[發(fā)明專利]塑料焊件內(nèi)部應(yīng)力的快速檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310208780.4
• 申請(qǐng)日: 2013-05-30
• 公開（公告）號(hào): CN103994841A
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 宋毅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 震宇（蕪湖）實(shí)業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): G01L1/00
• 分類號(hào): G01L1/00
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及塑料焊接件的應(yīng)力檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種塑料焊件內(nèi)部應(yīng)力的快速檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

在汽車儀表制備等行業(yè)中，經(jīng)常需要將兩種塑料件焊接在一起。焊接后產(chǎn)品內(nèi)部或多或少存在應(yīng)力，該應(yīng)力的大小直接影響焊接的效果和強(qiáng)度。比如，應(yīng)力過(guò)大或分布不均會(huì)引起爆裂等質(zhì)量問(wèn)題。但是，應(yīng)力在生產(chǎn)過(guò)程中尚無(wú)較好的快速檢測(cè)方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種塑料焊件內(nèi)部應(yīng)力的快速檢測(cè)方法，它具有能夠方便、快速的檢測(cè)塑料焊件的內(nèi)部應(yīng)力大小和分布的特點(diǎn)。

本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：塑料焊件內(nèi)部應(yīng)力的快速檢測(cè)方法，包括以下步驟：

A）利用應(yīng)力檢測(cè)儀檢測(cè)應(yīng)力分布；

B）檢測(cè)應(yīng)力釋放狀況：將焊接后的產(chǎn)品在75~85℃的溫度下烘烤10~20min后，使用噴壺將純度為99.9%的乙醇均勻噴灑在焊接區(qū)域表面，待酒精完全揮發(fā)后，觀察焊接表面是否具有開裂。

所述步驟B）中，焊接后的產(chǎn)品的烘烤溫度為：80℃，烘烤時(shí)間為：15min。

本發(fā)明所具有的優(yōu)點(diǎn)是：能夠方便、快速的檢測(cè)塑料焊件的內(nèi)部應(yīng)力大小和分布。本發(fā)明的塑料焊件內(nèi)部應(yīng)力的快速檢測(cè)方法所用儀器簡(jiǎn)單，且易于掌握，從而能夠較為快速的找出應(yīng)力分布過(guò)大區(qū)域或分布不均勻區(qū)域，保證焊接過(guò)程穩(wěn)定有效。

具體實(shí)施方式

實(shí)施例：塑料焊件內(nèi)部應(yīng)力的快速檢測(cè)方法，包括以下步驟：

A）利用應(yīng)力檢測(cè)儀檢測(cè)應(yīng)力分布。所用的應(yīng)力檢測(cè)儀為常用的應(yīng)力檢測(cè)儀。比如，采用蘇州精創(chuàng)光學(xué)儀器有限公司所制備的高精度玻璃及塑料內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀PA-100型。具體的，將焊接后的產(chǎn)品放置在應(yīng)力檢測(cè)儀內(nèi)，觀察應(yīng)力。一般的，應(yīng)力檢測(cè)儀的顯示器中的黑色陰影代表焊接應(yīng)力，陰影區(qū)域面積代表應(yīng)力分布面積，本發(fā)明中要求黑色陰影寬度不能大于10mm方為合格狀態(tài)。

?B）檢測(cè)應(yīng)力釋放狀況：將焊接后的產(chǎn)品在75~85℃的溫度下烘烤10~20min后，使用噴壺將純度為99.9%的乙醇均勻噴灑在焊接區(qū)域表面，待酒精完全揮發(fā)后，觀察焊接表面是否具有開裂。即，僅當(dāng)焊接表面無(wú)任何開裂現(xiàn)象的方為合格狀態(tài)。

優(yōu)化的，在前述步驟B）中，焊接后的產(chǎn)品的烘烤溫度為：80℃，烘烤時(shí)間為：15min。這樣的烘烤時(shí)間和溫度，在檢測(cè)時(shí)間和檢測(cè)效果上具有較好的平衡。

這樣，通過(guò)前述2個(gè)步驟，能夠快速和方便的檢測(cè)出塑料焊件的內(nèi)部應(yīng)力是否過(guò)大和分布是否均勻。

以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說(shuō)明書內(nèi)容所作的等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。