[發明專利]一種全二維氣相色譜調制器在審
| 申請號: | 201310213866.6 | 申請日: | 2013-06-03 |
| 公開(公告)號: | CN103323545A | 公開(公告)日: | 2013-09-25 |
| 發明(設計)人: | 李選培 | 申請(專利權)人: | 北京東西分析儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01N30/02 | 分類號: | G01N30/02;G01N30/30 |
| 代理公司: | 北京神州華茂知識產權有限公司 11358 | 代理人: | 吳照幸 |
| 地址: | 102300 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 二維 色譜 調制器 | ||
技術領域
本發明涉及一種氣相色譜冷熱調制器,具體涉及一種具有高分辨、高靈敏度、高峰容量等優勢的全二維氣相色譜冷熱調制器。
背景技術
多維色譜分離技術是迄今為止能夠提供最高分辨率的分離技術,它的出現是氣相色譜技術的一次新的飛躍,已成為解決復雜體系分離分析的高效技術,而全二維氣相色譜技術日益成為復雜化合物的高效分析方法,但傳統的全二維氣相色譜冷熱調制器具有不少缺陷:首先,冷熱噴出的氣體直接擴散到柱溫箱中影響了柱溫箱的溫控控制精度,加大了分析誤差;熱調制的加熱氣體同樣分散在柱溫箱中降低了熱解析速度及分析靈敏度;經常使用分析柱的一段作為聚焦環,雖然結構簡單但使用性能變差。
隨著科學技術的高速發展和工業水平的不斷提高,全二維氣相色譜技術也被許多行業和領域廣泛采用,對全二維氣相色譜調制器的要求也越來越高,因此,一種具有可以有效聚焦,高靈敏度,重現性好,信號響應一致,動態監測范圍寬,操作簡便的全二維氣相色譜調制器成為必然趨勢。
發明內容
本發明的目的是提供一種不影響柱溫箱的溫控控制精度,不影響分析誤差,不降低熱解析速度及分析靈敏度,提高分析效率的高精度全二維氣相色譜調制器。
為了達到上述目的,本發明有如下技術方案:
一種全二維氣相色譜調制器,包括一聚焦環,所述聚焦環設有左端口、右端口和下端口,其中,左端口分別連接有冷氣吹入管道一、熱氣吹入管道一、色譜柱一,右端口分別連接有冷氣吹入管道二、熱氣吹入管道二,色譜柱二,所述下端口連接一氣體出口管道。
其中,所述聚焦環為空心毛細管。
其中,所述聚焦環外設有一封閉狀的環管室,所述環管室為不銹鋼管。
其中,所述環管室的內徑略大于聚焦環外環直徑。
其中,所述環管室外設有一小柱箱。
其中,所述冷氣吹入管道一、熱氣吹入管道一、冷氣吹入管道二、熱氣吹入管道二上分別設有獨立的電磁閥,分別為電磁閥一、電磁閥二、電磁閥三、電磁閥四,其中,所述熱氣吹入管道一、熱氣吹入管道二上還設有加熱器。
由于采取了以上技術方案,本發明的優點在于:
1、本發明靈敏度高,重現性好,信號響應一致,動態監測范圍寬。
2、環管室內可通入制冷、制熱氣體,這些氣體同時排出柱箱外不影響柱箱溫度控制。
3、本發明中聚焦環的內徑和長度均可根據需要設計,發生損壞易于更換。
4、本發明操作簡便,可供不同行業和領域研究人員使用。
附圖說明
圖1為本發明結構示意圖;
圖2為本發明聚焦環的結構示意圖。
其中:1、聚焦環?2、環管室?3、小柱箱?4、色譜柱一?5、色譜柱二6、柱箱?7、加熱器?8、氣體出口管道?9、電磁閥四?10、電磁閥一?11、電磁閥三?12、電磁閥二?13、熱氣吹入管道二?14、冷氣吹入管道二?15、冷氣吹入管道一?16、熱氣吹入管道一
具體實施方式
如圖1、2所示,本發明的一種全二維氣相色譜調制器,包括一聚焦環1,聚焦環為一環狀空心毛細管,聚焦環設有左端口、右端口和下端口,其中,左端口分別連接有冷氣吹入管道一15、熱氣吹入管道一16、色譜柱一4,右端口分別連接有冷氣吹入管道二14、熱氣吹入管道二13,色譜柱二5,所述下端口連接一氣體出口管道8,聚焦環1外設有一封閉狀的環管室2,該環管室為不銹鋼管,環管室的內徑略大于聚焦環外環直徑,環管室體積小可實現高速度制冷、制熱,提高分析靈敏度,另外,在環管室外可以設有一小柱箱3,將環管室封閉于內。為了控制便捷,在冷氣吹入管道一15、熱氣吹入管道一16、冷氣吹入管道二14、熱氣吹入管道二13上分別設有獨立的電磁閥,分別為電磁閥一10、電磁閥二12、電磁閥三11、電磁閥四9,其中,熱氣吹入管道一16、熱氣吹入管道二13上還設有加熱器8。
工作原理:電磁閥四9打開制冷氣體(如CO2)通入冷氣吹入管道二14進入環管室1的右半側,使空心毛細管右側快速冷確,同時電磁閥二12打開使加熱氣體經過熱氣吹入管道二13進入聚焦環1左半側,使其加熱,使前一步制冷時聚焦的物質迅速解析進入氣相色譜柱二5(Gas?Chromatography,GC);同理以后電磁閥一10、電磁磁三11相繼打開就使得分析物質在聚焦環內形成聚焦-熱解析-再聚焦-再熱解析的循環。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京東西分析儀器有限公司,未經北京東西分析儀器有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310213866.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





