[發明專利]確定平板X射線圖像探測器中傳感器的幾何偏移的方法

無效

• 申請號: 201310205105.6
• 申請日: 2013-05-29
• 公開（公告）號: CN103445798A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 科薩列夫·魯斯蘭·尼古拉耶維奇
• 申請（專利權）人: NIPK電子封閉式股份有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 北京航忱知識產權代理事務所(普通合伙) 11377
• 代理人: 陳立航;王兵

1.一種利用測試裝置來確定平板X射線圖像探測器中傳感器幾何偏移的方法，所述測試裝置包括邊緣測試裝置，所述探測器具有至少兩個固定在安裝板上的傳感器，所述方法包括：

在所述探測器的工作表面上與所述傳感器之間的間隙相對應地放置至少兩個所述邊緣測試裝置；

將所述測試裝置在X射線下曝光，以獲得所述測試裝置的X射線圖像；

在獲得的所述X射線圖像中，識別與每個所述邊緣測試裝置的邊緣相對應的像素，

利用所述像素，通過目標函數的最小值來確定所述傳感器的幾何偏移。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

為了識別與所述邊緣相對應的所述像素，計算圖像梯度大小；

識別所述圖像梯度大小高于給定閾值的像素；

生成權重因子和像素坐標數據，將像素梯度大小用作所述權重因子。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，使用對所述幾何偏移有附加約束的最小二乘法作為所述目標函數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述測試裝置是能被X射線穿透的基板，所述測試裝置的表面標記有與所述傳感器的對接處相對應的直線，所述直線根據所述傳感器的數量而有一個或多個線段；

在每個所述線段上，以相鄰的所述邊緣測試裝置的邊緣彼此垂直的方式放置至少兩個所述邊緣測試裝置，每個所述邊緣測試裝置的所述邊緣與相應所述線段之間的角度為45度，所述邊緣將所述線段分成相互相等的部分。