[發明專利]一種吸波材料電磁參數的同軸測試裝置及自動測試方法

無效

• 申請號: 201310214004.5
• 申請日: 2013-05-31
• 公開（公告）號: CN103293418A
• 公開（公告）日: 2013-09-11
• 發明（設計）人: 江智淵;余明;肖芬;陳先言;闕永祥;劉星;林媛
• 申請（專利權）人: 廈門大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 廈門南強之路專利事務所(普通合伙) 35200
• 代理人: 馬應森

1.一種吸波材料電磁參數的同軸測試裝置，其特征在于設有微波矢量網絡分析儀、同軸測試夾具、輸入同軸電纜、輸出同軸電纜、GPIB數據采集卡和計算機；所述輸入同軸電纜的輸入端接微波矢量網絡分析儀的微波信號輸出端口，輸入同軸電纜的輸出端接同軸測試夾具的SMA輸入端；輸出同軸電纜的輸入端接同軸測試夾具的SMA輸出端，輸出同軸電纜的輸出端接微波矢量網絡分析儀微波測試信號輸入端口；GPIB數據采集卡輸入端接微波矢量網絡分析儀的數據輸出端，GPIB數據采集卡輸出端接計算機；所述同軸測試夾具設有N型同軸外導體、N型同軸內導體、SMA連接底座、SMA接頭、內六角螺栓和螺絲；N型同軸外導體與N型同軸內導體構成50Ω同軸測試傳輸線，2個SMA連接底座通過內六角螺栓鎖至同軸測試傳輸線，所述SMA接頭通過螺絲鎖至SMA連接底座左右兩端，兩個SMA接頭分別連接同軸輸入電纜和同軸輸出電纜。

2.一種吸波材料電磁參數的自動測試方法，其特征在于采用如權利要求1所述一種吸波材料電磁參數的同軸測試裝置，所述方法包括以下步驟：

1）將吸波樣品用模具加工成圓環狀，所述吸波樣品的厚度為2～4mm；

2）將圓環狀吸波樣品放入同軸測試夾具最左端面；

3）搭建連接好吸波材料電磁參數的同軸測試裝置；

4）通過計算機上相應的測試軟件自動采集吸波材料電磁參數的數據；

5）自動計算、顯示和保存吸波樣品的電磁參數的掃頻測試結果。