[發明專利]一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的顯示方法

無效

• 申請號: 201310211527.4
• 申請日: 2013-05-31
• 公開（公告）號: CN103280243A
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 楊獻;謝朝輝;劉海南;蔣見花;黑勇;周玉梅
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 任巖

技術領域

本發明涉及一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的顯示方法，主要是涉及有字線分割技術存在的該類存儲器。即，既有行譯碼，又有列譯碼，一行有多個字。

背景技術

來自宇宙射線中的各種高能粒子以及封裝材料中含有的微量放射性元素，都有可能導致存儲器發生比特位的翻轉，尤其是當其能量較強時，可能會發生多比特位的翻轉。因此，有必要對所設計的存儲器進行多位翻轉的檢測，尋找設計缺陷和瓶頸。

對于基于字線分割的存儲器而言，其比特位的版圖相鄰位并非是同一個字中的相鄰位。而且，該類存儲器容量往往較大，如果把所有的數據都讀出來檢測判斷，則會浪費上線寶貴的機時，同時對系統的傳輸帶寬也會帶來很高的要求。如果實驗前不能全面考慮測試時所發生的相關問題，則會導致實驗測試數據意義不大甚至無效。如果能根據實驗現象實時調整測試方案則能讓測試變得更有意義，由此，需要一套能動態實時顯示存儲器多位翻轉的測試方案才能讓測試人員更為清晰的了解存儲器哪些比特位更加脆弱，更容易發生多位翻轉。但目前還沒有相關的解決方案。

本發明則提供了一種簡單、快速解決的方案，能讓測試人員實時、直觀的了解到所發生多位翻轉的位置，以及哪些位發生了翻轉。

發明內容

(一)要解決的技術問題

為了快速、準確的顯示出多位翻轉在存儲器中所處的位置，本發明提供了一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的顯示方法。

(二)技術方案

為達到上述目的，本發明提供了一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的顯示方法，包括：選擇粒子流速以及測試時間；FPGA板向存儲器注入測試激勵，存儲器將反饋得到的數據通過串口回傳到PC機；以及在PC機上通過LabView編程實現實時動態圖形界面，顯示存儲器中所發生多位翻轉的位置。

上述方案中，所述選擇粒子流速以及測試時間，是讓存儲器讀出一個字的時間遠遠小于存儲器平均被一個粒子擊中的時間；該遠遠小于是小于1000倍以上。

上述方案中，所述FPGA板向存儲器注入測試激勵，存儲器將反饋得到的數據通過串口回傳到PC機，包括：將存儲器全地址寫1或0，全地址寫完數據后，開始執行循環讀地址的操作，當FPGA內測試程序檢測到存儲器某個地址上的數據有錯誤出現時，首先FPGA保存該地址形成斷點，將該地址設為地址n；然后從該地址開始，對存儲器連續掃描接下來兩個地址：地址n+1及地址n+2，并判斷這三個地址上的錯誤數之和，如果這三個地址上的錯誤數之和大于1，則意味著多位翻轉的發生，FPGA將記錄上述三個地址以及每個地址上的數據，并通過串口把數據回傳到PC機；如果這三個地址上的錯誤數之和等于1，則程序返回到斷點的下一個地址，繼續執行循環讀地址的操作。

上述方案中，所述在PC機上通過LabView編程實現實時動態圖形界面，顯示存儲器中所發生多位翻轉的位置，包括：在PC機上通過LabView編程獲得圖形界面，把回傳的數據實時顯示在該圖形界面上，其中包括存儲器發生多位翻轉的地址和錯誤的原始數據。

上述方案中，所述在執行循環讀地址的操作時，如果設定的測試時間到達，則結束。

(三)有益效果

本發明針對基于字線分割的存儲器提供了一種多位翻轉的顯示方法，常規的方法是針對存儲器全部地址來尋址，從而定位存儲器發生多位翻轉的位置。而本專利中使用的方法不需要對SRAM采用全部尋址地方式，而只是針對有錯誤出現的地址來進行上下掃描，這樣對于大容量SRAM而言，極大了縮短了定位存儲器發生多位翻轉所在位置。同時通過Labview編程形成實時顯示界面，更能讓測試人員實時、直觀地了解多位翻轉所發的位置，便于測試人員及時對實驗進行調整，從而獲得更有價值的實驗數據。

附圖說明

圖1是依照本發明實施例的基于字線分割的存儲器多位翻轉的顯示的示意圖。

圖2是依照本發明實施例的基于字線分割的存儲器多位翻轉的顯示方法的流程圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本發明進一步詳細說明。

如圖1和圖2所示，本發明提供了一種基于字線分割的存儲器多位翻轉的顯示方法，包括：選擇粒子流速以及測試時間；FPGA板向存儲器注入測試激勵，存儲器將反饋得到的數據通過串口回傳到PC機；以及在PC機上通過LabView編程實現實時動態圖形界面，顯示存儲器中所發生多位翻轉的位置。