[發明專利]一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的檢測方法

有效

• 申請號: 201310211747.7
• 申請日: 2013-05-31
• 公開（公告）號: CN103280240A
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 楊獻;謝朝輝;劉海南;蔣見花;黑勇;周玉梅
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G11C29/52
• 分類號: G11C29/52
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 任巖

技術領域

本發明涉及一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的檢測方法，主要是涉及沒有對字線進行分割的該類存儲器。即，只有行譯碼，沒有列譯碼，一行即是一個字。

背景技術

來自宇宙射線中的各種高能粒子以及封裝材料中含有的微量放射性元素都有可能導致存儲器發生比特位的翻轉，尤其是當其能量較強時，可能會發生多比特位的翻轉。因此，有必要對所設計的存儲器進行多位翻轉的檢測，尋找設計缺陷和瓶頸。

目前，由于并沒有開發出針對多比特位翻轉的檢測方法，大部分研究人員主要只關注單比特位的翻轉，通過從SRAM讀回數據去判斷是否發生了單比特位。如果只是簡單按照單比特位錯誤的檢測方法來檢測多比特位錯誤，則會耗費大量的時間以及對實驗儀器提出更高的要求。而本發明則提供了簡單、快速的多比特位檢測方法。

發明內容

(一)要解決的技術問題

為了快速、準確的檢測出多位翻轉在存儲器中所處的位置，本發明提供了一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的檢測方法。

(二)技術方案

為達到上述目的，本發明提供了一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的檢測方法，該方法包括：選擇粒子流速以及測試時間；FPGA板向存儲器注入測試激勵；以及存儲器將反饋得到的數據通過串口回傳到PC機，得到在存儲器中所發生多位翻轉的位置。

上述方案中，所述選擇粒子流速以及測試時間，是讓存儲器讀出一個字的時間遠遠小于存儲器平均被一個粒子擊中的時間，該遠遠小于是小于1000倍以上。

上述方案中，所述FPGA板向存儲器注入測試激勵，包括：將存儲器全地址寫1或0，全地址寫完數據后，開始執行循環讀地址的操作，當FPGA內測試程序檢測到存儲器某個地址上的數據有錯誤出現時，首先FPGA保存該地址形成斷點，將該地址設為地址k，k為自然數；對于字線分割類型的存儲器而言，其版圖上比特位的相鄰位并非是同一個字線上的相鄰位，因此，首先保持行地址不變，列地址依次變化為k2+1，k2+2，讀出上述兩個地址的數據；然后返回斷點地址，保持列地址不變，行地址依次變化為k1+1，k1+2，讀出上述兩個地址的數據；最后檢測上述4個地址的數據是否有新的錯誤存在，如果這四個地址上的錯誤數之和大于等于1，則意味著多位翻轉的發生，FPGA將記錄上述五個地址以及每個地址上的數據，并通過串口把數據回傳到PC機；如果這四個地址上的錯誤數之和等于0，則程序返回到斷點的下一個地址，繼續執行循環讀的操作。

上述方案中，所述在執行循環讀地址的操作時，如果設定的測試時間到達，則結束。

(三)有益效果

本發明針對基于字線分割的存儲器提供了一種多位翻轉的檢測方法，常規的方法是針對存儲器全部地址來尋址，從而定位存儲器發生多位翻轉的位置。而本專利中使用的方法不需要對SRAM采用全部尋址地方式，而只是針對有錯誤出現的地址來進行上下掃描，這樣對于大容量SRAM而言，極大了縮短了定位存儲器發生多位翻轉所在位置。該方法能讓測試人員快速、準確地對多位翻轉進行定位。

附圖說明

圖1是依照本發明實施例的檢測存儲器多位翻轉的示意圖。

圖2是依照本發明實施例的存檢測儲器多位翻轉的方法流程圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合附圖對本發明的原理和特征進行描述，所舉實例只用于解釋本發明，并非用于限定本發明的范圍。

參照圖1和圖2，本發明提供了一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的檢測方法，該方法包括：選擇粒子流速以及測試時間；FPGA板向存儲器注入測試激勵；以及存儲器將反饋得到的數據通過串口回傳到PC機，得到在存儲器中所發生多位翻轉的位置。

其中，所述選擇粒子流速以及測試時間，是讓存儲器的讀出一個字的時間遠遠小于存儲器平均被一個粒子擊中的時間，該遠遠小于是小于1000倍以上。例如存儲器的讀出一個字的時間為10ns，選擇粒子的流速小于10⁵個/s，這樣，平均下來一個周期內(10ns)將不到1/1000個粒子。這樣就可以最大限度保證讀出來的數據只是被一個粒子擊中所引發的錯誤數據，從而避免了在讀出數據的周期內由于多個粒子擊中存儲器造成多位翻轉的假象，觸發誤統計。