝置的測試方法，其特征在于，包括下述步驟：

將待測電阻并聯(lián)接入至標(biāo)準(zhǔn)電阻的兩端；

測量第二運(yùn)算放大器的輸出電壓；

根據(jù)所述輸出電壓獲得所述待測電阻的阻值。

6.如權(quán)利要求5所述的測試方法，其特征在于，當(dāng)?shù)谝浑娮璧淖柚档扔跇?biāo)準(zhǔn)電阻的阻值時(shí)，根據(jù)計(jì)算公式Rx＝Vref×R0×R5/(VO2×R4)和測量的輸出電壓VO2獲得待測電阻的阻值Rx；Vref為基準(zhǔn)電壓，R0為標(biāo)準(zhǔn)電阻的阻值，R5為第四電阻的阻值，R4為第三電阻的阻值。