[發(fā)明專利]聯(lián)合通道校正方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310213446.8 | 申請日: | 2013-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN104218983B | 公開(公告)日: | 2017-11-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 胡召宇 | 申請(專利權(quán))人: | 華為技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H04B7/06 | 分類號: | H04B7/06;H04B7/08;H04L25/02 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11205 | 代理人: | 劉芳 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 聯(lián)合 通道 校正 方法 裝置 | ||
1.一種聯(lián)合通道校正方法,其特征在于,包括:
將校正全帶測試序列進(jìn)行第一階段的M次插值,分別得到M次插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點(diǎn)上的序列值,1≤M<log2 N+1,N為待校正發(fā)送通道的個數(shù);
將M次插值后分別得到的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點(diǎn)上的序列值進(jìn)行合并,得到M次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列;
根據(jù)所述M次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列,確定M次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應(yīng)測試結(jié)果;
若所述M次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應(yīng)測試結(jié)果大于等于預(yù)設(shè)的所述全帶信道響應(yīng)門限值,則根據(jù)所述M次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應(yīng)測試結(jié)果計算每一個待校正發(fā)送通道的補(bǔ)償系數(shù);
若所述M次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應(yīng)測試結(jié)果小于預(yù)設(shè)的所述全帶信道響應(yīng)門限值,則將所述校正全帶測試序列進(jìn)行第二階段的M′次插值,分別得到M′次插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點(diǎn)上的序列值,N≥M+M′≥log2 N+1,M′≥1;
將所述M次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列中對應(yīng)的待校正發(fā)送通道上無插值點(diǎn)的序列值替換為所述M′次插值后的所述校正全帶測試序列中對應(yīng)的待校正發(fā)送通道上插值點(diǎn)的序列值,得到M+M′次插值后所有待校正發(fā)送通道的校正全帶測試序列;
根據(jù)所述M+M′次插值后所有待校正發(fā)送通道的校正全帶測試序列,確定M+M′次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應(yīng)測試結(jié)果,若所述M+M′次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應(yīng)測試結(jié)果大于等于預(yù)設(shè)的所述全帶信道響應(yīng)門限值,則根據(jù)所述M+M′次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應(yīng)測試結(jié)果計算每一個待校正發(fā)送通道的補(bǔ)償系數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,將校正全帶測試序列進(jìn)行第一階段的第M次插值,分別得到M次插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點(diǎn)上的序列值,包括:
根據(jù)插值計算公式:得到第M次插值后的所述校正全帶測試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的插值序列值;當(dāng)k≠Lj,表示在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上無插值點(diǎn),則Si(k)為0;當(dāng)k=Lj,表示在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上有插值點(diǎn),則Si(k)為S(Lj);
其中,k=1,2.....,Len,表示子載波的編號;
Lj=NJ+ji,表示第i個待校正發(fā)送通道上第j個插值點(diǎn)對應(yīng)的子載波編號;
N表示所述待校正發(fā)送通道的個數(shù);
i=1,2......,N,表示所述待校正發(fā)送通道的編號;
J=1,2.....,(Len/N),表示每一個待校正發(fā)送通道的插值點(diǎn)的個數(shù),j≤J;
ji=(N/2M-1+i),(N/2M-1+1+i),......(N+i),i,(1+i),(2+i)....(N/2M-1+i-1),表示偏移值;
M表示第一階段的插值次數(shù),1≤M<log2 N+1;
所述第M次插值后的所述校正全帶測試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的插值序列值包括所述校正全帶測試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的插值點(diǎn)的序列值或無插值點(diǎn)的零值。
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