[發明專利]低霧度透明導電電極有效
| 申請號: | 201310214517.6 | 申請日: | 2013-06-01 |
| 公開(公告)號: | CN103377756A | 公開(公告)日: | 2013-10-30 |
| 發明(設計)人: | 潘克菲 | 申請(專利權)人: | 蘇州諾菲納米科技有限公司 |
| 主分類號: | H01B5/14 | 分類號: | H01B5/14;G06F3/041 |
| 代理公司: | 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 楊林潔 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇州市工*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 低霧度 透明 導電 電極 | ||
1.一種低霧度透明導電電極薄膜,包括:
基板,其折射率為n_sub;
單透明導電層,其包括沉積于基板上部的金屬納米線;及
折射率匹配層,其包括折射率為n_in的各向異性層;
其中,n_in的值大于1并小于n_sub,且所述低霧度透明導電電極薄膜的硬度大于1H,波長為400-800納米之間時光線透光率大于80%,且其表面電阻小于350歐/平方。
2.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中n_in的值介于1.1至1.5之間。
3.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中n_sub的值為范圍1.2至2.25之間。
4.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中折射率匹配層的厚度為約100-200納米。
5.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中其中透明導電電極薄膜的硬度大于3H。
6.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中透明導電電極薄膜的霧度小于1.0。
7.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中表面電阻小于100歐/平方。
8.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中薄膜的表面粗糙度小于50納米。
9.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中薄膜的納米多孔表面的孔徑小于25納米。
10.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中折射率匹配層包含選自由金、銀、銅、鉑及鋁組成的組的一種或多種導電材料。
11.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中折射率匹配層包括選自由鉻、銦、錫、鋅及鎵的氧化物組成的組的一種或多種半導體材料。
12.如權利要求1所述的低霧度透明導電電極薄膜,其特征在于:其中折射率匹配層包括選自由二氧化硅、硅酸鹽、二氧化鈦、聚氨酯、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、聚乙烯醇(PVA)及聚硅酮組成的組中的一種或多種非導體材料。
13.如權利要求1所述的電極,其特征在于:其中基板為塑料薄膜,其由聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)、聚碳酸酯、環-烯烴聚合物(COP)或環-烯烴共聚物(COC)、或其組合、或其共聚物構成。
14.如權利要求1所述的電極,其特征在于:其中單導電材料層包括導電或半導體金屬氧化物,其選自摻氟錫氧化物(FTO)、銦錫氧化物(ITO)、摻鋁鋅氧化物(AZO)、摻鎵鋅氧化物(GZO)、摻硼鋅氧化物(BZO)。
15.如權利要求1所述的電極,其特征在于:其中網格中納米線的線徑范圍為10納米至1微米。
16.如權利要求1所述的電極,其特征在于:其中網格中納米線的線徑范圍為10納米至50納米。
17.如權利要求1所述的電極,其特征在于:其中薄膜的硬度大于1H。
18.如權利要求1所述的電極,其特征在于:其中薄膜的表面粗糙度小于50納米。
19.如權利要求1所述的電極,其特征在于:其中金屬納米線包括銀納米線。
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