[發(fā)明專利]一種基于參數(shù)識別與估計的隱寫分析方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310214534.X
• 申請日: 2013-05-31
• 公開（公告）號: CN103310235A
• 公開（公告）日: 2013-09-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙險峰;張紀宇;安寧鈺;夏冰冰;周楠
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學院信息工程研究所
• 主分類號: G06K9/66
• 分類號: G06K9/66;G06T1/00
• 代理公司: 北京君尚知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11200
• 代理人: 余長江

1.一種基于參數(shù)識別與估計的隱寫分析方法，其步驟為：

1）建立一隱寫配置方案知識庫；其中，每一配置方案包括一隱寫分析分類器的配置參數(shù)F_i以及獲得所述配置參數(shù)F_i所用訓練樣本的屬性參數(shù)向量Tⁱ；

2）對待檢測對象，首先確定其屬性參數(shù)向量P；

3）將該待測對象的屬性參數(shù)向量P與所述隱寫配置方案知識庫中每一配置方案的屬性參數(shù)向量Tⁱ進行相似度計算，得到一相似度度量指標；

4）選擇相似性度量指標最大的配置方案所對應(yīng)的隱寫分析分類器參數(shù)配置，作為隱寫分析分類器中的相應(yīng)參數(shù)，對該待測對象進行隱寫分析，判斷其是否為含有隱寫信息的隱文樣本。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述相似度度量指標為屬性參數(shù)向量P與屬性參數(shù)向量Tⁱ的距離。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于首先分別對每一配置方案中的所述屬性參數(shù)向量Tⁱ進行歸一化處理，對該待測對象的屬性參數(shù)向量P進行歸一化處理；然后計算所述相似度度量指標。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于所述隱寫配置方案知識庫包括m個配置方案，每一配置方案中的屬性參數(shù)向量Tⁱ均為n維向量；即，i∈{1,2,…,m}，為第i個屬性參數(shù)向量Tⁱ中的第j個特征維度。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于根據(jù)公式計算屬性參數(shù)向量P與每一屬性參數(shù)向量Tⁱ的相似度，得到所述相似度度量指標的值；其中，D(Tⁱ,P)表示待測對象與第i個配置方案的屬性參數(shù)向量Tⁱ之間的距離，α_k表示屬性參數(shù)向量P歸一化處理后的第k個參數(shù)，表示屬性參數(shù)向量Tⁱ經(jīng)過歸一化處理后的第k個參數(shù)，w_k表示第k個參數(shù)在計算加權(quán)距離和的時候所占的比重。

6.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于根據(jù)公式計算屬性參數(shù)向量P與每一屬性參數(shù)向量Tⁱ的相似度，得到d維空間下的歐氏距離作為所述相似度度量指標的值；其中，D(Tⁱ,P)表示待測對象與第i個配置方案的屬性參數(shù)向量Tⁱ之間的距離，α_k表示屬性參數(shù)向量P歸一化處理后的第k個參數(shù)，表示屬性參數(shù)向量Tⁱ經(jīng)過歸一化處理后的第k個參數(shù)，w_k表示第k個參數(shù)在計算加權(quán)距離和的時候所占的比重。